读写器测试平台制造技术

本发明专利技术公开一种读写器测试平台，用于检测非接触式IC卡读写器，其中，读写器测试平台包括机架、标准读写器、第一待检测读写器、微处理器以及安装于所述机架上的移动放置机构；机架具有一操作台；标准读写器包括电性连接的标准主机和所述标准感应器；第一待检测读写器包括电性连接的第一主机和第一感应器；微处理器分别与第一主机和标准主机电连接；移动放置机构位于操作台的上方，用以将非接触式IC卡反复贴近标准感应器和/或第一感应器，以实现对非接触式IC卡的读写检测。本发明专利技术技术方案可以提高检测非接触式IC卡读写器的检测效率和检测精度。

Reader Testing Platform

【技术实现步骤摘要】
读写器测试平台
本专利技术涉及测试设备
，特别涉及一种读写器测试平台。
技术介绍
目前广泛应用的交通卡、非接触式IC卡的读写器等，在投入市场之前都必须进行模拟测试实际刷卡使用时读写器的成功率，以便保证进入市场的均为性能合格的读写器，由于现有的测试手法是通过人手一张张将非接触式IC卡放在非接触式IC卡读写器进行检测，浪费了大量人力物力；以及现有的读写器的无法满足多种交通卡或非接触式IC卡的测试需要，而且无法对所测结果进行检验，存在检验精度低的情况。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提出一种读写器测试平台，旨在提高检验读写器的检测效率和检测精度。为实现上述目的，本专利技术提出的读写器测试平台，用于检测非接触式IC卡读写器，所述读写器测试平台包括：机架，具有一操作台；标准读写器，包括标准主机和标准感应器，所述标准主机和所述标准感应器电性连接；第一待检测读写器，包括第一主机和第一感应器，所述第一主机和所述第一感应器电性连接；微处理器，所述微处理器分别与所述第一主机和所述标准主机电连接；以及移动放置机构，安装于所述机架上，且位于所述操作台的上方，所述移动放置机构用以将非接触式IC卡反复贴近所述标准感应器和/或所述第一感应器，以实现对非接触式IC卡的读写检测。优选地，所述移动放置机构包括：第一横向移动机构，所述第一横向移动机构的移动方向为第一水平方向；第二横向移动机构，安装在所述第一横向移动机构的移动端上，所述第二横向移动机构的移动方向为第二水平方向，所述第一水平方向和所述第二水平方向垂直；纵向移动机构，安装在所述第二横向移动机构的移动端上，所述纵向移动机构的移动方向为竖直方向；吸取件，设于所述纵向移动机构的下端，用于吸取非接触式IC卡。优选地，所述读写器测试平台还包括与所述纵向移动机构电连接的控制器，所述控制器用于控制将非接触式IC卡分别置于距所述第一感应器不同高度的位置处，以检测所述第一感应器的感应距离。优选地，所述标准感应器和所述第一感应器的上表面设有供非接触式IC卡放置的第一容置槽。优选地，所述读写器测试平台还设有第二待检测读写器，包括第二主机和第二感应器，所述第二主机和所述第二感应器电性连接，所述微处理器与所述第二主机相连；所述第二感应器的上表面设有供非接触式IC卡放置的第二容置槽，所述第一容置槽的面积大于所述第二容置槽的面积。优选地，所述读写器测试平台还包括读写器检测装置，设于所述操作台上，所述读写器检测装置包括检测线圈，所述吸取件吸取所述检测线圈至靠近所述第一感应器的上方，以使所述检测线圈产生检测信号；或所述吸取件吸取所述检测线圈至靠近所述第二感应器的上方，以使所述检测线圈产生检测信号。优选地，所述标准感应器和所述第一感应器以及所述第二感应器可拆卸安装在所述操作台上。优选地，所述标准感应器和所述第一感应器以及所述第二感应器以螺钉连接、胶粘的方式固定安装于所述操作台上。优选地，所述操作台设置有可放置多个非接触式IC卡的收纳盒。所述第一待检测读写器设有多个，且在所述操作台上呈多排设置；和/或所述第二待检测读写器设有多个，且在所述操作台上呈多排设置。本专利技术技术方案通过采用具有移动放置机构和微处理器的读写器测试平台，移动放置机构将非接触式IC卡反复贴近所述标准感应器和/或所述第一感应器，以实现对非接触式IC卡的读写检测，以此可以快速地对待检测读写器进行检测，通过微处理器对比待检测读写器和标准读写器的参数数据，从而检测出待检测读写器是否符合要求。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本专利技术读写器测试平台一实施例的结构示意图；图2为本专利技术读写器测试平台一实施例的结构示意图；图3为本专利技术读写器测试平台一实施例的结构俯视示意图。附图标号说明：本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。需要说明，若本专利技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。另外，若本专利技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义为，包括三个并列的方案，以“A和/或B”为例，包括A方案、或B方案，或A和B同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本专利技术要求的保护范围之内。本专利技术提出一种读写器测试平台。在本专利技术一实施例中，如图1所示，该读写器测试平台1包括：机架2，具有一操作台10；标准读写器101，包括标准主机111和标准感应器112，所述标准主机111和所述标准感应器112电性连接；第一待检测读写器102，包括第一主机121和第一感应器122，所述第一主机121和所述第一感应器122电性连接；微处理器20，所述微处理器20分别与所述第一主机121和所述标准主机111电连接；以及移动放置机构200，安装于所述机架2上，且位于所述操作台10的上方，所述移动放置机构200用以将非接触式IC卡反复贴近所述标准感应器112和/或所述第一感应器122，以实现对非接触式IC卡的读写检测。非接触式IC卡读写器应用广泛，例如地铁进出闸门需要感应非接触式IC卡，公交上车需要感应非接触式IC卡，非接触式IC卡读写器需要检测不同类型的非接触式IC卡，其性能也显得尤为重要，本实施例中的读写器测试平台1，便是为了检验非接触式IC卡读写器是否符合标准。具体的，机架2具有操作台10，操作台10上设有用以放置非接触式IC卡的收纳盒30，其中，由于目前的非接触式IC卡形状和功能不同，为了非接触式IC卡读写器能够适应感应到不同的非接触式IC卡，收纳盒30设有多个，且多个所述收纳盒30内可放置有至少一张非接触式IC卡，非接触式IC卡在所述收纳盒30内可叠加放置。以标准读写器101的数据为标准数据，通过对比第一待检测读写器102的数据和标准读写器101的数据，从而检测待检测读写器是否符合要求。由于需要用非接触式IC卡检测非接触式IC卡读写器，因此还设有移动放置机构200，其中，移动放置机构200安装于所述机架2上，且位于所述操作台10的上方，所述抓取机构用以将所述收纳盒30内的非接触式IC卡反复贴近所述标准感应器112或者本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种读写器测试平台，用于检测非接触式IC卡读写器，其特征在于，所述读写器测试平台包括：机架，具有一操作台；标准读写器，包括标准主机和标准感应器，所述标准主机和所述标准感应器电性连接；第一待检测读写器，包括第一主机和第一感应器，所述第一主机和所述第一感应器电性连接；微处理器，所述微处理器分别与所述第一主机和所述标准主机电连接；以及移动放置机构，安装于所述机架上，且位于所述操作台的上方，所述移动放置机构用以将非接触式IC卡反复贴近所述标准感应器和/或所述第一感应器，以实现对非接触式IC卡的读写检测。

