测试工具制造技术

一种测试工具。该测试工具适于测试印刷电路板上的连接器；所述测试工具包括一处理器以及一测试组件；该处理器兼容于该印刷电路板的一处理器插槽，并且用以从测试主机接收一第一序列数据，以及将一第一序列数据转换为一第一平行数据；该测试组件兼容于该连接器并且耦接于该测试主机，其中当该处理器插接于该处理器插槽，并且该测试组件插接于该连接器时，该处理器还用以将该第一平行数据发送至该连接器，其中该测试组件用以从该连接器接收对应于该第一平行数据的一第二平行数据，将该第二平行数据转换为一第二序列数据，并且将该第二序列数据发送至该测试主机。本实用新型专利技术精准定位出印刷电路板上的问题接点，提升测试速度，支持现有边界扫描功能。

test tools

【技术实现步骤摘要】
测试工具
本技术涉及一种测试工具，且特别涉及一种用于测试印刷电路板的测试工具。
技术介绍
工厂在生产制造印刷电路板(PrintedCircuitBoard，PCB)时所着重的地方在于制程质量，因此需要确保PCB上的每个集成电路(IntegratedCircuit，IC)、电阻、电容以及电感等电子元件与PCB的焊接。以主机板来说，各式连接器诸如双列直插式存储器模块(DualIn-lineMemoryModule，DIMM)插槽与快速外设部件互连标准(PeripheralComponentInterconnectExpress，PCI-E)插槽等与扩展卡(add-oncard)的每个接点是否正常，也直接反映了主机板的质量。然而，对这些插槽进行测试会耗费相当多的时间。举例来说，一般服务器的主机板会搭载24个DIMM插槽与6个PCI-E插槽，一次开机的时间就长达十多分钟，而要找出有问题的插槽往往需要经过多次的重新开机。此外，倘若再考虑测试设备不稳定所造成的重测，测试一张主机板的插槽将耗费长达数小时的时间。因此，需要提供一种测试工具来解决上述问题。
技术实现思路
本技术一实施例的测试工具适于测试一印刷电路板上的一连接器，所述测试工具包括一处理器以及一测试组件；该处理器兼容于该印刷电路板的一处理器插槽，并且用以从测试主机接收一第一序列数据，以及将该第一序列数据转换为一第一平行数据；该测试组件兼容于该连接器并且耦接于该测试主机，其中当该处理器插接于该处理器插槽，并且该测试组件插接于该连接器时，该处理器还用以将该第一平行数据发送至该连接器，其中该测试组件用以从该连接器接收对应于该第一平行数据的一第二平行数据，将该第二平行数据转换为一第二序列数据，并且将该第二序列数据发送至该测试主机。本技术另一实施例的测试工具适于一测试印刷电路板上的一连接器，所述测试工具包括一处理器以及一测试组件；该处理器兼容于该印刷电路板的一处理器插槽，并且用以从测试主机接收一第一序列数据，以及将该第一序列数据转换为一第一平行数据；该测试组件兼容于该连接器并且包括多个第一接点对，其中各该第一接点对在该测试组件内形成一信号回路，其中当该处理器插接于该处理器插槽，并且该测试组件插接于该连接器时，该处理器还用以将该第一平行数据通过该连接器向该些第一接点对发送，从该连接器接收对应于该第一平行数据一的第二平行数据，将该第二平行数据转换为一第二序列数据，并且将该第二序列数据发送至该测试主机。本技术实施例所提出的测试工具，利用特殊设计的扩展卡形式的测试组件以及处理器，能够通过测试主机来更精准的定位出印刷电路板上的问题接点，并且提升测试速度。在本技术实施例中，特殊设计的测试组件与处理器能够支持现有的边界扫描功能，并且使用传统上仅能测试焊死在电路板上的接点的JTAG接口，来针对印刷电路板上的连接器的接点进行测试，无须多次的重新开机就能够更便利地定位出连接器中的问题接点。为让本技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图作详细说明如下。附图说明图1A绘示本技术一实施例的测试工具的示意图。图1B绘示本技术一实施例的测试组件的示意图。图2绘示本技术另一实施例的测试工具的示意图。图3绘示本技术一实施例的测试系统的示意图。主要组件符号说明：10测试系统11上盖12下座13气压阀110处理器120-1、120-2、120-3、120-4、120-i、120’测试组件121、121’控制器122信号输入端123信号输出端124接点125切换开关126第一接点对127第二接点对200印刷电路板210处理器插槽220-1、220-2、220-3、220-4、220-i、240连接器230转接器300测试主机I1第一JTAG接口I2第二JTAG接口P0、P1、P2、P3、P2n、P2n+1处理器接点SD1第一序列数据SD2第二序列数据具体实施方式本技术实施例所提出的测试工具支持边界扫描(boundaryscan)功能，能够搭配诸如x1149边界扫描分析仪等测试主机来利用JTAG技术测试印刷电路板上可插拔的连接器与测试工具中的测试组件的连接状态，进而得知连接器的制程质量，例如包括连接器每一个接点的焊接状况以及插槽或卡榫的接合度等。以下实施例将以双列直插式存储器模块(DualIn-lineMemoryModule，DIMM)连接器以及快速外设部件互连标准(PeripheralComponentInterconnectExpress，PCI-E)连接器的测试工具进行介绍，但本技术并不限于此。图1A绘示本技术一实施例的测试工具的示意图。请参照图1，测试工具可用于测试印刷电路板200上的连接器220-1、220-2、220-3、220-4。在本实施例中，连接器220-1、220-2、220-3、220-4分别是DIMM连接器，但本技术并不限于此，本技术实施例中的测试工具也可以用来测试其他各种类型的连接器。除了连接器220-1、220-2、220-3、220-4之外，本实施例中待测的印刷电路板200上还包括处理器插槽210以及转接器230，其中处理器插槽210通过印刷电路板200上的布线(trace)分别电性连接于连接器220-1、220-2、220-3、220-4以及转接器230，但本技术并不限于此。测试工具包括处理器110以及测试组件120-1、120-2、120-3、120-4。在本实施例中，处理器110经配置以兼容于印刷电路板200上的处理器插槽210，而每一个测试组件120-1、120-2、120-3、120-4经配置以兼容于印刷电路板200上的连接器220-1、220-2、220-3、220-4。必须说明的是，本技术并不限制测试组件的数量与连接接口，测试组件是对应于待测的印刷电路板上的连接器的数量与连接接口来进行设置。图1B绘示本技术一实施例的测试组件的示意图。图1B中以测试组件120-1为例来进行说明，而其他测试组件120-2、120-3、120-4可依此类推。请参照图1B，测试组件120-1的接口与形状皆设计为兼容于连接器220-1，并且包括控制器121、信号输入端122、信号输出端123以及多个接点124，其中信号输入端122、信号输出端123以及多个接点124皆通过测试组件120-1上的布线电性连接于控制器121。请回到图1A，测试组件120-1、120-2、120-3、120-4耦接于测试主机300。在本实施例中，测试主机300是支持边界扫描功能的JTAG测试主机，并且包括两个JTAG接口(例如，第一JTAG接口I1与第二JTAG接口I2)，每一个JTAG接口包括测试数据输入(TestDataInput，TDI)、测试数据输出(TestDataOutput，TDO)、测试时钟(TestClock，TCK)以及测试模式选择(TestModeSelection，TMS)四个接点。在本实施例中，测试组件120-1、120-2、120-3、120-4与测试主机300是串联地连接以形成一个信号回路。举例来说，测试主机300的第一JTAG接口I1的TDO接点是连接于测试组件120-1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试工具，其特征在于，该测试工具适于测试一印刷电路板上的一连接器，所述测试工具包括：一处理器，该处理器兼容于该印刷电路板的一处理器插槽，并且用以从测试主机接收一第一序列数据，以及将该第一序列数据转换为一第一平行数据；以及一测试组件，该测试组件兼容于该连接器并且耦接于该测试主机，其中当该处理器插接于该处理器插槽，并且该测试组件插接于该连接器时，该处理器还用以将该第一平行数据发送至该连接器，其中该测试组件用以从该连接器接收对应于该第一平行数据的一第二平行数据，将该第二平行数据转换为一第二序列数据，并且将该第二序列数据发送至该测试主机。

