一种过零检测电路制造技术

本实用新型专利技术实施例提供一种过零检测电路，包括电阻R1‑R6和三极管Q1‑Q2，在系统上电时，三极管Q1的BE结上的电压小于BE结的导通电压，当输入端VIN的电压超过0V时，三极管Q1的BE结上的电压大于BE结的导通电压，三极管Q1导通，以致三极管Q2也导通，输出端VOUT由低电平变为高电平，同时电源VCC通过反馈电阻R4将滞回电压叠加在三极管Q1的BE结。本实用新型专利技术实施例，可以检测准确性。

A Zero-Crossing Detection Circuit

【技术实现步骤摘要】
一种过零检测电路
本技术涉及电子电路
，具体涉及一种过零检测电路。
技术介绍
过零检测电路用于检测波形从正半周向负半周转换或者从负半周向正半周转换。目前，比较通用的过零检测电路是将通过输入电信号的电压通过电阻分压后输入一个三极管的基极，一旦这个分压后的电压超过PN结的导通电压，三极管将导通，输出端由高电平转换为低电平。然而，由于输入电信号的周期较长，输入电信号过零时边沿不够陡峭，会输出一系列的高低脉冲，以致降低了检测的准确性。
技术实现思路
本技术实施例提供一种过零检测电路，用于提高检测的准确性。本技术提供一种过零检测电路，包括电阻R1-R6和三极管Q1-Q2，其中：所述R1的一端连接被检测电路，所述R1的另一端分别连接所述R2的一端、所述Q1的基极、所述R4的一端和所述R5的一端，所述Q1的集电极连接所述R3的一端，所述R3的另一端连接所述Q2的基极，所述R5的另一端和所述Q2的发射极分别用于连接电源VCC，所述Q2的集电极分别连接所述R4的另一端和所述R6的一端，所述R2的另一端、所述Q1的发射极和所述R6的另一端分别用于连接地端。在一个实施例中，所述过零检测电路还包括电容C1，其中：所述C1的一端连接所述R1的另一端，所述C1的另一端用于连接地端。在一个实施例中，所述过零检测电路还包括电容C2，其中：所述C2的一端连接所述R4的另一端，所述C2的另一端用于连接地端。在一个实施例中，所述过零检测电路还包括二极管D1，其中：所述D1的负极连接所述R1的另一端，所述D1的正极用于连接地端。本技术实施例中，在系统上电时，三极管Q1的BE结上的电压小于BE结的导通电压，当输入端VIN的电压超过0V时，三极管Q1的BE结上的电压大于BE结的导通电压，三极管Q1导通，以致三极管Q2也导通，输出端VOUT由低电平变为高电平，同时电源VCC通过反馈电阻R4将滞回电压叠加在三极管Q1的BE结上，以便滤除系统噪声，防止误触发，从而可以提高检测的准确性。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术实施例提供的一种过零检测电路的结构示意图；图2是本技术实施例提供的另一种过零检测电路的结构示意图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。本技术实施例提供一种过零检测电路，用于提高检测的准确性。以下分别进行详细说明。请参阅图1，图1是本技术实施例提供的一种过零检测电路的结构示意图。如图1所示，该过零检测电路可以包括电阻R1-R6和三极管Q1-Q2，其中：电阻R1的一端连接被检测电路，电阻R1的另一端分别连接电阻R2的一端、三极管Q1的基极、电阻R4的一端和电阻R5的一端，三极管Q1的集电极连接电阻R3的一端，电阻R3的另一端连接三极管Q2的基极，电阻R5的另一端和三极管Q2的发射极分别用于连接电源VCC，三极管Q2的集电极分别连接电阻R4的另一端和电阻R6的一端，电阻R2的另一端、三极管Q1的发射极和电阻R6的另一端分别用于连接地端。本实施例中，电阻R1和电阻R2组成降压电路。电阻R1、电阻R2和电阻R5形成偏置电压来补偿极管Q1的BE结的电压，即一旦输入端VIN的电压超过0V，三极管Q1将导通。三极管Q1导通后会使三极管Q2导通，电阻R6上的电压由低电平变为高电平，过零检测信号成功实现。