一种图卡测试板、镜头解析力测试装置及测试方法制造方法及图纸

技术编号:22005768 阅读:30 留言:0更新日期:2019-08-31 07:00
本发明专利技术实施例提供一种图卡测试板、镜头解析力测试装置及测试方法,涉及镜头检测技术。本发明专利技术实施例提供一种图卡测试板,包括:承载板,所述承载板的表面为柱面;图卡,包括测试图形,所述图卡贴附固定于所述承载板凹陷一侧的表面。本发明专利技术实施例提供一种图卡测试板、镜头解析力测试装置及测试方法,以实现通过图卡测试板的简单设计来反补偿近距离拍摄时镜头的场曲,从而提高镜头解析能力的检测精度。

A Device for Measuring Analytical Force of Graphic Card Test Board and Lens and Its Testing Method

【技术实现步骤摘要】
一种图卡测试板、镜头解析力测试装置及测试方法
本专利技术实施例涉及镜头检测技术,尤其涉及一种图卡测试板、镜头解析力测试装置及测试方法。
技术介绍
镜头解析力的测试一直以来是光学测试领域,尤其在镜头产品质量领域重要的测试技术。镜头解析力是指镜头分辨被摄原物细节的能力。随着镜头的普及,镜头解析能力的检验手段也越来越多。目前市面上主流的检验手段有平面图卡实拍和MTF(调制传递函数)检验,平面图卡实拍指的是测试员读取靶纸图像,根据是否可以分辨清对应空间频率线对的图像来判断镜头解析力,例如要分辨的图像为500线对每毫米,那么这个500线对的图像能够分辨清,则证明镜头合格,如果这个500线对的图像不能够分辨清,则证明镜头不合格,以此表示该待测镜头的解析力。MTF检验是通过机器读取靶纸图像的MTF曲线实现镜头解析力的检测。由于镜头存在场曲,导致对镜头解析能力判断不准确。这是本领域技术人员待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种图卡测试板、镜头解析力测试装置及测试方法,以实现通过图卡测试板的简单设计来反补偿近距离拍摄时镜头的场曲,从而提高镜头解析能力的检测精度。第一方面,本专利技术实施例提供一种图卡测试板,包括:承载板,所述承载板的表面为柱面;图卡,包括测试图形,所述图卡贴附固定于所述承载板凹陷一侧的表面。可选地,所述柱面为圆柱面。可选地,所述柱面的准线为椭圆、抛物线或者双曲线。可选地,所述测试图形包括多条平行设置的黑色线条和白色线条,所述黑色线条与所述白色线条一一间隔设置,所述黑色线条和所述白色线条均沿所述柱面的直母线延伸;或者所述黑色线条和所述白色线条均沿所述柱面的准线延伸。第二方面,本专利技术实施例提供一种镜头解析力测试装置,包括第一方面所述的图卡测试板;待测镜头位于承载板凹陷一侧的方向上;所述镜头解析力测试装置还包括位于所述待测镜头远离所述图卡测试板一侧的图像接收器件。可选地,所述图像接收器件包括多个沿水平方向和竖直方向阵列排布的像元,水平方向上排列的一排中所述像元的数量大于竖直方向上排列的一排中所述像元的数量;柱面的直母线沿竖直方向延伸。可选地,还包括至少一个光源,位于所述待测镜头与所述图卡测试板之间。可选地,多个所述光源关于所述图卡测试板对称分布,且沿竖直方向上排列成一排的多个所述光源均匀分布。第三方面,本专利技术实施例提供一种镜头解析力测试方法,由第二方面所述的镜头解析力测试装置执行,包括:控制图像接收器件通过待测镜头对图卡测试板中的柱面图卡进行摄像,获取测试图像;根据获取的所述测试图像,判定所述待测镜头的解析力。本专利技术实施例提供的图卡测试板中,承载图卡的承载板被设置为柱面状,承载板的表面为柱面,图卡贴附固定到承载板的表面,从而图卡也具有柱面状的弯曲,从而使图卡不再为一个平面,而是一个柱面状的曲面。以实现通过图卡测试板的简单设计来反补偿近距离拍摄时镜头的场曲,模拟无穷远拍摄,从而提高镜头解析能力的检测精度。本专利技术实施例提供的图卡测试板可以补偿所有镜头的场曲,具有广泛的适用性,且柱面状的设计结构简单,降低了测试成本,提高了测试判断的准确度。附图说明图1为通过待测镜头拍摄无穷远处平面状图像的离焦图;图2为通过待测镜头拍摄近距离处平面状图像的离焦图;图3为本专利技术实施例提供一种图卡测试板的示意图;图4为本专利技术实施例提供一种图卡的正视图;图5为本专利技术实施例提供另一种图卡的正视图;图6为通过待测镜头拍摄近距离处图3中所示涂卡测试板的离焦图;图7为本专利技术实施例提供一种镜头解析力测试装置的示意图;图8为本专利技术实施例提供一种图像接收器件的示意图;图9为本专利技术实施例提供另一种镜头解析力测试装置的部分结构俯视图;图10为本专利技术实施例提供另一种镜头解析力测试装置的部分结构正视图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术,而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。