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一种直角测量装置制造方法及图纸

技术编号:22133339 阅读:33 留言:0更新日期:2019-09-18 07:31
本发明专利技术提供了一种直角测量装置,涉及直角测量器具技术领域,解决了现有技术直角测量装置仅能进行外直角测量的技术问题。该装置包括底座、第一校准表、立柱、供第一校准表单向伸入的第一定位孔和第一限位件,底座设有第一基准平面,第一基准平面与被测内直角的第一直角面贴合,第一校准表的测杆和第一限位件与被测内直角的第二直角面接触,可测内直角。该装置还包括第二基准平面、第二限位件和供第一校准表从立柱另一方向伸入的第二定位孔,调整测杆的安装方向,使第一基准平面与被测外直角的第一直角面贴合,测杆和第二限位件与被测外直角的第二直角面接触,即可测量外直角。本发明专利技术用于使直角测量装置的使用方式更加多样。

A Right Angle Measuring Device

【技术实现步骤摘要】
一种直角测量装置
本专利技术涉及直角测量器具
,尤其是涉及一种直角测量装置。
技术介绍
现有技术中的直角测量装置,包括底座,还包括支撑柱、至少两个校准表和锁紧螺杆,在底座上表面后部设置有支撑柱,在支撑柱上沿底座长度方向设置有若干个用于安装校准表的通孔,在支撑柱位于通孔的侧面位置处开设有与通孔贯通的锁紧孔,锁紧螺杆穿过锁紧孔将校准表探针锁紧。但是,此通孔为使测量端更好的定位,仅能使校准表的测量端朝向立柱的底座所在的一侧安装,从而使校准表的测量端与底座上表面分别位于同一外直角的相邻面,进行测量。此直角测量装置,仅能够进行外直角的测量。因此,如何解决现有技术中直角测量装置仅能进行外直角测量的技术问题,已成为本领域人员需要解决的重要技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种直角测量装置,解决了现有技术中直角测量装置仅能进行外直角测量的技术问题。本专利技术提供的诸多技术方案中的优选技术方案所能产生的诸多技术效果详见下文阐述。为实现上述目的,本专利技术提供了以下技术方案:本专利技术提供的一种直角测量装置,包括:底座,下部设置有第一基准平面;第一校准表,包括表头和测杆,所述表头端部固定设置有轴套,所述测杆轴向贯穿所述轴套并能够相对于所述轴套滑动;与所述底座垂直设置的立柱,所述底座位于所述立柱第二侧;用于供所述第一校准表的测量端由所述立柱第二侧向所述立柱第一侧单向伸入的第一定位孔,包括沿所述立柱第一侧至所述立柱第二侧方向依次设置的第一孔和第二孔,所述第一孔和所述第二孔相连通并且同轴设置,所述第一孔的孔径小于所述第二孔的孔径,所述第一孔的孔径小于所述轴套的外径,所述轴套与所述第二孔可拆卸连接,所述测杆贯穿所述第一孔并且可相对于所述第一孔轴向滑动;用于支离被测件表面和所述立柱第一侧的表面的第一限位件,设置于所述立柱第一侧下部。优选地,还包括用于供所述第一校准表的测量端由所述立柱第一侧向所述立柱第二侧单向伸入的第二定位孔,所述第二定位孔包括沿所述立柱第一侧至所述立柱第二侧方向依次设置的第三孔和第四孔,所述第三孔和所述第四孔相连通并且同轴设置,所述第三孔的孔径大于所述第四孔的孔径,所述第四孔的孔径小于所述轴套的外径,所述轴套与所述第三孔可拆卸连接,所述测杆贯穿所述第四孔并且可相对于所述第四孔轴向滑动;所述底座上部还设置有第二基准平面,所述第二基准平面靠近所述立柱位置处设置有第二限位件。优选地,所述第一定位孔和所述第二定位孔均设置于所述立柱上,所述立柱侧壁设置有第一锁紧组件,所述第一锁紧组件包括分别与所述第二孔和所述第三孔贯通的第一螺纹孔和第一螺栓,所述第一螺栓一端能够旋入所述第一螺纹孔内抵住所述轴套,所述第一定位孔、所述第二定位孔和所述第一锁紧组件均沿所述立柱的长度方向设置有多个,并且所述第一定位孔与所述第二定位孔交错设置。优选地,所述立柱包括并列设置的第一柱体和第二柱体,所述第一柱体沿自身长度方向设置有导轨和沿所述导轨长度方向移动的滑块,所述导轨和所述滑块位于所述第一柱体和所述第二柱体之间,所述第一定位孔和所述第二定位孔均设置于所述滑块上;所述第二柱体上设置有用于抵紧所述轴套并且限制所述滑块移动第二锁紧组件。优选地,所述第二锁紧组件包括开口沿所述第二柱体长度方向开设的条形通孔、第二螺栓和设置于所述滑块上的第二螺纹孔,所述第二螺纹孔分别与所述第二孔和所述第三孔相贯通,所述第二螺栓第一端贯穿所述条形通孔和第二螺纹孔后抵紧所述轴套,并且所述第二螺栓第二端抵紧所述第二柱体。优选地,所述第一限位件为杆状结构,第一端与所述立柱连接,第二端为尖端。