【技术实现步骤摘要】
一种电光调制器频率响应自动快速测量装置及方法
本公开属于电光测试领域，尤其涉及一种电光调制器频率响应自动快速测量装置及方法。
技术介绍
本部分的陈述仅仅是提供了与本公开相关的
技术介绍
信息，不必然构成在先技术。电光调制器可将射频信号调制到直流光上，实现信号由电到光的转换，是高速光传输系统中的核心器件。频率响应作为电光调制器的核心技术指标，在产品研制、生产中需要进行严格的测试。专利技术人发现，工程中常采用分离仪器搭建测试系统或采用一体化光波元件分析仪对电光调制器进行测试，采用分离仪器搭建测试系统存在方法复杂、校准困难的缺点，且两种方法每次测量均仅能测试一个电光调制器，存在测试效率低、测量重复性差的缺点，无法满足产线批量电光调制器频率响应的高精度快速测试需求。
技术实现思路
为了解决上述问题，本公开的第一个方面提供一种电光调制器频率响应自动快速测量装置，其可一次性对多路电光调制器的频率响应进行测试，大大提高了测量效率；同时针对测试链路中引入的器件采用双端口网络误差校准，提升了测量精度。为了实现上述目的，本公开采用如下技术方案：一种电光调制器频率响应自动快速测量装置，包括：光...
【技术保护点】
1.一种电光调制器频率响应自动快速测量装置，其特征在于，包括：光波元件分析仪，其用于从射频口输出射频调制信号并经1*n射频开关逐次传送至各个待测电光调制器中；保偏直流光信号源，其用于输出保偏直流光信号并经各个待测电光调制器中的射频调制信号调制成相应调制光信号，各个调制光信号分别经n*1耦合器的相应通道输出至光波元件分析仪的光端口；所述光波元件分析仪，还用于：测量被测链路的频率响应参数，再利用测量被测链路的频率响应参数除以1*n射频开关和n*1耦合器的已知频率响应参数的乘积，即可得到电光调制器的频率响应；其中，n为大于或等于2的正整数。
【技术特征摘要】
1.一种电光调制器频率响应自动快速测量装置，其特征在于，包括：光波元件分析仪，其用于从射频口输出射频调制信号并经1*n射频开关逐次传送至各个待测电光调制器中；保偏直流光信号源，其用于输出保偏直流光信号并经各个待测电光调制器中的射频调制信号调制成相应调制光信号，各个调制光信号分别经n*1耦合器的相应通道输出至光波元件分析仪的光端口；所述光波元件分析仪，还用于：测量被测链路的频率响应参数，再利用测量被测链路的频率响应参数除以1*n射频开关和n*1耦合器的已知频率响应参数的乘积，即可得到电光调制器的频率响应；其中，n为大于或等于2的正整数。2.如权利要求1所述的一种电光调制器频率响应自动快速测量装置，其特征在于，所述电光调制器频率响应自动快速测量装置，还包括：控制端，其用于控制光波元件分析仪从射频口输出射频调制信号，并控制1*n射频开关的开断使得射频调制信号依次传送至各个待测电光调制器中。3.如权利要求1所述的一种电光调制器频率响应自动快速测量装置，其特征在于，所述保偏直流光信号源，包括保偏激光源和1*n保偏分束器；所述保偏激光源用于输出保偏直流光信号并经1*n保偏分束器输出到各个待测电光调制器中。4.如权利要求1所述的一种电光调制器频率响应自动快速测量装置，其特征在于，1*n射...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩顺利，鞠军委，金辉，刘加庆，曲天阳，
申请(专利权)人：青岛兴仪电子设备有限责任公司，中国电子科技集团公司第四十一研究所，
类型：发明
国别省市：山东,37
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