改进的玻璃检查系统技术方案

本发明专利技术涉及一种用于检查玻璃基板（S）的检查系统（100），包括用于使所述玻璃基板移动的传送工具（102），适于清洁所述玻璃基板的一个或多个表面的清洁装置（104）和第一视觉检查装置（103a），所述第一视觉检查装置相对于所述基板的运动位于所述清洁装置的下游，所述第一视觉检查装置包括适于捕获所述玻璃基板的一个或多个经清洁的表面的后清洗图像（IP2）的光学传感器（1030），其特征在于，所述检查系统还包括相对于所述基板的运动位于所述清洁装置上游的第二视觉检查装置（103b）。

Improved Glass Inspection System

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】改进的玻璃检查系统
本专利技术涉及一种用于检查玻璃基板的检查系统领域。
技术介绍
目前，玻璃基板质量控制需要自动检查以核对基板是否具有玻璃制造缺陷以及与各种工业工艺相关的缺陷。使用如能够在图1中看到的检查系统来执行这种检查。目前，这些检查系统1包括运输玻璃基板S的传送系统2，例如传送带或基板在其上移动的多个辊。在该传送线上布置有清洁装置3。这种清洁装置用于使用一个或多个电离或非电离气刀和/或静电刷或非静电刷来去除灰尘。该清洁装置之后是工业视觉装置4。这种装置包括光学传感器，例如能够检测缺陷的高分辨率摄像机。然而，这些检查系统具有对以下污染物敏感的缺点：在图像（最常见的是由系统捕获的数字图像）中可以看到的可以被清除的灰尘、纤维或痕迹。事实上，清洁并不完美，并且在清洁装置介入后仍然存在污染物（灰尘或其它可清洁元素）。该灰尘可能被视觉检查装置解释为缺陷，导致否定玻璃基板。因此，需要一种提供改进的缺陷检测的检查系统和改进的其操作方法。
技术实现思路
因此，本专利技术提出通过提供一种提供更有效检测的检查系统来弥补这些缺点。为此，本专利技术涉及一种用于检查玻璃基板的检查系统，包括用于使所述玻璃基板移动的传送工具，适于清洁玻璃基板的一个或多个表面的清洁装置和第一视觉检查装置，所述第一视觉检查装置相对于基板的运动位于清洁装置的下游，所述第一视觉检查装置包括适于捕获玻璃基板的经清洁的一个或多个表面的后清洗图像的光学传感器，其特征在于，所述检查系统还包括：相对于基板的运动位于清洁装置上游的第二视觉检查装置，所述第二视觉检查装置包括适于捕获玻璃基板的经清洁的一个或多个表面的前清洗图像的光学传感器，并且在于，所述检查系统包括用于将后清洗图像与前清洗图像相比较的比较工具。根据本专利技术的系统具有通过在清洁之前和之后检查玻璃基板并比较结果而使得能够改进检查的优点。这有利地使得可以更好地识别真实缺陷并防止不必要的否定。根据一个示例，每个视觉检查装置适于检测特定点，利用这些特定点将后清洗图像与前清洗图像进行比较。根据一个示例，特定点是根据它们在玻璃基板上的位置、它们的尺寸和在图像中的签名（即对应于特定点的成像表面的并且例如由一组像素表示的接收信号）而表征的。根据一个示例，每个视觉检查装置包括控制模块，包括比较工具的连接模块连接至每个控制模块。根据一个示例，视觉检查装置由包括比较工具的单个控制模块控制。根据一个示例，清洁装置包括至少一个气刀和/或至少一个刷子。本专利技术还涉及一种借助于前述权利要求中的任一项所述的检查系统检查玻璃基板的检查方法，其特征在于，它包括以下步骤：-第二视觉检查装置捕获玻璃基板的面的前清洗图像；-清洁装置清洁玻璃基板的所述面；-第一视觉检查装置捕获玻璃基板上的经清洁的面的后清洗图像；-将后清洗图像与前清洗图像进行比较。根据一个示例，比较步骤包括：-识别后清洗图像和前清洗图像的特定点；-根据位置，尺寸和图像上的相应的信号水平来表征特定点；-将后清洗图像的每个特定点与前清洗图像的特定点对照；且-确定特定点的性质，使得如果后清洗图像的特定点的位置和尺寸与前清洗图像的特定点的位置、尺寸和相关联的信号水平相同，则该特定点对应于缺陷；否则该特定点对应于杂质。根据一个示例，该方法在比较步骤之后还包括以下步骤：该步骤在于根据比较结果将所述玻璃基板引导向处理的继续或引导向再循环。根据一个示例，该方法在比较步骤之后还包括以下步骤：该步骤在于根据比较结果将所述玻璃基板引导向处理的继续或引导向再循环，该步骤恰好在玻璃基板上的缺陷检测之后执行。附图说明从下面通过非限制性说明并参考附图给出的描述中将清楚地显现出其它特定特征和优点，其中：-图1是现有技术的是检查系统的示意图；-图2是根据本专利技术的检查系统的示意图；-图3是根据本专利技术的检查系统的视觉检查装置的示意图；-图4和图5示出了根据本专利技术的检查系统的配置；-图6是表示根据本专利技术的检查系统的操作的图。具体实施方式在图2中示出了根据本专利技术的用于检查基板S的检查系统100。基板S例如是宽玻璃基板，例如出自浮法玻璃工艺的“巨型”尺寸（6m×3.21m）的平的玻璃板。当然，根据本专利技术的用于检查基板S的检查系统可以适用于不同尺寸的基板。基板在处理之前被检查。该检查系统100包括用于运输玻璃基板S的传送工具102。这种传送工具102可以采用其上布置有底盘的两个平行轨道的形式，该底盘设有用于玻璃基板的支撑件。传送工具102也可以采用其上安装有使基板能够移动的轮子的两个平行轨道的形式。然后一些轮子被连接至马达以使得能够驱动基板。