多层膜及其制造方法技术

本发明专利技术涉及多层膜及其制造方法。所述多层膜具备基材膜、和设置于所述基材膜上的含有粒子的树脂层，其中，所述树脂层的厚度为10nm以上且100nm以下，所述树脂层在与所述基材膜相反侧的面具有多个突起，在将所述突起中的高度5nm、10nm、15nm、20nm、25nm、30nm的突起在每1mm

Multilayer Film and Its Manufacturing Method

【技术实现步骤摘要】
多层膜及其制造方法本申请是申请号为201580005876.8的专利技术专利申请的分案申请，原申请的申请日为2015年3月24日，专利技术名称为“多层膜及其制造方法”。
本专利技术涉及多层膜及其制造方法。
技术介绍
现有技术中已知有具备多个层的多层膜(参照专利文献1和2)。这样的多层膜能够实现组合了各层所具有的特性而得到的多种功能，因而已被应用于广泛用途。例如，在用于液晶显示装置、有机EL显示装置、等离子体显示器等各种图像显示装置的光学膜中，也有时会使用多层膜。从提高制造效率的观点出发，如上所述的多层膜多被制造成长条的膜的形式。此外，这样的长条的多层膜一般被卷取成膜卷，并以该膜卷的状态被保存及搬运。进一步，还已知有诸如专利文献3这样的技术。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2000-79664号公报专利文献2：日本特开2010-264643号公报专利文献3：日本特开平8-73623号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题在将长条多层膜卷取而制造的膜卷中，有些情况下会产生被称作“凸点”的、宽度1mm～3mm左右的凸状的缺陷。如果如上所述的凸状的缺陷被转印到多层膜，则在被转印的部分，多层膜会发生变形，存在损害该部分的光学特性的可能性。此外，因为该缺陷不是在将多层膜卷取前产生、而是在膜卷制造后产生的，所以通过在多层膜的生产线上进行检查是难以检出的。而且，如果想要在膜卷制造后检出上述缺陷，则需要从膜卷陆续送出多层膜而进行检查，因此为了将陆续送出的多层膜再次卷取而需要耗时耗力。因此，很难在保持膜卷状态的情况下筛选出没有上述缺陷的膜卷。鉴于这样的背景，要求开发出在制成膜卷的情况下能够抑制上述缺陷发生的多层膜。此外，在例如相位差膜等这样的光学膜中，一般要求内部雾度小。这样的对内部雾度小的要求在该光学膜为多层膜的情况下也是同样的。因此，对于如上所述地在制成膜卷的情况下能够抑制凸状缺陷的发生的多层膜，还要求能够减小其内部雾度。本专利技术鉴于上述问题而完成，目的在于提供：在卷取而制成膜卷的情况下能够抑制上述凸状缺陷的发生、且能够减小内部雾度的多层膜及其制造方法。解决问题的方法本专利技术人为解决上述问题进行了深入研究，结果发现：在具备基材膜和包含粒子的树脂层的多层膜中，在树脂层的与基材膜相反侧的面以给定的规律性具有高度不同的突起的多层膜，在将该多层膜制成膜卷时，能够抑制凸状缺陷的发生，并且能够减小多层膜的内部雾度。从而完成了本专利技术。即，本专利技术如下。[1]一种多层膜，其具备基材膜、和设置于所述基材膜上的含有粒子的树脂层；所述树脂层的与所述基材膜相反侧的面具有多个突起，在将所述突起中的(a)高度5nm的突起在每1mm2上的数量设为NA个/mm2、(b)高度10nm的突起在每1mm2上的数量设为NB个/mm2、(c)高度15nm的突起在每1mm2上的数量设为NC个/mm2、(d)高度20nm的突起在每1mm2上的数量设为ND个/mm2、(e)高度25nm的突起在每1mm2上的数量设为NE个/mm2、(f)高度30nm的突起在每1mm2上的数量设为NF个/mm2时，以G＝NA/NF表示的值G为3.5≤G≤7，并且，NB≥NC≥ND≥NE≥NF。[2]根据[1]所述的多层膜，其中，所述树脂层包含聚合物，所述聚合物包含聚氨酯。[3]根据[1]或[2]所述的多层膜，其中，所述粒子包含平均粒径不同的多种粒子。[4]根据[3]所述的多层膜，其中，所述粒子包含具有小于150nm的平均粒径的粒子(S)、和具有150nm以上的平均粒径的粒子(L)。[5]根据[1]所述的多层膜，其中，所述树脂层包含聚合物，所述粒子包含具有小于150nm的平均粒径的粒子(S)、和具有150nm以上的平均粒径的粒子(L)，所述树脂层中的所述粒子(S)的量相对于所述聚合物100重量份，为2重量份以上且24重量份以下。[6]根据[1]所述的多层膜，其中，所述树脂层包含聚合物，所述粒子包含具有小于150nm的平均粒径的粒子(S)、和具有150nm以上的平均粒径的粒子(L)，所述树脂层中的所述粒子(L)的量相对于所述聚合物100重量份，为5重量份以上且20重量份以下。[7]根据[1]～[6]中任一项所述的多层膜，其中，所述粒子为二氧化硅。[8]根据[1]～[7]中任一项所述的多层膜，其中，所述树脂层的厚度为10nm以上且100nm以下。[9]根据[1]～[8]中任一项所述的多层膜，其中，所述多层膜为相位差膜。[10]根据[1]～[8]中任一项所述的多层膜，其中，所述多层膜为偏振片保护膜。[11]一种多层膜的制造方法，其是[1]～[10]中任一项所述的多层膜的制造方法，其中，该制造方法包括：将聚合物以及平均粒径不同的多种粒子混合而得到流体状的树脂的工序；将流体状的所述树脂涂布于基材膜上而形成所述树脂的膜的工序；以及使形成于基材膜上的所述树脂的膜固化和/或干燥而得到树脂层的工序。[12]根据[11]所述的多层膜的制造方法，其中，所述粒子包含具有小于150nm的平均粒径的粒子(S)、和具有150nm以上的平均粒径的粒子(L)。专利技术的效果本专利技术的多层膜在卷取而制成膜卷的情况下能够抑制凸状缺陷的发生，并且能够减小内部雾度。根据本专利技术的多层膜的制造方法，能够制造在卷取而制成膜卷的情况下能够抑制凸状缺陷的发生、且能够减小内部雾度的多层膜。附图说明[图1]图1为剖视图，示意性地示出了本专利技术的一个实施方式涉及的多层膜的一例。[图2]图2为主视图，示意性地示出了在传统的膜卷中，因膜的粘固而产生皱纹的情形的一例。[图3]图3为针对满足3.5≤G≤7、及NB≥NC≥ND≥NE≥NF的条件的多层膜的一例的，以突起的高度为横轴、以突起的数量为纵轴的分布图。符号说明100多层膜110基材膜111基材膜的与树脂层相反侧的面120树脂层121树脂层的与基材膜相反侧的面122突起200膜卷210皱纹220卷取轴230凹陷具体实施方式以下，结合实施方式及示例物对本专利技术进行详细说明，但本专利技术并不限定于以下所示的实施方式及示例物等，可以在不脱离本专利技术的权利要求书及其等同范围的范围内任意地变更来实施。在以下的说明中，“(甲基)丙烯酸”包含丙烯酸及甲基丙烯酸两者。另外，“(甲基)丙烯酸酯”包含丙烯酸酯和甲基丙烯酸酯两者。在以下的说明中，“(共)聚合物”包含聚合物及共聚物两者。另外，在以下的说明中，粒子的平均粒径只要没有特别限定，则采用通过激光衍射法测定粒径分布、在所测定的粒径分布中从小粒径侧起计算的累积体积达到50％的粒径。在以下的说明中，膜的面内方向的延迟只要没有特别限定，则为Re＝(nx-ny)×d所表示的值。此外，膜的厚度方向的延迟Rth为Rth＝{(nx+ny)/2-nz}×d所表示的值。在此，nx表示在与膜的厚度方向垂直的方向(面内方向)中、给出最大折射率的方向的折射率。ny表示在膜的所述面内方向中、与nx的方向垂直的方向的折射率。nz表示膜的厚度方向的折射率。d表示膜的膜厚。只要没有特别限定，所述延迟的测定波长为550nm。所述延迟可使用市售的相位差测定装置(例如，王子计测机器公司制，“KOBRA-21ADH”)或Senarmont(赛纳蒙)法来测定。另外，“偏振片”不仅包括刚直的构件，还包括例如像树脂制的膜那样的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多层膜，其具备：基材膜、和设置于所述基材膜上的含有粒子的树脂层，其中，所述树脂层的厚度为10nm以上且100nm以下，所述树脂层在与所述基材膜相反侧的面具有多个突起，在将所述突起中的(a)高度5nm的突起在每1mm

