改进的玻璃检查系统技术方案

本发明专利技术涉及一种用于检查玻璃基板（S）的检查系统（100），包括用于使所述玻璃基板移动的传送工具（102），适于清洁所述玻璃基板的一个或多个表面的清洁装置（104）和第一视觉检查装置（103a），所述第一视觉检查装置相对于所述基板的运动位于所述清洁装置的下游，所述第一视觉检查装置包括适于捕获所述玻璃基板的一个或多个经清洁的表面的后清洗图像（IP2）的光学传感器（1030），其特征在于，所述检查系统还包括相对于所述基板的运动位于所述清洁装置上游的第二视觉检查装置（103b）。

Improved Glass Inspection System

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】改进的玻璃检查系统
本专利技术涉及一种用于检查玻璃基板的检查系统领域。
技术介绍
目前，玻璃基板质量控制需要自动检查以核对基板是否具有玻璃制造缺陷以及与各种工业工艺相关的缺陷。使用如能够在图1中看到的检查系统来执行这种检查。目前，这些检查系统1包括运输玻璃基板S的传送系统2，例如传送带或基板在其上移动的多个辊。在该传送线上布置有清洁装置3。这种清洁装置用于使用一个或多个电离或非电离气刀和/或静电刷或非静电刷来去除灰尘。该清洁装置之后是工业视觉装置4。这种装置包括光学传感器，例如能够检测缺陷的高分辨率摄像机。然而，这些检查系统具有对以下污染物敏感的缺点：在图像（最常见的是由系统捕获的数字图像）中可以看到的可以被清除的灰尘、纤维或痕迹。事实上，清洁并不完美，并且在清洁装置介入后仍然存在污染物（灰尘或其它可清洁元素）。该灰尘可能被视觉检查装置解释为缺陷，导致否定玻璃基板。因此，需要一种提供改进的缺陷检测的检查系统和改进的其操作方法。
技术实现思路
因此，本专利技术提出通过提供一种提供更有效检测的检查系统来弥补这些缺点。为此，本专利技术涉及一种用于检查玻璃基板的检查系统，包括用于使所述玻璃基板移本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检查玻璃基板（S）的检查系统（100），包括用于使所述玻璃基板移动的传送工具（102），适于清洁所述玻璃基板的至少一个表面的清洁装置（104）和第一视觉检查装置（103a），所述第一视觉检查装置相对于所述基板的运动位于所述清洁装置的下游，所述第一视觉检查装置包括适于捕获所述玻璃基板的至少一个经清洁的表面的后清洗图像（IP2）的光学传感器（1030），其特征在于，所述检查系统还包括相对于所述基板的运动位于所述清洁装置上游的第二视觉检查装置（103b），所述第二视觉检查装置包括适于捕获玻璃基板的至少一个经清洁的表面的前清洗图像（IP1）的光学传感器，并且在于，所述检查系统包括用于将后清...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2017.12.19 FR 17625141.一种用于检查玻璃基板（S）的检查系统（100），包括用于使所述玻璃基板移动的传送工具（102），适于清洁所述玻璃基板的至少一个表面的清洁装置（104）和第一视觉检查装置（103a），所述第一视觉检查装置相对于所述基板的运动位于所述清洁装置的下游，所述第一视觉检查装置包括适于捕获所述玻璃基板的至少一个经清洁的表面的后清洗图像（IP2）的光学传感器（1030），其特征在于，所述检查系统还包括相对于所述基板的运动位于所述清洁装置上游的第二视觉检查装置（103b），所述第二视觉检查装置包括适于捕获玻璃基板的至少一个经清洁的表面的前清洗图像（IP1）的光学传感器，并且在于，所述检查系统包括用于将后清洗图像与前清洗图像相比较的比较工具。2.根据权利要求1所述的检查系统，其中，每个视觉检查装置（103a，103b）适于检测特定点，利用这些特定点将所述后清洗图像与所述前清洗图像进行比较。3.根据权利要求2所述的检查系统，其中，所述特定点是根据它们在玻璃基板（S）上的位置，它们的尺寸以及与特定点的成像表面相对应的玻璃图像中的信号水平而表征的。4.根据前述权利要求中的任一项所述的检查系统，其中，每个视觉检查装置包括控制模块（1031），包括比较工具（1050）的连接模块（150）连接到每个控制模块。5.根据前述权利要求中的任一项所述的检查系统，其中，所述视觉检查装置（103a，103b）由包括比较工具的单个控制模块（1031）控制。...

【专利技术属性】
技术研发人员：T里巴奇克，P法约勒，E加尼翁，L勒默，
申请(专利权)人：法国圣戈班玻璃厂，
类型：发明
国别省市：法国,FR