【技术特征摘要】
1.一种读写器测试平台，用于检测非接触式IC卡读写器，其特征在于，所述读写器测试平台包括：机架，具有一操作台；标准读写器，包括标准主机和标准感应器，所述标准主机和所述标准感应器电性连接；第一待检测读写器，包括第一主机和第一感应器，所述第一主机和所述第一感应器电性连接；微处理器，所述微处理器分别与所述第一主机和所述标准主机电连接；以及移动放置机构，安装于所述机架上，且位于所述操作台的上方，所述移动放置机构用以将非接触式IC卡反复贴近所述标准感应器和/或所述第一感应器，以实现对非接触式IC卡的读写检测。2.如权利要求1所述的读写器测试平台，其特征在于，所述移动放置机构包括：第一横向移动机构，所述第一横向移动机构的移动方向为第一水平方向；第二横向移动机构，安装在所述第一横向移动机构的移动端上，所述第二横向移动机构的移动方向为第二水平方向，所述第一水平方向和所述第二水平方向垂直；纵向移动机构，安装在所述第二横向移动机构的移动端上，所述纵向移动机构的移动方向为竖直方向；吸取件，设于所述纵向移动机构的下端，用于吸取非接触式IC卡。3.如权利要求2所述的读写器测试平台，其特征在于，所述读写器测试平台还包括与所述纵向移动机构电连接的控制器，所述控制器用于控制将非接触式IC卡分别置于距所述第一感应器不同高度的位置处，以检测所述第一感应器的感应距离。4.如权利要求3所述的读写器测试平台，其特征在于，所述标准感应器和所...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘志军，库文敏，郭建民，张博，周聆，李果凤，夏劲松，冯强，王晓城，刘乐，
申请(专利权)人：深圳市创自技术有限公司，深圳市地铁集团有限公司运营总部，
类型：发明
国别省市：广东,44