【技术实现步骤摘要】
一种研磨盘平面度测量仪
本技术涉及测量仪器领域，尤其是涉及一种研磨盘平面度测量仪。
技术介绍
现有的研磨盘平面度测量仪一般是将多个千分表设置在主机架上，用于测量平面度，测量的平面度实际上是千分表所在的点的高度差，例如CN201780094U公开的一种研磨盘平面度测量仪，其千分表在主架上不可移动，仅仅只能通过三个点的高度差来确定平面度，使用时误差特别大；并且由于千分表不可移动，当需要测量较大平面的平面度时就需要多次测量，需要测量较小的平面的平面度时，又无法测量。所以急需一种能调节千分表的研磨盘平面度测量仪。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供一种千分表能移动的研磨盘平面度测量仪。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种研磨盘平面度测量仪，包括主架和千分表，所述主架上设有滑槽，所述千分表在滑槽内水平移动。进一步，所述千分表包括测针，所述测针外设有轴套，所述轴套在滑槽内水平移动。进一步，所述主架上设有两个以上的底脚螺钉。进一步，所述底脚螺钉有三个，并呈等腰三角形排布。进一步，所述千分表有两个或者三个。进一步，所述千分表设于主架的同一滑槽内。本技术的有益效果：本技术在主架上设有滑槽，千分表可以在滑槽内水平移动，可以根据需要测量平面度的平面大小，调整千分表的位置，提高了测量效率，以及本技术的应用范围。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些...
【技术保护点】
1.一种研磨盘平面度测量仪，包括主架（1）和千分表（2），其特征在于，所述主架（1）上设有滑槽（3），所述千分表（2）在滑槽（3）内水平移动，所述千分表（2）包括测针（21），所述测针（21）外设有轴套（22），所述轴套（22）在滑槽（3）内水平移动。
【技术特征摘要】
1.一种研磨盘平面度测量仪，包括主架（1）和千分表（2），其特征在于，所述主架（1）上设有滑槽（3），所述千分表（2）在滑槽（3）内水平移动，所述千分表（2）包括测针（21），所述测针（21）外设有轴套（22），所述轴套（22）在滑槽（3）内水平移动。2.根据权利要求1所述研磨盘平面度测量仪，其特征在于，所述主架（1）上设有...
【专利技术属性】
技术研发人员：伍凤，姚杰，
申请(专利权)人：湖南机电职业技术学院，
类型：新型
国别省市：湖南,43
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