一种波前传感器制造技术

技术编号:21979655 阅读:88 留言:0更新日期:2019-08-28 04:01
本实用新型专利技术公开了一种波前传感器,包括:依次放置的第一偏振片、二分之一波片、方解石晶体、四分之一波片、第二偏振片以及阵列光电探测器,且上述器件的光学面与光束传播方向垂直。上述传感器结构简单,所需光学元件少,结合当前成熟的晶体生长和切割工艺,具有批量化生产的潜力。同时,该波前传感器消除了波前分割采样元件透镜阵列的限制,达到了像素级波前复原精度,因此能够实现超高空间频率的波前复原。更重要的是,打破一直以来提升波前复原精度的思维定式,无需再追求高密度子孔径排布以及复杂的超分辨算法,在波前探测领域具有十分重要的意义。

A Wavefront Sensor

【技术实现步骤摘要】
一种波前传感器
本技术涉及光学信息测量以及量子精密测量
,尤其涉及一种波前传感器。
技术介绍
波前传感技术是一门现代光学测量技术,通过对远场光束强度分布的采样、调制与探测,实现波前相位的重构复原,广泛地应用于波前校正、天文观测、医学成像、激光技术等领域。典型的波前传感器包括剪切干涉仪、曲率波前传感器和哈特曼波前传感器。这些传感器具有不同的特征与性能,适用于不同的应用场合。其中哈特曼波前传感器光能利用率高、抗噪能力强、简洁高效、可实时测量,已经成为常见的波前传感器之一。典型的哈特曼波前传感器可以参见中国专利申请公开说明书(申请号98112210.8,公开号CN1245904)公开的一种光学波前传感器,它通过透镜阵列将入射波前划分为多个可看作倾斜入射的子波前,并在透镜阵列的焦平面上放置一个阵列性光电探测器,阵列性光电探测器一般采用CCD探测器或者CMOS探测器,通过检测每个焦点的偏移量,测量出各子孔径波前的倾斜量,通过对各子波前的拟合复原,重构出待测波前。然而哈特曼波前传感技术存在以下两点与生俱来的技术难点:(1)测量精度与动态范围之间的矛盾。高精度的波前传感需要进行充分采样,该过本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种波前传感器,其特征在于,包括:依次放置的第一偏振片、二分之一波片、方解石晶体、四分之一波片、第二偏振片以及阵列光电探测器依次放置,且上述器件的光学面与光束传播方向垂直。

【技术特征摘要】
1.一种波前传感器,其特征在于,包括:依次放置的第一偏振片、二分之一波片、方解石晶体、四分之一波片、第二偏振片以及阵列光电探测器依次放置,且上述器件的光学面与光束传播方向垂直。2.根据权利要求1所述的一种波前传感器,其特征在于,所述第一偏振片光轴沿水平方向;所...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨木刘正昊李强许金时
申请(专利权)人:中国科学技术大学
类型:新型
国别省市:安徽,34

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