【技术实现步骤摘要】
激光超声模量测量装置
本专利技术涉及测量
，具体地，涉及一种激光超声模量测量装置，即一种基于激光超声原理实现模量测量的装置，特别是微区模量测量的装置。
技术介绍
近年来，对激光超声检测技术的关注度不断升温，激光超声检测技术可被用于航空、航天、核电等领域材料的无损检测。在国内，同济大学、北京工业大学、中航301所失效分析检测中心、国防科学技术大学等无损检测相关研究中心建立有激光超声检测系统，用于材料无损探伤研究。然而，现有的检测一方面局限于无损探伤，一方面对样品的形状和尺寸要求严格，例如对于小尺寸样品(样品尺寸远小于压电探头)、不规则形状(如曲面)样品等的检测具有一定难度。因此，激光超声检测技术的应用具有一定的局限性。
技术实现思路
本专利技术的目的在于至少部分地克服现有技术的缺陷，提供一种能够进行材料的模量检测的激光超声模量测量装置。本专利技术的目的还在于提供一种激光超声模量测量装置，对材料的形状和尺寸要求较低。本专利技术的目的还在于提供一种可以实现微区的模量检测的激光超声模量测量装置。本专利技术的目的还在于提供一种对材料表面不会形成可见的损伤痕迹的激光超声模量...
【技术保护点】
1.一种激光超声模量测量装置，用于测量材料(11)的模量，其特征在于，所述激光超声模量测量装置包括测试微区放大及成像装置。
【技术特征摘要】
1.一种激光超声模量测量装置，用于测量材料(11)的模量，其特征在于，所述激光超声模量测量装置包括测试微区放大及成像装置。2.根据权利要求1所述的激光超声模量测量装置，其特征在于，所述激光超声模量测量装置包括：激光超声激发器(1)，所述激光超声激发器(1)被配置为向材料(11)发射脉冲激光；和激光超声接收器(9)，所述激光超声接收器(9)被配置为发出探测激光。3.根据权利要求2所述的激光超声模量测量装置，其特征在于，所述激光超声模量测量装置包括第一光路和从第一光路分支出的第二光路，并且所述测试微区放大及成像装置包括物镜(2)和摄像头(8)；其中，所述物镜(2)和摄像头(8)同轴设置在第一光路上，并且第一光路还包括第一聚焦透镜(3)、第二聚焦透镜(4)、半透半反镜(5)和第三聚焦透镜(7)，第一聚焦透镜(3)、第二聚焦透镜(4)、半透半反镜(5)和第三聚焦透镜(7)依次设置在物镜(2)和摄像头(8)之间；并且在所述第二光路上设置有所述激光超声接收器(9)和反光镜(6)，并且第二光路在所述半透半反镜(5)处与第一光路汇合。4.根据权利要求3所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：王婉琳，孔淑妍，燕鹏，马雪，虞楠，李高盛，夏海鸿，李怀林，
申请(专利权)人：国家电投集团科学技术研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11
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