卡探测器和卡检测方法技术

通信地耦合到读卡器的卡探测器包括：第一比较器，被配置为通过比较用于待测设备的电压和第一参考电压，周期性地输出第一比较结果；第二比较器，通过比较第二参考电压和第一参考电压，周期性地输出第二比较结果，其中第二参考电压是可调的；判断电路，通信地耦合到第一比较器和第二比较器两者，并且通过比较分别在第一时间点和不同于第一时间点的第二时间点的第一比较结果和第二比较结果之间的时间延迟关系，来判断卡是否靠近卡探测器，并且如果判断电路判断卡靠近卡探测器，还进一步唤醒读卡器。

Card Detector and Card Detection Method

【技术实现步骤摘要】
卡探测器和卡检测方法
本申请涉及电路，更具体地，但非排他地，涉及一种卡探测器和卡检测方法。
技术介绍
传统上，卡探测器用于检测何时将卡放置在读卡器上，以唤醒读卡器。由于不同的读卡器工作在不同的单一频率上，所以需要一个可以为多个频率工作的卡探测器。
技术实现思路
一种卡探测器，被配置为通信地耦合到读卡器，其中所述卡探测器包括：第一比较器，被配置为通过比较由所述第一比较器的正相输入端接收的用于待测设备(DUT)的电压和由所述第一比较器的反相入端接收的第一参考电压，周期性地输出第一比较结果；第二比较器，被配置为通过比较从所述第二比较器的正相输入端接收的第二参考电压和由所述第二比较器的反相入端接收的第一参考电压，周期性地输出第二比较结果，其中可调电容被配置为调整第二参考电压；判断电路，通信地耦合到所述第一比较器和所述第二比较器两者，并且被配置为通过比较分别在第一时间点和不同于所述第一时间点的第二时间点的所述第一比较结果和所述第二比较结果之间的时间延迟关系，来判断卡是否靠近所述卡探测器，并且所述判断电路还被配置为如果所述判断电路判断所述卡靠近所述卡探测器则唤醒所述读卡器。根据本专利技术的另一个方面，一种由卡探测器检测卡的方法，所述卡探测器被配置为通信地耦合到读卡器，其中所述方法包括：由第一比较器通过比较由所述第一比较器的正相输入端接收的用于待测设备(DUT)的电压和由所述第一比较器的反相入端接收的第一参考电压，周期性地输出第一比较结果；由第二比较器通过比较从所述第二比较器的正相输入端接收的第二参考电压和由所述第二比较器的反相入端接收的所述第一参考电压，周期性地输出第二比较结果；由通信地耦合到所述第一比较器和所述第二比较器两者的判断电路，通过比较至少分别在第一时间点和不同于所述第一时间点的第二时间点的所述第一比较结果和所述第二比较结果之间的时间延迟关系，来判断卡是否靠近所述卡探测器，并且如果所述卡靠近所述卡探测器，则由所述判断电路唤醒所述读卡器。根据本专利技术的实施方式，可以准确判断是否有卡被放到读卡器上。附图说明参考以下附图描述本专利技术的非限制性和非穷尽性的实施例，其中除非另有说明，相同的附图标记表示各种视图中的相同部件。图1A是根据本专利技术的实施例的卡探测器的电路图。图1B是根据本专利技术的实施例的卡探测器的电路图。图2A是根据本专利技术的实施例的两个电流源的电路图200A。图2B是两个电流源之间的周期性充电图200B。图3A-3C是根据本专利技术的实施例的序列图。图4是根据本专利技术的另一实施例的卡探测器的电路图。图5A-图5C是根据本专利技术的实施例示出了校准过程的序列图。图6是根据本专利技术的实施例的序列图。图7是根据本专利技术的另一实施例的卡探测器的电路图。图8是根据本专利技术的实施例示出了检测和唤醒读卡器的方法的流程图。具体实施方式现在将描述本专利技术的各个方面和例子。以下描述提供了全面了解和实现描述性例子的具体细节。然而，本领域技术人员将理解，可以在没有许多这些细节的情况下实施本专利技术。