优选地,所述第一限位件与所述立柱可拆卸连接,设置于所述立柱上的供所述第一限位件连接的连接位沿所述立柱长度方向设置有至少两个。优选地,还包括设置于所述第一校准表和所述底座之间的第二校准表。优选地,所述底座的上部和下部沿自身长度方向均设置有凹槽,所述凹槽内均设置有磁铁。优选地,所述底座和所述立柱的材质为硬质金属、陶瓷或大理石。本专利技术提供的直角测量装置,包括底座、第一校准表、立柱、第一定位孔和第一限位件,底座下部设置有第一基准平面,用于与待测内直角的第一直角面贴合;第一校准表,包括表头和测杆,测杆轴向贯穿设置于表头端部的轴套,即可直接锁紧固定轴套,然后手动调节测杆端部抵住待测内直角的第二直角面即可。立柱与底座垂直设置,底座设置在立柱的第二侧,即立柱和底座分别沿与待测内直角的两个直角边平行的方向设置。第一定位孔包括沿立柱第一侧至立柱第二侧方向依次设置的第一孔和第二孔,第一孔用于供测杆贯穿,第二孔用于供轴套伸入,第一孔和第二孔相连通并且同轴设置,第一孔的孔径小于第二孔的孔径,第一孔的孔径小于轴套的外径,轴套与第二孔可拆卸连接,测杆贯穿第一孔并且可相对于第一孔轴向滑动,即轴套与第二孔可拆卸的固定连接,并且轴套仅可伸入第二孔后抵住第二孔与第一孔之间形成的轴肩部,以对轴套的伸入立柱内的深度进行定位,避免轴套沿立柱的第一侧至第二侧的方向移动以及伸入立柱内的深度不定,影响测量精度。测杆贯穿第一孔和第二孔,并且可相对第一孔轴向滑动,测杆运动灵活,便于调整。第一限位件用于支离被测件表面和立柱的第一侧表面,即第一限位件位置固定,无论在直角标准块上校对直角时,还是在量测操作时,都是需要以第一限位件为靠点,第一限位件可视为基准点,与第一校准表的测量端共同抵在待测内直角的第二直角面上,如此设置,使用前,对第一校准表进行调校,即底座的第一基准平面与直角标准块的第一直角面贴合,第一限位件端部抵住直角标准块的第二直角面,第一定位孔固定第一校准表,调整测杆端部抵住直角标准块的第二直角面后,将第一校准表的刻度调至零位。使用时,底座的第一基准平面与待测内直角的第一直角面贴合,第一限位件和测杆端部抵住待测内直角的第二直角面,此时,第一校准表的读数与零位的差值即为待测内直角与标准内直角的偏差值,解决了现有技术中直角测量装置仅能进行外直角测量的技术问题。此外,本专利技术优选技术方案至少还可以产生如下技术效果:本专利技术提供的直角测量装置还包括用于供第一校准表的测量端由立柱第一侧向立柱第二侧单向伸入的第二定位孔,底座上还设置第二基准平面和第二限位件,使用前,对第一校准表进行调校,即底座的第二基准平面与直角标准块的第一直角面贴合,第二限位件抵住直角标准块的第二直角面,第二定位孔固定第一校准表,调整测杆端部抵住直角标准块的第二直角面后,将第一校准表的刻度调至零位。使用时,底座的第二基准平面与待测外直角的第一直角面贴合,测杆端部和第二限位件抵住待测外直角的第二直角面,此时,第一校准表的读数与零位的差值即为待测外直角与标准外直角的偏差值,即调整第一校准表的测杆的安装方向便可达到测内直角和外直角功能的转换,进一步解决了现有技术中直角测量装置仅能进行外直角测量的技术问题。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术实施例提供的直角测量装置仅设置有第一定位孔时的结构示意图;图2是本专利技术实施例提供的直角测量装置均设置有第一定位孔和第本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种直角测量装置,其特征在于,包括:底座(1),下部设置有第一基准平面(101);第一校准表(2),包括表头(201)和测杆(202),所述表头(201)端部固定设置有轴套(203),所述测杆(202)轴向贯穿所述轴套(203)并能够相对于所述轴套(203)滑动;与所述底座(1)垂直设置的立柱(3),所述底座(1)位于所述立柱(3)第二侧;用于供所述第一校准表(2)的测量端由所述立柱(3)第二侧向所述立柱(3)第一侧单向伸入的第一定位孔(6),包括沿所述立柱(3)第一侧至所述立柱(3)第二侧方向依次设置的第一孔(601)和第二孔(602),所述第一孔(601)和所述第二孔(602)相连通并且同轴设置,所述第一孔(601)的孔径小于所述第二孔(602)的孔径,所述第一孔(601)的孔径小于所述轴套(203)的外径,所述轴套(203)与所述第二孔(602)可拆卸连接,所述测杆(202)贯穿所述第一孔(601)并且可相对于所述第一孔(601)轴向滑动;用于支离被测件表面和所述立柱(3)第一侧的表面的第一限位件(5),设置于所述立柱(3)第一侧下部。

