一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统技术方案

本发明专利技术适用于微波器件调试技术领域，提供了一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统，包括：根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。所述方法由于能为不同的微波器件提供不同的响应函数，以进行对不同微波器件调试的仿真，使得不用再利用微波器件实物进行调试学习，所以能够大大的降低学习成本。

A Simulation Method and System for Debugging Microwave Devices

【技术实现步骤摘要】
一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统
本专利技术属于微波器件调试
，尤其涉及一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统。
技术介绍
微波器件是指工作在微波波段的器件，通过电路设计，可将不同的微波器件组合成各种有特定功能的微波电路。微波器件在生产过程中存在加工误差，在使用的过程中也会发生磨损，同时随着使用环境(温度、湿度等)的变化，导致微波器件不能达到原有的设计标准。故需要对微波器件进行调试以达到设计标准。现有的调试方法是在微波器件中加入调谐部件，然后使用矢量网络分析仪对微波器件进行调试。但是，现有的调试技术只能针对同一种微波器件进行，若是要进行多种不同的微波器件的调试学习，则需要用到多种微波器件，然后再分别利用矢量网络分析仪进行调试，成本较高。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统，以解决现有技术中，采用微波器件实物来进行不同微波器件的调试学习导致的成本高的问题。本专利技术实施例的第一方面提供了一种用于调试微波器件的仿真方法，包括：根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。本专利技术实施例的第二方面提供了用于调试微波器件的仿真系统，包括：分析设备和仿真器；所述仿真器用于根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数，并将所述响应函数发送至所述分析设备；所述分析设备用于获取所述响应函数，并输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息；所述仿真器还用于获取基于所述值信息确定的响应参数的值，并基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。本专利技术实施例与现有技术相比存在的有益效果是：本专利技术实施例提供了一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统，首先根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；然后获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；最后基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。由于本专利技术实施例提供的仿真方法能够为不同的微波器件提供不同的响应函数，以进行对不同微波器件调试的仿真，使得在学习调试不同微波器件的时候，不用再去获取不同的微波器件的实物，也不用再利用矢量网络分析仪对微波器件进行测量，因此，能够大大的降低对不同微波器件的调试的学习成本。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1示出了本专利技术实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真方法的实现流程示意图；图2示出了本专利技术另一实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真方法的实现流程示意图；图3示出了本专利技术另一实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真方法的实现流程示意图；图4示出了本专利技术另一实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真方法的实现流程示意图；图5示出了本专利技术实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真系统的组成示意图；图6示出了本专利技术实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真系统的组成示意图；图7示出了本专利技术实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真系统的组成示意图；图8示出了本专利技术实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真系统的组成示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。微波器件是指工作在微波波段的器件，微波器件按其功能可分为微波振荡器、功率放大器、混频器、检波器、微波天线、微波传输线等。通过电路设计，可将这些器件组合成各种有特定功能的微波电路。通常，工程师以传输损耗、回波损耗、中心频率和阻带衰减等标准指标来衡量一个微波器件的性能。由于微波器件在生产过程中存在加工误差，在使用的过程中也会发生磨损，同时随着使用环境(温度、湿度)的变化，由此导致微波器件不能达到标准指标(即如上所述的设计标准)的要求。为了使微波器件能够达到标准指标的要求，需要对微波器件进行调试，绘制出利用不同响应参数得到的响应曲线或者响应函数的值，最后通过改变微波器件的响应参数，使其达到标准指标的要求。在以下实施例所举的例子中，均以三段线阻抗匹配器为例进行说明。实施例一图1示出了本专利技术实施例一提供的一种用于调试微波器件的仿真方法的实现流程。本实施例中的用于调试微波器件的仿真方法的执行主体为具有实现本专利技术实施例所述的用于调试微波器件的仿真方法的设备，具体地，该设备采用的开发板，可以包括但不限于Arduino控制器。详述如下：S101、根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数。第一调试指标，指的是待调试微波器件需要达到的标准指标。一个微波器件可能有不同的响应函数，同时可以有一个或多个第一调试指标。响应函数是用于反映响应参数和第二调试指标的关系的函数。其中，响应参数，指的是微波器件中，与调试指标相关的一个或一组参数，通过不断的修改响应参数的值，使得第二调试指标的值尽可能的接近第一调试指标，从而达到调试目的；第二调试指标，指的是在实际的仿真过程中，根据响应参数的实际值计算得到的调试指标。基于第一调试指标和第二调试指标可以得到目标函数，通过目标函数可以判断不同响应参数得到的第二调试指标和的第一调试指标之间的差异，从而判断是否结束调试。以三段线阻抗匹配器为例，假设现在要调试三段线阻抗匹配器的回波损耗，回波损耗指的是反射波功率与入射波功率的比例关系，则选择待调试的微波器件为：三段线阻抗匹配器；第一调试指标为满足标准指标的回波损耗的值。然后根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数：|S11|＝f(L1，L2，L3)，其中，L1、L2、L3为一组响应参数，用以表示三段线阻抗匹配器的三段传输线长度；响应函数值|S11|为第二调试指标，表示根据一组响应参数得到的实际回波损耗的值。在本专利技术实施例中，在步骤S101之前，还包括：配置不同微波器件的一个或多个响应函数。如上所述，由于一个微波器件可能包括一个第一调试指标或多个第一调试指标，相应地，在用于调试微波器件的仿真方法的设备中设置不同微波器件的一个或多个响应函数，以方便进行不同微波器件的不同第一调试指标的调试。S102、获取基于所述响应函数确定的响应参数的值。在用于调试微波器件的仿真方法的设备获取到响应函数之后，将获取到的响应函数或者响应函数的值发送到分析设备进行分析、判断，然后该分析设备再直接或间接地向用于调试微波器件的仿真方法的设备返回经过分析、判断后的响应参数的值，以使用于调试微波器件的仿真方法的设备获取到基于所述响应函数确定的响应参数的值。其中，分析设备包括但不限于电脑或服务器。分析设本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于调试微波器件的仿真方法，其特征在于，包括：根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。

【技术特征摘要】
1.一种用于调试微波器件的仿真方法，其特征在于，包括：根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。2.如权利要求1所述的仿真方法，其特征在于，在所述根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述调试指标对应的响应函数之前，还包括：配置不同微波器件的一个或多个响应函数。3.如权利要求1所述的仿真方法，其特征在于，所述获取基于所述响应函数确定的响应参数的值，包括：获取分析设备返回的基于所述响应函数确定的响应参数的值。4.如权利要求1所述的仿真方法，其特征在于，所述获取基于响应函数确定的所述响应参数的值，包括：获取由分析设备控制的稳压电源输出的电压值；获取基于所述电压值确定的响应参数的值。5.如权利要求1所述的仿真方法，其特征在于，所述获取基于响应函数确定的所述响应参数的值，包括：获取用于执行所述仿真方法的设备的电位旋钮的位置信息；获取基于所述位置信息确定的响应参数的值。6.如权利要求1至5任一项所述的仿真方法，其特征在于，所述基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试，包括：若基于所述第一调试指标和所述第二调试指标确定的差异在预设范围内，结束所述待调试的微波器件的调试。7.一种用于调试微波器件的仿真系统，其特征在于，包括分析设备和仿真器；所述仿真器用于根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调...

【专利技术属性】
技术研发人员：程庆沙，宋怡然，刘莹，江黄迪威，
申请(专利权)人：南方科技大学，
类型：发明
国别省市：广东,44