【技术特征摘要】
1.一种测试工具，其特征在于，该测试工具适于测试一印刷电路板上的一连接器，所述测试工具包括：一处理器，该处理器兼容于该印刷电路板的一处理器插槽，并且用以从测试主机接收一第一序列数据，以及将该第一序列数据转换为一第一平行数据；以及一测试组件，该测试组件兼容于该连接器并且耦接于该测试主机，其中当该处理器插接于该处理器插槽，并且该测试组件插接于该连接器时，该处理器还用以将该第一平行数据发送至该连接器，其中该测试组件用以从该连接器接收对应于该第一平行数据的一第二平行数据，将该第二平行数据转换为一第二序列数据，并且将该第二序列数据发送至该测试主机。2.如权利要求1所述的测试工具，其特征在于，该测试组件包括：一信号输出端，该信号输出端耦接于该测试主机；以及一控制器，该控制器耦接于该信号输出端，用以从该连接器接收对应该第一平行数据的该第二平行数据，将该第二平行数据转换为该第二序列数据，并且通过该信号输出端输出该第二序列数据。3.如权利要求2所述的测试工具，其特征在于，该测试组件还包括：一信号输入端，该信号输入端用以耦接于另一测试组件的一信号输出端，其中该控制器耦接于该信号输入端，并且用以接收来自该另一测试组件的另一第二序列数据，以及通过该信号输出端输出该另一第二序列数据。4.如权利要求1所述的测试工具，其特征在于，该连接器为双列直插式存储器模块连接器。5.如权利要求1所述的测试工具，其特征在于，该第一序列数据包括JTAG测试数据，并且该测试主机包括JTAG测试主机。6.一种测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘冠麟，蔡孟儒，王超，黄安，杨婕，覃俊钦，
申请(专利权)人：纬创资通中山有限公司，纬联电子科技中山有限公司，纬创资通股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44