电阻R3作为三极管Q2的限流电阻。电阻R4作为滞回电阻，一旦三极管Q2导通，电源VCC叠加到电阻R4、电阻R5和电阻R2上形成的反馈网络，这将形成一个滞回电压，只有干扰超过这个滞回电压时才会使得三极管Q1关闭，因此，可以通过调整反馈网络的电阻值，滤除掉相应的干扰噪声。此外，图中只示意出了一个输入端，也可以有两个输入端，另一个输入端可以为电阻R2的另一端，被检测电路可以为LN，L代表火线，N代表零线；也可以为变压器；还可以为编码器，还可以为其它电路，本实施例不作限定。过零检测电路的输出端VOUT可以连接微控制单元(MicrocontrollerUnit；MCU)，微控制单元可以通过输出端VOUT的电平转换来确定被检测电路什么时候过零。本实施例中，在系统上电时，三极管Q1的BE结上的电压小于BE结的导通电压，当输入端VIN的电压超过0V时，三极管Q1的BE结上的电压大于BE结的导通电压，三极管Q1导通，以致三极管Q2也导通，输出端VOUT由低电平变为高电平，同时电源VCC通过反馈电阻R4将滞回电压叠加在三极管Q1的BE结上，以便滤除系统噪声，防止误触发，从而可以提高检测的准确性。请参阅图2，图2是本专利技术实施例公开的另一种过零检测电路。其中，图2所示的过零检测电路是对图1所示的过零检测电路进行优化得到的，与图1所示的过零检测电路相比，图2所示的过零检测电路还可以包括电容C1，其中：电容C1的一端连接电阻R1的另一端，电容C1的另一端用于连接地端。本实施例中，电容C1为滤波电容，电阻R1、电容C1和电阻R2组成降压滤波电路，用于滤除干扰，保证输入电压的稳定性。作为一种可能的实施方式，过零检测电路还可以包括电容C2，其中：电容C2的一端连接电阻R4的另一端，电容C2的另一端用于连接地端。本实施例中，电容C2为滤波电容，用于滤除干扰，可以保证输出电压的稳定性。作为一种可能的实施方式，过零检测电路还可以包括二极管D1，其中：二极管D1的负极连接电阻R1的另一端，二极管D1的正极用于连接地端。本实施例中，二极管D1作为三极管Q1的反向保护二极管，可以钳位三极管Q1的BE结的电压。此外，当三极管Q1的BE结上的反向电压大于二极管D1的导通电压时，二极管D1将导通，可以将三极管Q1的BE结钳位在一个固定电压值。以上对本技术实施例进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本技术的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种过零检测电路，其特征在于，包括电阻R1‑R6和三极管Q1‑Q2，其中：所述R1的一端连接被检测电路，所述R1的另一端分别连接所述R2的一端、所述Q1的基极、所述R4的一端和所述R5的一端，所述Q1的集电极连接所述R3的一端，所述R3的另一端连接所述Q2的基极，所述R5的另一端和所述Q2的发射极分别用于连接电源VCC，所述Q2的集电极分别连接所述R4的另一端和所述R6的一端，所述R2的另一端、所述Q1的发射极和所述R6的另一端分别用于连接地端。

【技术特征摘要】
1.一种过零检测电路，其特征在于，包括电阻R1-R6和三极管Q1-Q2，其中：所述R1的一端连接被检测电路，所述R1的另一端分别连接所述R2的一端、所述Q1的基极、所述R4的一端和所述R5的一端，所述Q1的集电极连接所述R3的一端，所述R3的另一端连接所述Q2的基极，所述R5的另一端和所述Q2的发射极分别用于连接电源VCC，所述Q2的集电极分别连接所述R4的另一端和所述R6的一端，所述R2的另一端、所述Q1的发射极和所述R6的另一端分别用于连接地端。2.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：王鹏，吴爽，
申请(专利权)人：深圳和而泰智能控制股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44