一种双闭环磁损测量系统技术方案

本发明专利技术提供一种双闭环磁损测量系统，包括正弦信号发生器、LabVIEW上位机系统、功率放大器和功率分析仪，所述LabVIEW上位机系统和正弦信号发生器，构成一个闭环系统，保证输出信号的频率和幅值的精度，正弦信号发生器、LabVIEW上位机系统、功率放大器和功率分析仪整体构成另一个闭环系统，上位机系统实时监测待测磁芯二次侧电压，确保测试结果的准确可靠性。利用功率放大器提高正弦信号发生器信号的增益倍数，并将此信号加载到被测磁芯上，通过功率分析仪来采集一次侧电流和二次侧电压等功率信息并传回到LabVIEW上位机系统，处理数据获得磁芯损耗。

A Double Closed Loop Magnetic Loss Measurement System

【技术实现步骤摘要】
一种双闭环磁损测量系统
本专利技术涉及开关变换器领域，尤其涉及一种双闭环磁损测量系统。
技术介绍
开关变换器作为电气电子设备供电系统的核心，其能否可靠运行直接关系到整个系统的可靠性。开关变换器工作在高频开关状态，其开关损耗、磁性元件功率损耗都很大。磁性元件是开关变换器中最重要的器件之一，对磁芯损耗的有效测量可为磁性元件散热方案设计提供依据。准确测试得到的磁芯损耗数据不仅可以给理论计算模型提供数据支持，还可以扩宽工程师的设计思路，使工程设计更加标准。随着开关变换器继续向小型化和高频化的不断发展，对磁芯损耗数据的要求变得越来越苛刻。因此，对于开关变化器的优化设计，高精度的磁芯损耗数据有着及其重要的意义，构建一种高效精确的磁芯损耗测量平台十分重要。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术的目的提供一种双闭环磁损测量系统，利用功率放大器提高正弦信号发生器信号的增益倍数，并将此信号加载到被测磁芯上，通过功率分析仪来采集一次侧电流和二次侧电压等功率信息并传回到LabVIEW上位机系统，处理数据获得磁芯损耗。其中LabVIEW上位机系统和正弦信号发生器构成一个闭环系统，保证输出信号的频率和幅值的精度。整个系统构成另一个闭环系统，上位机系统实时监测待测磁芯二次侧电压，确保测试结果的准确可靠性。本专利技术提供一种双闭环磁损测量系统，包括正弦信号发生器、LabVIEW上位机系统、功率放大器和功率分析仪，所述LabVIEW上位机系统和正弦信号发生器，构成一个闭环系统，保证输出信号的频率和幅值的精度，正弦信号发生器、LabVIEW上位机系统、功率放大器和功率分析仪整体构成另一个闭环系统，上位机系统实时监测待测磁芯二次侧电压，确保测试结果的准确可靠性。进一步改进在于：待测磁芯的二次侧电压U2为：其中：f为频率，Bp为磁感应峰值，Ae为磁芯材料的磁芯截面积，N2为二次侧线圈匝数。进一步改进在于：LabVIEW上位机系统采集功率分析仪测量的磁芯功率信息，监测二次侧线圈电压实测值和理论值，实时修正信号源激励输出幅值。进一步改进在于：在LabVIEW上位机操作界面上设置好信号的频率和幅值，正弦信号发生器得到指令后产生对应的正弦信号，LabVIEW上位机实时监测信号的频率幅值信息，为整个磁损测量系统提供基本保障。本专利技术的有益效果：利用功率放大器提高正弦信号发生器信号的增益倍数，并将此信号加载到被测磁芯上，通过功率分析仪来采集一次侧电流和二次侧电压等功率信息并传回到LabVIEW上位机系统，处理数据获得磁芯损耗。其中LabVIEW上位机系统和正弦信号发生器构成一个闭环系统，保证输出信号的频率和幅值的精度。整个系统构成另一个闭环系统，上位机系统实时监测待测磁芯二次侧电压，确保测试结果的准确可靠性。附图说明图1是本专利技术的双闭环磁芯损耗测量系统示意图。图2是本专利技术的正弦信号源发生系统示意图。具体实施方式为了加深对本专利技术的理解，下面将结合实施例对本专利技术作进一步详述，该实施例仅用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术保护范围的限定。如图1-2所示，本实施例提供一种双闭环磁损测量系统，包括正弦信号发生器、LabVIEW上位机系统、功率放大器和功率分析仪，所述LabVIEW上位机系统和正弦信号发生器，构成一个闭环系统，保证输出信号的频率和幅值的精度，正弦信号发生器、LabVIEW上位机系统、功率放大器和功率分析仪整体构成另一个闭环系统，上位机系统实时监测待测磁芯二次侧电压，确保测试结果的准确可靠性。待测磁芯的二次侧电压U2为：其中：f为频率，Bp为磁感应峰值，Ae为磁芯材料的磁芯截面积，N2为二次侧线圈匝数。LabVIEW上位机系统采集功率分析仪测量的磁芯功率信息，监测二次侧线圈电压实测值和理论值，实时修正信号源激励输出幅值。在LabVIEW上位机操作界面上设置好信号的频率和幅值，正弦信号发生器得到指令后产生对应的正弦信号，LabVIEW上位机实时监测信号的频率幅值信息，为整个磁损测量系统提供基本保障。利用功率放大器提高正弦信号发生器信号的增益倍数，并将此信号加载到被测磁芯上，通过功率分析仪来采集一次侧电流和二次侧电压等功率信息并传回到LabVIEW上位机系统，处理数据获得磁芯损耗。其中LabVIEW上位机系统和正弦信号发生器构成一个闭环系统，保证输出信号的频率和幅值的精度。整个系统构成另一个闭环系统，上位机系统实时监测待测磁芯二次侧电压，确保测试结果的准确可靠性。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双闭环磁损测量系统，其特征在于：包括正弦信号发生器、LabVIEW上位机系统、功率放大器和功率分析仪，所述LabVIEW上位机系统和正弦信号发生器，构成一个闭环系统，保证输出信号的频率和幅值的精度，正弦信号发生器、LabVIEW上位机系统、功率放大器和功率分析仪整体构成另一个闭环系统，上位机系统实时监测待测磁芯二次侧电压，确保测试结果的准确可靠性。

【技术特征摘要】
1.一种双闭环磁损测量系统，其特征在于：包括正弦信号发生器、LabVIEW上位机系统、功率放大器和功率分析仪，所述LabVIEW上位机系统和正弦信号发生器，构成一个闭环系统，保证输出信号的频率和幅值的精度，正弦信号发生器、LabVIEW上位机系统、功率放大器和功率分析仪整体构成另一个闭环系统，上位机系统实时监测待测磁芯二次侧电压，确保测试结果的准确可靠性。2.如权利要求1所述的一种双闭环磁损测量系统，其特征在于：待测磁芯的二次侧电压U2为：其中：f为频率，Bp为磁感应...

【专利技术属性】
技术研发人员：田家良，崔林威，王奔，周岩，
申请(专利权)人：南京邮电大学，
类型：发明
国别省市：江苏,32