一种服务器及其内存中的VDD电压的测试系统和方法技术方案

本发明专利技术公开了一种内存中的VDD电压的测试系统，应用于待测板卡中，包括：驱动信号发送模块，用于接收控制信号时向负载卡输出相应大小的驱动信号，以控制负载卡上的负载电流在第一预设电流范围内；负载卡；芯片治具，用于读取待测板卡上的VDD芯片的负载信息；负载信息包括VDD芯片的输出电压以及输出电流；处理模块，用于读取负载信息并进行显示。应用本申请的方案，可以方便地确定出负载电流从而提高检测效率，同时也有利于提高检测精度。本申请还提供了一种服务器及其内存中的VDD电压的测试方法，具有相应效果。

A Measurement System and Method of VDD Voltage in Server and Its Memory

【技术实现步骤摘要】
一种服务器及其内存中的VDD电压的测试系统和方法
本专利技术涉及服务器测试
，特别是涉及一种服务器及其内存中的VDD电压的测试系统和方法。
技术介绍
服务器的板卡在开发过程中，需要进行详细而严格的测试，内存部分是板卡的重要组成部分，是测试时需要重点关注的部分。内存测试中，VDD电压测试是重点关注的部分。在进行VDD电压测试时，通常是将一个或多个负载卡通过排线连接在一起，之后插在内存条卡槽上，对负载卡施加负载至预设值，量测负载卡上的VDD电压波形来验证是否符合要求。给负载卡加负载时，可参见图1，是通过驱动信号发送源对负载卡施加驱动信号来实现的，驱动信号的大小决定了负载的大小。由于施加到负载卡上的是驱动信号，而不是实际的负载，因此无法直接观测到负载的大小，需要从负载卡上量测负载电流的波形来观测负载大小。目前的方案中，会将示波器与负载卡上的负载电流侦测点连接，进而便可以得到负载电流。但是，示波器上量测出来的是电压信号，其与负载电流之间有一个确定的转换关系，例如针对某一种待测板卡，示波器显示为25mv时，相当于驱动信号发送源在负载卡上施加的负载电流为1A。由于无法直观地看出负载电流，而是需要检测人员进行转换计算，因此增加了工作量，也不利于提高检测效率，同时，不同类型的板卡，转换关系可能相应的不同，进一步地影响了检测效率。并且，驱动信号在发送端以及传输端都容易引入干扰，干扰会导致示波器的波形并非一条直线而是包含了杂讯的纹波，更加不利于工作人员直观方便地确定出负载电流。另一方面，示波器的检测精度也不高，即示波器本身容易引入干扰，使得示波器的量测结果存在误差，因此通过示波器的量测结果进行驱动信号大小的调节时，也就会导致对驱动信号的大小进行调节时存在误差的情况，影响检测精度。综上所述，如何更加方便地确定出负载电流以提高检测效率，同时提高检测精度，是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种服务器及其内存中的VDD电压的测试系统和方法，以提高检测效率，同时提高检测精度。为解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：一种内存中的VDD电压的测试系统，应用于待测板卡中，包括：驱动信号发送模块，用于接收控制信号时向负载卡输出相应大小的驱动信号，以控制所述负载卡上的负载电流在第一预设电流范围内；所述负载卡；芯片治具，用于读取所述待测板卡上的VDD芯片的负载信息；所述负载信息包括所述VDD芯片的输出电压以及输出电流；处理模块，用于读取所述负载信息并进行显示。优选的，所述处理模块还用于：当读取的所述输出电流在所述第一预设电流范围内，且判断出所述输出电压不在第一预设电压范围内时，输出第一提示信息。优选的，所述处理模块还用于：当读取的所述输出电流在第二预设电流范围内，且判断出所述输出电压不在第二预设电压范围内时，输出第二提示信息。优选的，所述芯片治具还用于：读取所述VDD芯片的输入电压、输入电流以及输出功率；所述处理模块还用于读取所述输入电压、所述输入电流以及所述输出功率并进行显示。优选的，还包括：数据记录模块，用于当所述处理模块读取的所述输出电流在第一预设电流范围内，且所述输出电压在第一预设电压范围内时，记录下当前的驱动信号的大小。一种内存中的VDD电压的测试方法，应用于待测板卡中，包括：驱动信号发送模块接收控制信号时向负载卡输出相应大小的驱动信号，以控制所述负载卡上的负载电流在第一预设电流范围内；芯片治具读取所述待测板卡上的VDD芯片的负载信息；所述负载信息包括所述VDD芯片的输出电压以及输出电流；处理模块读取所述负载信息并进行显示。优选的，还包括：当所述处理模块读取的所述输出电流在所述第一预设电流范围内，且判断出所述输出电压不在第一预设电压范围内时，输出第一提示信息。优选的，还包括：当所述处理模块读取的所述输出电流在第二预设电流范围内，且判断出所述输出电压不在第二预设电压范围内时，输出第二提示信息。优选的，还包括：数据记录模块在所述处理模块读取的所述输出电流在第一预设电流范围内，且所述输出电压在第一预设电压范围内时，记录下当前的驱动信号的大小。一种服务器，包括上述任一项所述的内存中的VDD电压的测试系统。应用本专利技术实施例所提供的技术方案，应用于待测板卡中，包括：驱动信号发送模块，用于接收控制信号时向负载卡输出相应大小的驱动信号，以控制负载卡上的负载电流在第一预设电流范围内；负载卡；芯片治具，用于读取待测板卡上的VDD芯片的负载信息；负载信息包括VDD芯片的输出电压以及输出电流；处理模块，用于读取负载信息并进行显示。本申请中，使用芯片治具进行VDD电压的测试。芯片治具作为精密器件，相较于示波器，其引入的干扰更低。芯片治具可以读取待测板卡上的VDD芯片的负载信息，其中，VDD芯片的输出电流也就是后端电路中的负载电流，处理模块可以读取负载信息并进行显示，相较于示波器，处理模块直接显示出了负载电流，无需人工计算，也就有利于工作人员直观方便地确定出负载电流，提高了检测效率。因此，本申请的方案可以方便地确定出负载电流从而提高检测效率，同时也有利于提高检测精度。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为现有技术中内存中的VDD电压的测试系统的结构示意图；图2为本专利技术中一种内存中的VDD电压的测试系统的结构示意图；图3为本专利技术一种具体实施方式中处理模块的显示内容示意图；图4为本专利技术中一种内存中的VDD电压的测试方法的实施流程图。具体实施方式本专利技术的核心是提供一种内存中的VDD电压的测试系统，可以方便地确定出负载电流从而提高检测效率，同时也有利于提高检测精度。为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参考图2，图2为本专利技术中一种内存中的VDD电压的测试系统的结构示意图，该测试系统应用于待测板卡中，包括：驱动信号发送模块10，用于接收控制信号时向负载卡20输出相应大小的驱动信号，以控制负载卡20上的负载电流在第一预设电流范围内；负载卡20；芯片治具30，用于读取待测板卡上的VDD芯片的负载信息；负载信息包括VDD芯片的输出电压以及输出电流；处理模块40，用于读取负载信息并进行显示。驱动信号发送模块10通常也可以称为驱动信号源或者驱动信号发送源，与负载卡20连接之后，可以在接收到控制信号时向负载卡20输出相应大小的驱动信号。控制信号可以由工作人员进行输入，例如通过相关按键进行控制信号的输入。控制信号中可以携带有相关指令信息，通过该指令信息决定驱动信号发送模块10输出的驱动信号的大小，即驱动信号发送模块10输出的驱动信号的大小是由控制信号决定的。通常，驱动信号发送模块10可以对当前输出的驱动信号的大小进行显示，以使得工作人员获知驱动信号的大小。驱动信号本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种内存中的VDD电压的测试系统，其特征在于，应用于待测板卡中，包括：驱动信号发送模块，用于接收控制信号时向负载卡输出相应大小的驱动信号，以控制所述负载卡上的负载电流在第一预设电流范围内；所述负载卡；芯片治具，用于读取所述待测板卡上的VDD芯片的负载信息；所述负载信息包括所述VDD芯片的输出电压以及输出电流；处理模块，用于读取所述负载信息并进行显示。

