一种三通道带助磁20A变压器直流电阻测试电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种三通道带助磁20A变压器直流电阻测试电路，包括测Rab电路、测Rbc电路和测Rca电路；测Rab电路为：电流I+极连接到a相绕组和b相绕组共同连接一端，a相绕组另一端分别连接到c相绕组一端，b相绕组和c相绕组另一端均连接到A相绕组一端，A相绕组另一端连接到B相绕组一端，B相绕组另一端连接到电流I‑极，电压表V+端连接在a相绕组和b相绕组共同连接一端，V‑端连接在b相绕组和c相绕组共同连接一端，电流I+极和电流I‑极间连接有电流表；同理可得测Rbc电路和测Rac电路，所述电流表和电压表构成测试仪。本实用新型专利技术可缩短充电电流的稳定时间，加快测量速度，有效解决了测试中存在的“两快一慢”问题，提高了工作效率。

A DC Resistance Test Circuit for Three-Channel 20A Transformer with Magnetic Aid

【技术实现步骤摘要】
一种三通道带助磁20A变压器直流电阻测试电路
本技术涉及一种三通道带助磁20A变压器直流电阻测试电路，属于变压器绕组直流电阻的测量

技术介绍
变压器绕组直流电阻的测量可以检查绕组接头的焊接质量，绕组匝间有无短路，绕组或引出线有无断裂，分接开关各个位置的接触状况及位置指示准确度，确定绕组平均温升，多股导线并绕的绕组是否有断股等情况。变压器绕组的电感大、电阻小，绕组的时间常数较大，测试时当接通直流电源后充电电流要经过一个较长的暂态过程才能达到稳定，因此测量绕组直流电阻时间较长。对于高压大容量变压器，测量一个电阻值有时需要数十分钟甚至数小时，尤其测量低压侧绕组直流电阻时耗时长、效率低。近年生产的高压大容量变压器的铁心多采用三相五柱式结构，低压绕组呈三角形联结。测量时，并联绕组存在互感，在其内产生环流，使得充电时间相当漫长。传统方法测量大型变压器低压绕组直流电阻时，测量一个阻值大约需要40min，有时甚至1h以后数据仍不稳定，且误差较大，可能给设备状况造成误判。因此研究变压器绕组直流电阻快速测量的方法和手段具有重要意义。现有的助磁法测量低压绕组的直流电阻时，同一铁心柱上高、低压绕组本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种三通道带助磁20A变压器直流电阻测试电路，其特征在于：包括测Rab电路、测Rbc电路和测Rca电路；测Rab电路为：电流I+极连接到a相绕组和b相绕组共同连接一端，a相绕组另一端分别连接到c相绕组一端， b相绕组和c相绕组另一端均连接到A相绕组一端，A相绕组另一端连接到B相绕组一端，B相绕组另一端连接到电流I‑极，电压表V+端连接在a相绕组和b相绕组共同连接一端，V‑端连接在b相绕组和c相绕组共同连接一端，电流I+极和电流I‑极间连接有电流表；测Rbc电路为：电流I‑极连接到b相绕组和c相绕组共同连接一端，b相绕组另一端连接到a相绕组一端， a相绕组和c相绕组另一端均连接到并联的A相绕...

【技术特征摘要】
1.一种三通道带助磁20A变压器直流电阻测试电路，其特征在于：包括测Rab电路、测Rbc电路和测Rca电路；测Rab电路为：电流I+极连接到a相绕组和b相绕组共同连接一端，a相绕组另一端分别连接到c相绕组一端，b相绕组和c相绕组另一端均连接到A相绕组一端，A相绕组另一端连接到B相绕组一端，B相绕组另一端连接到电流I-极，电压表V+端连接在a相绕组和b相绕组共同连接一端，V-端连接在b相绕组和c相绕组共同连接一端，电流I+极和电流I-极间连接有电流表；测Rbc电路为：电流I-极连接到b相绕组和c相绕组共同连接一端，b相绕组另一端连接到a相绕组一端，a相绕组和c相绕组另一端均连接到并联的A相绕组和B相绕组的一端，并联...

【专利技术属性】
技术研发人员：林美玲，潘科，文峰，邢懿，王德贺，张英，马新惠，娄方桥，汤晓霞，符玉珊，王瑞果，吴冕之，
申请(专利权)人：贵州电网有限责任公司，
类型：新型
国别省市：贵州,52