摄像方法以及摄像装置制造方法及图纸

技术编号:21976322 阅读:24 留言:0更新日期:2019-08-28 02:32
在利用来自被摄像物的反射光和参照光的干涉来对容器内的被摄像物进行摄像的技术中,确定透过容器的壁部进行摄像的断层图像的焦点位置。当将参照镜定位于到物体光学系对焦于容器的第一主面时的第一主面为止的物体光路长度与参照光路长度相等的位置时,将来自容器的第二主面的反射光的强度成为最大的物体光学系的焦点位置调整量作为第二调整量,将由干涉信号求出的反射光强度分布中的物体光学系的光轴方向的第一主面与第二主面的距离作为第一距离。在由将物体光学系的焦点位置调整量设定于第三调整量而取得的干涉信号求出的反射光强度分布中,将与光轴方向的第一主面的距离为由第三调整量与第二调整量之差乘以介质的折射率的平方所得的值和第一距离之和表示的第二距离的位置,作为物体光学系的焦点位置。

Camera method and camera device

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】摄像方法以及摄像装置
本专利技术涉及对来自被摄像物的反射光与参照光的干涉光成分进行检测并摄像的技术。尤其涉及透过具有透光性的容器的壁部对被摄像物进行摄像的技术。
技术介绍
在医学、生化学的
中,对在容器中培养的细胞、微生物进行观察。作为避免对作为观察对象的细胞等造成影响地进行观察的方法,提出有使用显微镜等来对细胞等进行摄像的技术方案。作为这种技术之一,可利用光学相干断层成像(OpticalCoherenceTomography;OCT)技术。该技术使从光源出射的低相干光作为照明光向被摄像物入射,并对来自被摄像物的反射光(信号光)与光路长度已知的参照光的干涉光进行检测,从而求出来自被摄像物的反射光的深度方向的强度分布并进行断层图像化。在OCT摄像技术中,对图像品质产生影响的因素包括:使从被摄像物反射的信号光聚光的物体光学系的焦点的设定位置、参照基准面(也称为相干门)的设定位置。参照基准面是信号光的光路长度与参照光的光路长度相等的、信号光的光路上的虚拟的面。包含被摄像物的详细信息的是来自焦点位置附近的信号光,干涉光的强度大而能够高精度地取出被摄像物的信息的是来自参照基准面附近的信号本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种摄像方法,其是对具有透光性的壁部的容器所载置的介质中的被摄像物进行断层摄像的摄像方法,其特征在于,具备:使信号光与参照光发生干涉并取得与干涉光的检测结果对应的干涉信号的工序,其中,该信号光是使从光源出射的低相干光所分支的一个分支光向所述被摄像物入射并使其反射光透过所述壁部而通过物体光学系进行聚光所得到的,该参照光是使另一个分支光在参照镜进行反射所得到的;基于所述干涉信号而求出所述被摄像物的反射光强度分布并由该反射光强度分布生成断层图像的工序;以及确定所述断层图像内的所述物体光学系的焦点位置的工序,当将所述信号光的光路长度称为物体光路长度,并将所述参照光的光路长度称为参照光路长度时,将所...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2017.02.17 JP 2017-0275201.一种摄像方法,其是对具有透光性的壁部的容器所载置的介质中的被摄像物进行断层摄像的摄像方法,其特征在于,具备:使信号光与参照光发生干涉并取得与干涉光的检测结果对应的干涉信号的工序,其中,该信号光是使从光源出射的低相干光所分支的一个分支光向所述被摄像物入射并使其反射光透过所述壁部而通过物体光学系进行聚光所得到的,该参照光是使另一个分支光在参照镜进行反射所得到的;基于所述干涉信号而求出所述被摄像物的反射光强度分布并由该反射光强度分布生成断层图像的工序;以及确定所述断层图像内的所述物体光学系的焦点位置的工序,当将所述信号光的光路长度称为物体光路长度,并将所述参照光的光路长度称为参照光路长度时,将所述物体光学系对焦于所述壁部的主面中的所述物体光学系侧的第一主面时的所述物体光学系的焦点位置调整量作为第一调整量,当将所述参照镜定位于到所述物体光学系的焦点位置调整量为所述第一调整量时的所述第一主面为止的所述物体光路长度与所述参照光路长度相等的位置时,将来自所述壁部的主面中的所述被摄像物侧的第二主面的反射光的强度成为最大的所述物体光学系的焦点位置调整量作为第二调整量,将由所述干涉信号求出的所述反射光强度分布中的所述物体光学系的光轴方向的所述第一主面与所述第二主面的距离作为第一距离,在由将所述物体光学系的焦点位置调整量设定于在与所述第一调整量之间夹有所述第二调整量的第三调整量而取得的所述干涉信号求出的所述反射光强度分布中,将与所述光轴方向的所述第一主面的距离为由所述第三调整量与所述第二调整量之差乘以所述介质的折射率的平方所得的值和所述第一距离之和表示的第二距离的位置,作为与该反射光强度分布对应的所述断层图像内的所述物体光学系的所述焦点位置。2.根据权利要求1所述的摄像方法,其特征在于,对所述物体光学系的光轴方向的焦点位置调整量进行变更并检测所述信号光,搜索所述信号光的强度成为最大的第一反射面,并将所述第一反射面视为所述第一主面。3.根据权利要求1或2所述的摄像方法,其特征在于,将所述参照镜定位于到所述物体光学系的焦点位置调整量为所述第一调整量时的所述第一主面为止的所述物体光路长度与所述参照光路长度相等的位置,对所述物体光学系的焦点位置调整量进行变更并检测所述干涉光,搜索相比于所述第一反射面在所述被摄像物侧所述反射光的强度成为极大的第二反射面,将所述第二反射面视为所述第二主面。4.根据权利要求3所述的摄像方法,其特征在于,当未检出来自所述第二反射面的所述反射光时,使所述参照镜的位置向所述参照光路长度变长的方向变更来进行搜索。5.根据权利要求1至4中任一项所述的摄像方法,其特征在于,使附加有表示所述焦点位置的信息的所述断层图像显示于显示装置。6.根据权利要求1至5中任一项所述的摄像方法,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:加藤佳祐石川直树
申请(专利权)人:株式会社斯库林集团
类型:发明
国别省市:日本,JP

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