一种频率器件性能评估的方法及装置制造方法及图纸

技术编号:21998339 阅读:84 留言:0更新日期:2019-08-31 04:55
本发明专利技术公开了一种频率器件性能评估的方法及装置,涉及通信技术领域,其方法包括:在设置的测试时间段内通过对频率器件输出的性能测试信号进行采集,得到所述频率器件的采样频偏数据集和采样时间点数据集;利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集,计算出所述频率器件的性能评估保持性能信息;根据所计算出的性能评估保持性能信息对所述频率器件的性能进行评估。

A Method and Device for Performance Evaluation of Frequency Devices

【技术实现步骤摘要】
一种频率器件性能评估的方法及装置
本专利技术涉及通信
,特别涉及一种频率器件性能评估的方法及装置。
技术介绍
大多数电子设备、通信设备、自动控制等设备都需要稳定的时钟来保证系统正常运行。这些设备的时钟信号基本都来自频率器件。由于频率器件的自身老化、环境温度波动等原因,输出的时钟会逐渐偏离基准频率,出现累积相位误差、频率偏移。当参考时钟丢失后,频率器件输出时钟相位误差或频偏不能超过某一值,否则会出现部分业务中断,严重的话会导致整个设备瘫痪。参考时钟丢失后的一段时间内,频率器件能够维持设备能够正常工作的能力,就是的保持能力(holdover)。保持能力是影响通信系统可靠性的重要指标。所以,关键通讯设备入网测试时,都要做保持能力测试。现有的保持能力测试主要是相位保持能力,比如,在参考丢失后24小时候时钟相位不能大于1.5us。最常见的测试方法是,先让设备跟踪参考时钟(比如GPS(GlobalPositioningSystem,全球定位系统))24小时,然后断开参考时钟,用示波器、时间间隔测试仪或频率计测试输出时钟的1PPS(PulsePerSecond,每秒脉冲数)信号和标准的1PPS信号之间的相位差,测试24小时。现有的测试方法的缺点是:第一,测试结果偶然性很大,主要原因是环境温度变化、老化在每个时间点都不一样。而且,每只样品差异也很大,同样的环境测试的结果往往差异巨大。经常出现的情况是,第1次测试结果满足要求,再次测试则就远远超过要求。第二,比较耗时,2天只能测试一个数据。如果做15次测试就需要1个月。第三,需要在整机设备上测试,要锁相环参与,无法做批量测试。尤其是,由于环境在变化,频率器件的参数也在变化,不同频率器件之间的性能也是千差万别。因此,现有的测试方法无法评估一批频率器件的保持能力是在什么水平。总之,现有的技术评估频率器件的保持能力耗时耗力,测试结果偶然性很大,不准确、不全面、不可靠,无法做批量样品的整体保持能力评估。
技术实现思路
根据本专利技术实施例提供的方案解决了现有评估技术中耗时耗力、测试结果波动性大、评估结果不准确、以及无法批量测试技术问题。根据本专利技术实施例提供的一种频率器件性能评估的方法,包括:在设置的测试时间段内通过对频率器件输出的性能测试信号进行采集,得到所述频率器件的采样频偏数据集和采样时间点数据集;利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集,计算出所述频率器件的保持性能信息;根据所计算出的保持性能信息对所述频率器件的性能进行评估。优选地,当保持性能信息为相位保持信息时,所述利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集,计算出所述频率器件的保持性能信息包括:根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后K+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后K+1个采样时间点数据,得到所述第N个采样频偏数据的相位保持能力;利用所得到的所述每个采样频偏数据的相位保持能力,计算所述频率器件的相位保持信息;其中,所述N和K均为正整数,其K为预设时间内的采样个数。优选地,当保持性能信息为时间保持信息时,所述利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集,计算出所述频率器件的保持性能信息包括:根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后x+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后x+1个采样时间点数据,得到所述第N个采样频偏数据的时间保持能力;利用所得到的所述每个采样频偏数据的时间保持能力,计算所述频率器件的时间保持信息;其中,所述N和x均为正整数,其x为累积相位波动达到预定值时的采样个数。优选地,当保持性能信息为相位保持信息和时间保持信息时,所述利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集,计算出所述频率器件的保持性能信息包括:根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后K+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后K+1个采样时间点数据,得到所述第N个采样频偏数据的相位保持能力以及根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后x+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后x+1个采样时间点数据,得到所述第N个采样频偏数据的时间保持能力;利用所得到的所述每个采样频偏数据的相位保持能力,计算所述频率器件的相位保持信息,以及利用所得到的所述每个采样频偏数据的时间保持能力,计算所述频率器件的时间保持信息;其中,所述N、x和K均为正整数,其x为累积相位波动达到预定值时的采样个数,其K为预设时间内的采样个数。根据本专利技术实施例提供的一种频率器件性能评估的装置,包括:采集模块,用于在设置的测试时间段内通过对频率器件输出的性能测试信号进行采集,得到所述频率器件的采样频偏数据集和采样时间点数据集;计算模块,用于利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集,计算出所述频率器件的保持性能信息;评估模块,用于根据所计算出的保持性能信息对所述频率器件的性能进行评估。优选地,所述计算模块包括:第一获取单元,用于根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后K+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后K+1个采样时间点数据,得到所述第N个采样频偏数据的相位保持能力;第一计算单元,用于利用所得到的所述每个采样频偏数据的相位保持能力,计算所述频率器件的相位保持信息;其中,所述N和K均为正整数,其K为预设时间内的采样个数。优选地,所述计算模块包括:第二获取单元,用于根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后x+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后x+1个采样时间点数据,得到所述第N个采样频偏数据的时间保持能力;第二计算单元,用于利用所得到的所述每个采样频偏数据的时间保持能力,计算所述频率器件的时间保持信息;其中,所述N和x均为正整数,其x为累积相位波动达到预定值时的采样个数,。优选地,所述计算模块包括:第三获取单元,用于根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后K+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后K+1个采样时间点数据,得到所述第N个采样频偏数据的相位保持能力以及根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后x+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后x+1个采样时间点数据,得到所述第N个采样频偏数据的时间保持能力;第三计算单元,用于利用所得到的所述每个采样频偏数据的相位保持能力,计算所述频率器件的相位保持信息,以及利用所得到的所述每个采样频偏数据的时间保持能力,计算所述频率器件的时间保持信息;其中,所述N、x和K均为正整数,其x为累积相位波动达到预定值时的采样个数,其K为预设时间内的采样个数。根据本专利技术实施例提供的一种频率器件性能评估的设备,所述设备包括:处理器,以及与所述处理器耦接的存储器;所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的频率器件性能评估的程序,所述频率器件性能评估的程序被所述处理器执行时实现包括:在设置的测试时间段内通过对频率器件输出的性能测试信号进行采集,得到所述频率器件的采样频偏数据集和采样时间点数据集;利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集,计算出所述频率器件的保持性能信息本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种频率器件性能评估的方法,包括:在设置的测试时间段内通过对频率器件输出的性能测试信号进行采集,得到所述频率器件的采样频偏数据集和采样时间点数据集;利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集,计算出所述频率器件的保持性能信息;根据所计算出的保持性能信息对所述频率器件的性能进行评估。