【技术特征摘要】
1.一种直角测量装置,其特征在于,包括:底座(1),下部设置有第一基准平面(101);第一校准表(2),包括表头(201)和测杆(202),所述表头(201)端部固定设置有轴套(203),所述测杆(202)轴向贯穿所述轴套(203)并能够相对于所述轴套(203)滑动;与所述底座(1)垂直设置的立柱(3),所述底座(1)位于所述立柱(3)第二侧;用于供所述第一校准表(2)的测量端由所述立柱(3)第二侧向所述立柱(3)第一侧单向伸入的第一定位孔(6),包括沿所述立柱(3)第一侧至所述立柱(3)第二侧方向依次设置的第一孔(601)和第二孔(602),所述第一孔(601)和所述第二孔(602)相连通并且同轴设置,所述第一孔(601)的孔径小于所述第二孔(602)的孔径,所述第一孔(601)的孔径小于所述轴套(203)的外径,所述轴套(203)与所述第二孔(602)可拆卸连接,所述测杆(202)贯穿所述第一孔(601)并且可相对于所述第一孔(601)轴向滑动;用于支离被测件表面和所述立柱(3)第一侧的表面的第一限位件(5),设置于所述立柱(3)第一侧下部。2.根据权利要求1所述的直角测量装置,其特征在于,还包括用于供所述第一校准表(2)的测量端由所述立柱(3)第一侧向所述立柱(3)第二侧单向伸入的第二定位孔(8),所述第二定位孔(8)包括沿所述立柱(3)第一侧至所述立柱(3)第二侧方向依次设置的第三孔(801)和第四孔(802),所述第三孔(801)和所述第四孔(802)相连通并且同轴设置,所述第三孔(801)的孔径大于所述第四孔(802)的孔径,所述第四孔(802)的孔径小于所述轴套(203)的外径,所述轴套(203)与所述第三孔(801)可拆卸连接,所述测杆(202)贯穿所述第四孔(802)并且可相对于所述第四孔(802)轴向滑动;所述底座(1)上部还设置有第二基准平面(102),所述第二基准平面(102)靠近所述立柱(3)位置处设置有第二限位件(7)。3.根据权利要求2所述的直角测量装置,其特征在于,所述第一定位孔(6)和所述第二定位孔(8)均设置于所述立柱(3)上,所述立柱(3)侧壁设置有第一锁紧组件(4),所述第一锁紧组件(4)包括分别与所...

【专利技术属性】
技术研发人员:王磊
申请(专利权)人:王坤
类型:发明
国别省市:江苏,32

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