电路板瑕疵筛选方法及其装置与计算机可读取记录介质制造方法及图纸

本公开提供一种电路板瑕疵筛选方法及其装置与计算机可读取记录介质，该方法包括：接收瑕疵列表；获取瑕疵列表的多个瑕疵记录的多个瑕疵图像；接收线路布局图；依据线路布局图，分析瑕疵图像之中的第一瑕疵图像的瑕疵位置；依据第一瑕疵图像的瑕疵位置，对第一瑕疵图像进行裁切，以获得第一裁切瑕疵图像；将第一裁切瑕疵图像输入至瑕疵分类模型；以及依据瑕疵分类模型的输出结果，判断第一瑕疵图像为良品图像或非良品图像。

Screening Method for Circuit Board Defects and Its Device and Computer Readable Recording Media

【技术实现步骤摘要】
电路板瑕疵筛选方法及其装置与计算机可读取记录介质
本专利技术涉及一种检测技术，且特别涉及一种电路板瑕疵筛选方法及其装置与计算机可读取记录介质。
技术介绍
在工业工艺中，电路板成品会进一步经过自动光学检测(AutomatedOpticalInspection，AOI)的程序，进而筛选出可能存在瑕疵的电路板。为了确保印刷电路板的良率，瑕疵检测所设定的标准很严格。如此一来，虽然自动光学检测机台可以有效的检测出瑕疵电路板，却也导致瑕疵误判的机率很高。因此，在制作过程中需导入作业人员，以进一步对于自动光学检测机台所判定的瑕疵电路板进行复检。而在此过程中，如何能够维持印刷电路板的良率，同时缩减瑕疵列表中的误判案例，以降低人工复检的负荷，此为本领域技术人员所需解决的问题。
技术实现思路
本公开提供一种电路板瑕疵筛选方法及其装置与计算机可读取记录介质，以缩减瑕疵列表中的误判案例，降低人工复检的负荷。本公开提供的电路板瑕疵筛选方法包括：接收瑕疵列表；获取瑕疵列表的多个瑕疵记录的多个瑕疵图像；接收线路布局图；依据线路布局图，分析瑕疵图像之中的第一瑕疵图像的瑕疵位置；依据第一瑕疵图像的瑕疵位置，对第一瑕疵图像进行裁切，以获得第一裁切瑕疵图像；将第一裁切瑕疵图像输入至一瑕疵分类模型；以及依据瑕疵分类模型的输出结果，判断第一瑕疵图像为良品图像或非良品图像。本公开提供的电路板瑕疵筛选装置包括输入单元、存储单元以及处理单元。输入单元接收瑕疵列表以及线路布局图。瑕疵列表具有多个瑕疵记录。输入单元还获取瑕疵记录的多个瑕疵图像。存储单元存储多个模块。处理单元连接于输入单元及存储单元。处理单元执行线路比对模块以及瑕疵分类模块。线路比对模块依据线路布局图，分析瑕疵图像之中的第一瑕疵图像的瑕疵位置，并依据第一瑕疵图像的瑕疵位置，对第一瑕疵图像进行裁切，以获得第一裁切瑕疵图像。瑕疵分类模块，将第一裁切瑕疵图像输入至瑕疵分类模型，依据瑕疵分类模型的输出结果，判断第一瑕疵图像为良品图像或非良品图像。本公开提供的计算机可读取记录介质存储至少一程序代码，当电子装置载入并执行此程序代码后，可完成上述电路板瑕疵筛选方法。基于上述，本公开提供的电路板瑕疵筛选装置与电路板瑕疵筛选方法能够通过线路布局图及瑕疵列表的相互比对判断瑕疵图像所属的瑕疵类别，进而判断瑕疵图像属于良品图像或非良品图像。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。附图说明图1是根据本公开一范例实施例所绘示的电路板瑕疵筛选装置的示意图。图2是根据本公开一范例实施例所绘示的电路板瑕疵筛选装置的示意图。