此外，一些公知的结构和功能可能不会被详细显示或描述，以避免不必要地模糊相关描述。在下文所述的描述中使用的术语旨在以其最广泛合理的方式进行解释，即使其与本专利技术的某些具体例子的详细描述结合使用。某些术语甚至可能在下文中被强调，然而，在本详细描述部分中，旨在以任何限制方式解释的任何术语将被明确地和具体地定义。图1A是根据本专利技术的实施例的卡探测器100A的电路图。卡探测器100A被配置为通信地耦合到读卡器。例如，卡探测器100A可以被集成到读卡器中，也就是说，卡探测器100A是读卡器的组件。参照图1A，卡探测器100A包括:第一比较器110、第二比较器120和判断电路130。第一比较器110通过比较由第一比较器110的正相输入端接收的待测设备(DUT)的电压V1和由第一比较器110的反相入端接收的第一参考电压vref，周期性地输出第一比较结果；第一比较器110的输出周期可以是32kHz。第一比较结果可以是数字序列1或0，其表示待测设备的电压V1大于第一参考电压vref(1)，或者待测设备的电压V1小于第一参考电压verf(0)。第二比较器120通过比较从第二比较器120的正相输入端接收的第二参考电压(V_REF)V2和由第二比较器120的反相入端接收的第一参考电压vref，周期性地输出第二比较结果。第二比较结果可以是数字序列1或0，其表示V2大于vref(1)，或者V2小于vref(0)。注意，V2(V_REF)可根据在校准相位期间对可变电容器C_REF充电的电流来调节，下面将参照图4进一步详细讨论。注意，在卡检测相位期间，V2(V_REF)应该保持不变，以便执行卡检测。第一参考电压vref是由电路提供的基极电流。判断电路130通信地耦合到第一比较器110和第二比较器120。判断电路130通过比较分别在第一时间点和不同于第一时间点的第二时间点的第一比较结果和第二比较结果之间的时间延迟关系，来判断卡是否靠近卡探测器100A。并且，如果判断电路130判断卡靠近卡探测器100A，判断电路130则唤醒读卡器。图1B是根据本专利技术的实施例的卡探测器100B的电路图。除了图1A中讨论的第一比较器110、第二比较器120和判断电路130之外，卡探测器100B还包括第一缓冲器140和第二缓冲器150。第一缓冲器140通信地耦合到第一比较器110，并且被配置为从第一比较结果生成第一缓冲比较结果。第二缓冲器150通信地耦合到第二比较器120，并且被配置为从第二比较结果生成第二缓冲比较结果。第一缓冲器140和第二缓冲器150的功能是使上升沿或下降沿更加尖锐。判断电路130通信地耦合到第一缓冲器140与第二缓冲器150两者，并且被配置为通过比较分别在第一时间点和第二时间点的第一缓冲比较结果和第二缓冲比较结果之间的时间延迟关系，来判断卡是否靠近卡探测器。或者，判断电路130包括通信地耦合到第一缓冲器140和第二缓冲器150两者的bang-bang鉴相器(BBPD)，其中，bang-bang鉴相器被配置为通过判断第一缓冲比较结果和第二缓冲比较结果之间的时间延迟关系是否在第一时间点和第二时间点之间反转，来判断卡是否靠近卡探测器。图2A是根据本专利技术的实施例的两个电流源的电路图200A。图2B是两个电流源之间的周期性充电图200B。图2A和2B说明了卡探测器如何工作的原理。当使用一个同频时钟控制电流源或电流沉时，理想状态下两个电流源或电流沉不会失配。因此，在这种情况下，假设对两个电容进行充电或放电，并且两个电容的值不同。如图2B所示，在每个周期(电压可以从高到低，或从低到高)，产生的电压的斜率会不同。如图3A至图3C中的任何一个所示，V1与第一参考电压vref比较的第一结果与V2与第一参考电压vref比较的第二结果之间的比较会产生两个具有相同频率和不同相位的方波。