图1为通过待测镜头拍摄无穷远处平面状图像的离焦图,图2为通过待测镜头拍摄近距离处平面状图像的离焦图,参考图1和图2,横坐标为距离,纵坐标为MTF(调制传递函数)。在实际应用中,镜头大部分都是拍摄远距离,为了在检测镜头解像实力(即解析力,或者解像力)时更贴合实际使用情况,因此要模拟无穷远拍摄。由图1可见,通过待测镜头拍摄无穷远处平面状图像时,波峰位于0mm位置处,无场曲。在实际生产以及镜头的测试过程中,为了节省场地成本,镜头实拍检测一般是在近摄距下进行,由于待测镜头存在场曲,整个光束的交点不与理想像点重合,导致近摄距下整个像平面是一个曲面。因此,平面状图像(即图卡)在近摄距下实拍的场曲较大,从而导致对待测镜头解析力的判断不准确。近距离拍摄时镜头的场曲相比于无穷远处会增大,现象为中心图像清晰度不变,而边缘像质相比于无穷远变模糊,从而导致检测结果不准确。由图2可见,通过待测镜头拍摄近距离处平面状图像时,波峰位于0.01mm处,场曲为0.01mm(即10μm)。本专利技术实施例中近距离处泛指几米距离以内的距离,远距离处泛指几十米以外的距离。图3为本专利技术实施例提供一种图卡测试板的示意图,参考图3,图卡测试板10包括承载板11和图卡12。承载板11的表面为柱面。柱面是直线沿着一条定曲线平行移动所形成的曲面,即动直线沿着一条定曲线平行移动所形成的曲面,动直线称为柱面的直母线111,定曲线称为柱面的准线112。当准线112是圆时所得柱面称为圆柱面。图卡12包括测试图形,可以通过待测镜头拍摄图卡12上的测试图形后得到测试图像,并根据测试图像来获取待测镜头的解析力。图卡12贴附固定于承载板11凹陷一侧的表面,图卡12的弯曲方向与承载板11的弯曲方向一致。图卡12的大小以及外部轮廓的正视图形状可以根据需求而定,只要图卡12贴附固定于承载板11凹陷一侧的表面即可。在一些实施方式中,图卡12的形状可以与承载板11表面的形状一致。例如,图卡12的形状为柱面。本专利技术实施例提供的图卡测试板中,承载图卡的承载板被设置为柱面状,承载板的表面为柱面,图卡贴附固定到承载板的表面,从而图卡也具有柱面状的弯曲,从而使图卡不再为一个平面,而是一个柱面状的曲面。以实现通过图卡测试板的简单设计来反补偿近距离拍摄时镜头的场曲,模拟无穷远拍摄,从而提高镜头解析能力的检测精度。本专利技术实施例提供的图卡测试板可以补偿所有镜头的场曲,具有广泛的适用性,且柱面状的设计结构简单,降低了测试成本,提高了测试判断的准确度。可选地,参考图3,柱面为圆柱面。圆柱面的准线112为圆弧,制作工艺简单。且柱面为圆柱面时,反向消除近距离拍摄时镜头场曲的效果较好,为一种优选的实施方式。可选地,参考图3,柱面的准线112为椭圆、抛物线或者双曲线。对应的柱面分别为椭圆面、抛物线面和双曲线面。在其他实施方式中,柱面的准线112还可以为其他形状,只要柱面的准线112为曲线即可。图4为本专利技术实施例提供一种图卡的正视图,结合图3和图4所示,图卡12上的测试图形包括多条平行设置的黑色线条121和白色线条122,黑色线条121和白色线条122一一间隔设置,黑色线条121和白色线条122构成线对120。黑色线条121和白色线条122均沿柱面本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种图卡测试板,其特征在于,包括:承载板,所述承载板的表面为柱面;图卡,包括测试图形,所述图卡贴附固定于所述承载板凹陷一侧的表面。

【技术特征摘要】
1.一种图卡测试板,其特征在于,包括:承载板,所述承载板的表面为柱面;图卡,包括测试图形,所述图卡贴附固定于所述承载板凹陷一侧的表面。2.根据权利要求1所述的图卡测试板,其特征在于,所述柱面为圆柱面。3.根据权利要求1所述的图卡测试板,其特征在于,所述柱面的准线为椭圆、抛物线或者双曲线。4.根据权利要求1所述的图卡测试板,其特征在于,所述测试图形包括多条平行设置的黑色线条和白色线条,所述黑色线条与所述白色线条一一间隔设置,所述黑色线条和所述白色线条均沿所述柱面的直母线延伸;或者所述黑色线条和所述白色线条均沿所述柱面的准线延伸。5.一种镜头解析力测试装置,其特征在于,包括权利要求1-4任一项所述的图卡测试板;待测镜头位于承载板凹陷一侧的方向上;所述镜头解析力测试装置还包括位于所述待测镜头远离所述图卡测试板一侧的图像接...

【专利技术属性】
技术研发人员:张品光刘峥嵘何剑炜
申请(专利权)人:东莞市宇瞳光学科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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