【技术特征摘要】
2014.03.26 JP 2014-0636861.一种多层膜，其具备：基材膜、和设置于所述基材膜上的含有粒子的树脂层，其中，所述树脂层的厚度为10nm以上且100nm以下，所述树脂层在与所述基材膜相反侧的面具有多个突起，在将所述突起中的(a)高度5nm的突起在每1mm2上的数量设为NA个/mm2、(b)高度10nm的突起在每1mm2上的数量设为NB个/mm2、(c)高度15nm的突起在每1mm2上的数量设为NC个/mm2、(d)高度20nm的突起在每1mm2上的数量设为ND个/mm2、(e)高度25nm的突起在每1mm2上的数量设为NE个/mm2、(f)高度30nm的突起在每1mm2上的数量设为NF个/mm2时，以G＝NA/NF表示的值G为3.5≤G≤7，并且，NB≥NC≥ND≥NE≥NF。2.根据权利要求1所述的多层膜，其中，所述树脂层包含聚合物，所述聚合物包含聚氨酯。3.根据权利要求1或2所述的多层膜，其中，所述粒子包含平均粒径不同的多种粒子。4.根据权利要求3所述的多层膜，其中，所述粒子包含：具有小于150nm的平均粒径的粒子(S)、和具有150nm以上的平均粒径的粒子(L)。5.根据权利要求1所述的多层膜，其中，所述树脂层包含聚合物，所述粒子包含：具有小于150nm的平均粒径的粒子(S)、和具有150nm以上的平均粒径的粒子(L)，所述树脂层中的所述粒子(S)的量相对于所述聚合物100重量份为2重量份以上且...

【专利技术属性】
技术研发人员：村田直纪，
申请(专利权)人：日本瑞翁株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP