直接热注射热分析制造技术

本公开整体涉及热分析，该热分析将热能直接施加到样品。

Direct Thermal Injection Thermal Analysis

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】直接热注射热分析相关申请本申请要求于2016年11月22日提交的标题为“直接热注射热分析(DirectThermalInjectionThermalAnalysis)”的美国临时专利申请序列号62/425,169的权益，该申请的内容全文以引用方式并入本文。
本公开整体涉及热分析，该热分析以电磁辐射(例如，光)的形式将热能直接施加到样品。
技术介绍
热分析领域是材料科学的分支，其中材料的特性随着温度的变化而被研究。较常见的热分析方法中的两种热分析方法是热重量分析(TGA)和差示扫描量热法(DSC)。TGA根据受控气氛中温度和时间测量样品质量的变化量和变化速率。DSC根据温度测量增加样品和参考物的温度所需的热量的量的差值。在DSC中，样品和参考物在整个实验中均保持在非常接近相同的温度。传统上，热分析仪器中样品(或样品和参考物)的加热是间接的。它可能涉及使用相对大的炉和/或加热单元以及大量的能量。热能由一个或多个加热元件供应，诸如灯或电导体。传统仪器加热和冷却缓慢，需要许多能量来使样品温度变化，并且需要定期的日常维护和替换。本公开涉及热分析，该热分析以电磁辐射的形式将热能直接施加到样品。电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于热分析的装置，包括：(i)天平；(ii)贮器，所述贮器具有内部表面和外部表面，其中所述内部表面或所述外部表面中的至少一者是反射的；(iii)电磁辐射源，所述电磁辐射源能够将电磁辐射递送到所述贮器；和(iv)样品束，所述样品束具有远侧端部和近侧端部，其中所述近侧端部连接到所述天平，并且所述远侧端部延伸到所述贮器中，所述远侧端部具有热电偶件并适于保持样品。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.11.22 US 62/425,1691.一种用于热分析的装置，包括：(i)天平；(ii)贮器，所述贮器具有内部表面和外部表面，其中所述内部表面或所述外部表面中的至少一者是反射的；(iii)电磁辐射源，所述电磁辐射源能够将电磁辐射递送到所述贮器；和(iv)样品束，所述样品束具有远侧端部和近侧端部，其中所述近侧端部连接到所述天平，并且所述远侧端部延伸到所述贮器中，所述远侧端部具有热电偶件并适于保持样品。2.根据权利要求1所述的装置，其中所述装置是热重分析仪或差示扫描量热计。3.根据权利要求1所述的装置，其中所述贮器具有开口，所述开口能够将电磁辐射传递到所述贮器中。4.根据权利要求3所述的装置，其中所述开口是透明窗口。5.根据权利要求1所述的装置，还包括延长器管，所述延长器管附接到所述天平或所述贮器，其中所述延长器管包封所述样品束。6.根据权利要求5所述的装置，其中所述延长器管是所述贮器的整体部分。7.根据权利要求1所述的装置，其中所述贮器的所述反射表面反射大于约80％的波长为约600nm至20000nm的入射电磁辐射。8.根据权利要求1所述的装置，还包括光耦合器，所述光耦合器与所述贮器开口电磁辐射连通。9.根据权利要求1所述的装置，还包括电磁辐射源，所述电磁辐射源与所述贮器电磁辐射连通。10.根据权利要求1所述的装置，其中所述贮器能够沿着所述样品束的纵向轴线从第一位置...

【专利技术属性】
技术研发人员：P帕尔默，S阿波斯托勒斯库，KE德拉加诺维奇，DJ马恩肯，V帕里赫，
申请(专利权)人：TA仪器沃特世有限责任公司，
类型：发明
国别省市：美国,US