【技术特征摘要】
1.一种频率器件性能评估的方法,包括:在设置的测试时间段内通过对频率器件输出的性能测试信号进行采集,得到所述频率器件的采样频偏数据集和采样时间点数据集;利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集,计算出所述频率器件的保持性能信息;根据所计算出的保持性能信息对所述频率器件的性能进行评估。2.根据权利要求1所述的方法,当保持性能信息为相位保持信息时,所述利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集,计算出所述频率器件的保持性能信息包括:根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后K+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后K+1个采样时间点数据,得到所述第N个采样频偏数据的相位保持能力;利用所得到的所述每个采样频偏数据的相位保持能力,计算所述频率器件的相位保持信息;其中,所述N和K均为正整数,其K为预设时间内的采样个数。3.根据权利要求1所述的方法,当保持性能信息为时间保持信息时,所述利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集,计算出所述频率器件的保持性能信息包括:根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后x+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后x+1个采样时间点数据,得到所述第N个采样频偏数据的时间保持能力;利用所得到的所述每个采样频偏数据的时间保持能力,计算所述频率器件的时间保持信息;其中,所述N和x均为正整数,其x为累积相位波动达到预定值时的采样个数。4.根据权利要求1所述的方法,当保持性能信息为相位保持信息和时间保持信息时,所述利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集,计算出所述频率器件的保持性能信息包括:根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后K+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后K+1个采样时间点数据,得到所述第N个采样频偏数据的相位保持能力以及根据所述采样频偏数据集中的第N个采样频偏数据及随后x+1个采样频偏数据和采样时间点数据集中的第N个采样时间数据及随后x+1个采样时间点数据,得到所述第N个采样频偏数据的时间保持能力;利用所得到的所述每个采样频偏数据的相位保持能力,计算所述频率器件的相位保持信息,以及利用所得到的所述每个采样频偏数据的时间保持能力,计算所述频率器件的时间保持信息;其中,所述N和K均为正整数,其K为预设时间内的采样个数,其x为累积相位波动达到预定值时的采样个数。5.一种频率器件性能评估的装置,包括:采集模块,用于在设置的测试时间段内通过对频率器件输出的性能测试信号进行采集,得到所述频率器件的采样频偏数据集和采样时间点数据集;计算模块,用于利用所得到的采样频偏数据集和采样时间点数据集,计算出所述频率器件的保持性能信息;评估模块,用于根据所计算出的保持性能信息对所述频率器件的性能...

【专利技术属性】
技术研发人员:穆海明
申请(专利权)人:中兴通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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