【技术特征摘要】
1.一种内存中的VDD电压的测试系统，其特征在于，应用于待测板卡中，包括：驱动信号发送模块，用于接收控制信号时向负载卡输出相应大小的驱动信号，以控制所述负载卡上的负载电流在第一预设电流范围内；所述负载卡；芯片治具，用于读取所述待测板卡上的VDD芯片的负载信息；所述负载信息包括所述VDD芯片的输出电压以及输出电流；处理模块，用于读取所述负载信息并进行显示。2.根据权利要求1所述的内存中的VDD电压的测试系统，其特征在于，所述处理模块还用于：当读取的所述输出电流在所述第一预设电流范围内，且判断出所述输出电压不在第一预设电压范围内时，输出第一提示信息。3.根据权利要求2所述的内存中的VDD电压的测试系统，其特征在于，所述处理模块还用于：当读取的所述输出电流在第二预设电流范围内，且判断出所述输出电压不在第二预设电压范围内时，输出第二提示信息。4.根据权利要求1所述的内存中的VDD电压的测试系统，其特征在于，所述芯片治具还用于：读取所述VDD芯片的输入电压、输入电流以及输出功率；所述处理模块还用于读取所述输入电压、所述输入电流以及所述输出功率并进行显示。5.根据权利要求1至4任一项所述的内存中的VDD电压的测试系统，其特征在于，还包括：数据记录模块，用于当所述处理模块读取的所述输出电流在第一预...

【专利技术属性】
技术研发人员：石德礼，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32