检查系统100包括清洁装置104。这种清洁装置104用于去除灰尘、纤维、痕迹或其它可清洁的表面污染物。为此，清洁装置使用清洁工具104'，这些清洁工具能够采用不同形式。为此，第一清洁装置使用清洁工具104'，清洁工具104'能够采用不同形式。在第一形式中，清洁工具104'采用气刀A的形式。气刀由空气喷射器产生，该空气喷射器包括结构，该结构包括产生空气射流的涡轮机，所述空气射流穿过在结构中设有的狭槽以产生叶片状空气射流。该气刀A朝向玻璃基板S的方向取向，以驱除杂质。该气刀A可以是电离的。在第二形式中，清洁工具104'采用刷子的形式。这种刷子包括固定至马达以便旋转的鼓状物。该鼓状物设有多个柔性股线。旋转鼓状物导致股线与玻璃基板接触以去除灰尘。股线可以是电离的，以便吸引至其诸如灰尘的杂质，从而清洁基板S。清洁装置104可以包括一个或多个刀片，一个或多个刷子或一个或多个刀片和刷子的混合。清洁装置104可以适于清洁基板的面向传送工具的表面或与面向传送工具的表面相反的表面。视觉检查装置103a布置在清洁装置104附近。该第一视觉检查装置103a相对于玻璃基板的运动布置在清洁装置104的下游，使得在清洁步骤之后进行视觉检查操作。这种第一视觉检查装置103a包括光学传感器1030，例如高分辨率摄像机。该光学传感器1030与传送工具垂直地布置，使得光学传感器的视场/检测场对应于玻璃基板的表面。因此，光学传感器1030能够产生所述玻璃基板S的图像。该视觉检查装置103a将光学传感器1030与包括处理器1032的控制模块1031组合，如图3中可见。该处理器单元1032用于分析由光学传感器产生的所述玻璃基板的图像。根据本专利技术，检查系统100巧妙地还包括第二视觉检查装置103b。该视觉检查装置103b相对于玻璃基板S的运动布置在清洁装置104的上游，使得在清洁步骤之后进行视觉检查操作。该第二视觉检查装置103b类似于布置在清洁装置下游的视觉检查装置（也已知为第一视觉检查装置）。因此，第二检查装置包括与传送工具102垂直地布置的光学传感器1030（例如高分辨率摄像机），使得光学传感器的视场/检测场对应于玻璃基板的表面。因此，光学传感器能够产生所述玻璃基板的图像。两个视觉检查装置103a、103b的存在有利地使得能够执行验证步骤。该验证步骤用于确定清洁后的剩余杂质是否是杂质还是缺陷，在是缺陷的情况下，将被分析的玻璃基板从生产线上移除。为此，在第一配置中，检查系统100被设计成使得每个视觉检查装置103a、103b包括其自己的控制模块1031，即每个视觉检查装置被独立地控制。在该第一配置中，包括比较工具1050的连接模块1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检查玻璃基板（S）的检查系统（100），包括用于使所述玻璃基板移动的传送工具（102），适于清洁所述玻璃基板的至少一个表面的清洁装置（104）和第一视觉检查装置（103a），所述第一视觉检查装置相对于所述基板的运动位于所述清洁装置的下游，所述第一视觉检查装置包括适于捕获所述玻璃基板的至少一个经清洁的表面的后清洗图像（IP2）的光学传感器（1030），其特征在于，所述检查系统还包括相对于所述基板的运动位于所述清洁装置上游的第二视觉检查装置（103b），所述第二视觉检查装置包括适于捕获玻璃基板的至少一个经清洁的表面的前清洗图像（IP1）的光学传感器，并且在于，所述检查系统包括用于将后清洗图像与前清洗图像相比较的比较工具。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2017.12.19 FR 17625141.一种用于检查玻璃基板（S）的检查系统（100），包括用于使所述玻璃基板移动的传送工具（102），适于清洁所述玻璃基板的至少一个表面的清洁装置（104）和第一视觉检查装置（103a），所述第一视觉检查装置相对于所述基板的运动位于所述清洁装置的下游，所述第一视觉检查装置包括适于捕获所述玻璃基板的至少一个经清洁的表面的后清洗图像（IP2）的光学传感器（1030），其特征在于，所述检查系统还包括相对于所述基板的运动位于所述清洁装置上游的第二视觉检查装置（103b），所述第二视觉检查装置包括适于捕获玻璃基板的至少一个经清洁的表面的前清洗图像（IP1）的光学传感器，并且在于，所述检查系统包括用于将后清洗图像与前清洗图像相比较的比较工具。2.根据权利要求1所述的检查系统，其中，每个视觉检查装置（103a，103b）适于检测特定点，利用这些特定点将所述后清洗图像与所述前清洗图像进行比较。3.根据权利要求2所述的检查系统，其中，所述特定点是根据它们在玻璃基板（S）上的位置，它们的尺寸以及与特定点的成像表面相对应的玻璃图像中的信号水平而表征的。4.根据前述权利要求中的任一项所述的检查系统，其中，每个视觉检查装置包括控制模块（1031），包括比较工具（1050）的连接模块（150）连接到每个控制模块。5.根据前述权利要求中的任一项所述的检查系统，其中，所述视觉检查装置（103a，103b）由包括比较工具的单个控制模块（1031）控制。...

【专利技术属性】
技术研发人员：T里巴奇克，P法约勒，E加尼翁，L勒默，
申请(专利权)人：法国圣戈班玻璃厂，
类型：发明
国别省市：法国,FR