【技术实现步骤摘要】
一种低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置及方法
本专利技术涉及集成电路
,尤其涉及一种低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置及方法。
技术介绍
在太空中工作的基于体硅工艺的集成电路容易受空间粒子轰击而产生单粒子瞬态效应,为抑制该单粒子效应,通常会用到不少屏蔽技术,然而屏蔽技术的使用会导致芯片的性能下降或者面积增大等众多问题,以及为了满足对更高集成度、更多功能以及更低功耗集成电路的需求,目前集成电路的特征尺寸和工作电压在不断缩减,导致电路的辐照敏感度也急剧增加,而不同工艺尺寸下均需要根据其工艺特性设计不同抗辐射加固电路。若能够提前测试出相应的单粒子瞬态电流的参数,如幅度大小和持续时间,则可以为后续加固提供具体的参考余量,提前测试出单粒子瞬态参数亦为抑制上述单粒子效应最为合理、有效的方式,因此测试单粒子效应产生的脉冲的宽度幅度和时间是十分必要的。针对单粒子效应脉冲的测试,目前均是基于数字电路延时链的方法,即通过由一条由简单逻辑门组成的长链以及相应的触发器链构成数字电路延时链,使用该数字电路延时链对单粒子效应瞬态脉冲进行测试,但是该类方法需要使用由大量逻辑门组成长链以及 ...
【技术保护点】
1.一种低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置,其特征在于,包括:单粒子瞬态脉冲靶电路模块组(1),用于按照不同辐照条件产生具有不同参数的单粒子瞬态脉冲;压控振荡器(2),用于根据所述单粒子瞬态脉冲靶电路模块组(1)产生的不同脉冲输出不同频率的波形;测试模块(3),用于检测所述压控振荡器(2)的输出波形,输出给波形分析计算模块(4);波形分析计算模块(4),用于接收所述压控振荡器(2)的输出波形进行分析,并根据所述输出波形的波动状态计算出所述单粒子瞬态脉冲的参数输出。
【技术特征摘要】
1.一种低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置,其特征在于,包括:单粒子瞬态脉冲靶电路模块组(1),用于按照不同辐照条件产生具有不同参数的单粒子瞬态脉冲;压控振荡器(2),用于根据所述单粒子瞬态脉冲靶电路模块组(1)产生的不同脉冲输出不同频率的波形;测试模块(3),用于检测所述压控振荡器(2)的输出波形,输出给波形分析计算模块(4);波形分析计算模块(4),用于接收所述压控振荡器(2)的输出波形进行分析,并根据所述输出波形的波动状态计算出所述单粒子瞬态脉冲的参数输出。2.根据权利要求1所述的低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置,其特征在于:所述单粒子瞬态脉冲靶电路模块组(1)在非辐照条件下输出稳定的指定电压值,在辐照条件下根据不同的辐照条件产生具有不同脉宽和幅值的单粒子瞬态脉冲。3.根据权利要求2所述的低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置,其特征在于:所述单粒子瞬态脉冲靶电路模块组(1)包括多个用于产生不同类型脉冲的靶电路,每个所述靶电路中设置有不同宽长比的NMOS管和/或PMOS管,各所述靶电路通过开关控制接入。4.根据权利要求1或2或3所述的低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置,其特征在于:所述压控振荡器(2)为在指定辐照指标下不发生单粒子效应的加固型压控振荡器。5.根据权利要求1或2或3所述的低功耗小型化单粒子瞬态参数测试装置,其特征在于:所述测试模块(3)在非辐照条件下检测并记录所述压控振荡器(2)正常的输出频率,在辐照条件下检测并记录所述压控振荡器(2)输出波形发生变化时刻的波形,以及记录所述压控振荡器(2)恢复正常时的工作频率。6.根据权利要求5所述的低功耗小型...
【专利技术属性】
技术研发人员:郭阳,袁珩洲,胡春媚,陈建军,扈啸,屈婉霞,宋睿强,梁斌,吴振宇,
申请(专利权)人:中国人民解放军国防科技大学,
类型:发明
国别省市:湖南,43
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