相位误差可以由鉴相器检测，而相位误差表示不同的斜率。仍然参考图2B，已知Q＝CV,C1表示与用于待测设备的电压V_DUT(V1)相对应的电容，并且C2表示与用于第二参考电压V_REF(V2)的电压相对应的电容。假设C1和C2之间相差10fF，用50nA的电流对两个电容进行充电。Δt＝(C1-C2)×VA/i。假设C1-C2＝10fF，i＝本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种卡探测器，被配置为通信地耦合到读卡器，其特征在于，所述卡探测器包括：第一比较器，被配置为通过比较由所述第一比较器的正相输入端接收的用于待测设备(DUT)的电压和由所述第一比较器的反相入端接收的第一参考电压，周期性地输出第一比较结果；第二比较器，被配置为通过比较从所述第二比较器的正相输入端接收的第二参考电压和由所述第二比较器的反相入端接收的第一参考电压，周期性地输出第二比较结果；判断电路，通信地耦合到所述第一比较器和所述第二比较器两者，并且被配置为通过比较至少分别在第一时间点和不同于所述第一时间点的第二时间点的所述第一比较结果和所述第二比较结果之间的时间延迟关系，来判断卡是否靠近所述卡探测器；所述判断电路还被配置为如果所述判断电路判断所述卡靠近所述卡探测器则唤醒所述读卡器。

【技术特征摘要】
1.一种卡探测器，被配置为通信地耦合到读卡器，其特征在于，所述卡探测器包括：第一比较器，被配置为通过比较由所述第一比较器的正相输入端接收的用于待测设备(DUT)的电压和由所述第一比较器的反相入端接收的第一参考电压，周期性地输出第一比较结果；第二比较器，被配置为通过比较从所述第二比较器的正相输入端接收的第二参考电压和由所述第二比较器的反相入端接收的第一参考电压，周期性地输出第二比较结果；判断电路，通信地耦合到所述第一比较器和所述第二比较器两者，并且被配置为通过比较至少分别在第一时间点和不同于所述第一时间点的第二时间点的所述第一比较结果和所述第二比较结果之间的时间延迟关系，来判断卡是否靠近所述卡探测器；所述判断电路还被配置为如果所述判断电路判断所述卡靠近所述卡探测器则唤醒所述读卡器。2.根据权利要求1所述的卡探测器，其特征在于，还包括：第一缓冲器，通信地耦合到第一比较器，并且被配置为从所述第一比较结果生成第一缓冲比较结果；第二缓冲器，通信地耦合到第二比较器，并且被配置为从所述第二比较结果生成第二缓冲比较结果；其中，所述判断电路通信地耦合到所述第一缓冲器和所述第二缓冲器两者，并且被配置为通过比较分别在所述第一时间点和所述第二时间点的所述第一缓冲比较结果和所述第二缓冲比较结果之间的时间延迟关系，来判断所述卡是否靠近所述卡探测器。3.根据权利要求2所述的卡探测器，其特征在于，所述判断电路包括通信地耦合到所述第一缓冲器和所述第二缓冲器两者的bang-bang鉴相器，该bang-bang鉴相器被配置为通过判断所述第一缓冲比较结果和所述第二缓冲比较结果之间的时间延迟关系是否在所述第一时间点和所述第二时间点之间反转，来判断所述卡是否靠近所述卡探测器。4.根据权利要求3所述的卡探测器，其特征在于，还包括：校准器，通信地耦合到所述bang-bang鉴相器；可调电容，通信地耦合到所述校准器，其中所述校准器还被配置为通过调整可调电容，来调整第二参考电压。5.根据权利要求2所述的卡探测器，其特征在于，所述判断电路包括通信地耦合到所述第一缓冲器和所述第二缓冲器两者...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：博通集成电路上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31