图3是根据本公开一范例实施例所绘示的电路板瑕疵筛选方法的流程图。【符号说明】5：电路板10：自动光学检查装置20：验证修复机台100：电路板瑕疵筛选装置110：输入单元120：存储单元122：线路比对模块124：瑕疵分类模块130：处理单元S310～S370：步骤具体实施方式图1是根据本公开一范例实施例所绘示的电路板瑕疵筛选装置的示意图。请参照图1，在工业工艺的流程中，完成的电路板5会被送入自动光学检查装置10(AutomatedOpticalInspection，AOI)，以进行初步的瑕疵筛检。存在瑕疵的电路板主要是因工艺过程的失误导致电路板发生短路、断路等情形，使得电路板通电后没办法执行预期的功能。藉由通过光学元件扫描电路板5，自动光学检查装置10会通过扫描图像判断线路的完整性，进而找出疑似存在瑕疵的电路板。自动光学检查装置10所检测出来的瑕疵电路板以及瑕疵位置会被汇整成瑕疵列表并输入至验证修复机台20(Verifiedrepairedsystem，VRS)，以筛选被误报的瑕疵。验证修复机台20会将光学元件移动至瑕疵位置获取图像，并通过人工对图像判读，以确认瑕疵是否为真。然而，由于自动光学检查装置10所设置的瑕疵标准很容易被满足，因此被误报的瑕疵相当多。举例来说，当电路板5上发生沾黏皮屑、脏污、残胶等缺陷，自动光学检查装置10会因图像上的阴影判定此为电路板5的瑕疵。然而，这些缺陷多半在电路板经过清洁过程或经过封装后被克服，此即属于被误报的瑕疵。在实际的生产中，误报瑕疵的比例可以高达瑕疵列表的97％，特别是沾黏皮屑、脏污、残胶等缺陷可以高达瑕疵列表中的60％。为了要降低瑕疵列表的长度以减少人工复检的工作量，本公开进一步提供了电路板瑕疵筛选装置100。自动光学检查装置10所检测出的瑕疵列表会先被输入至电路板瑕疵筛选装置100筛选，减少瑕疵列表的误判案例，再将缩减后的瑕疵列表送往验证修复机台20进行人工校验。图2是根据本公开一范例实施例所绘示的电路板瑕疵筛选装置的示意图。请参照图2，电路板瑕疵筛选装置100包括输入单元110、存储单元120以及处理单元130。输入单元110用以接收瑕疵列表、瑕疵图像以及线路布局图。在本公开的一范例实施例中，输入单元110会以通信芯片来实作。举例来说，电路板瑕疵筛选装置100会通过通信芯片通信连接于自动光学检查装置10以及使用者的终端装置，基此，当自动光学检查装置10检查完电路板后，会将瑕疵列表及瑕疵图像直接传送而输入至电路板瑕疵筛选装置100之中。此外，使用者也可以在终端装置中点选线路布局图，并通过通信芯片传送而输入至电路板瑕疵筛选装置100中。在本公开的另一范例实施例中，电路板瑕疵筛选装置输入单元110也可以采用各类输入端口，例如：通用串行总线(UniversalSerialBus，USB)、串行端口(SerialPort)、火线(FireWire，采用IEEE1394标准)、VME总线等，并同时采用键盘、鼠标、触控面板等实体元件结合，以接收使用者的操作。存储单元120用以存储各类模块以及运行电路板瑕疵筛选装置100时的各类必要数据与程序代码。特别是，在本公开的实施例中，存储单元120中具有线路比对模块122以及瑕疵分类模块124。线路比对模块122会依据线路布局图，分析瑕疵图像之中的第一瑕疵图像的瑕疵位置，并依据第一瑕疵图像的瑕疵位置，对第一瑕疵图像进行裁切，以获得第一裁切瑕疵图像。瑕疵分类模块124会将第一裁切瑕疵图像输入至瑕疵分类模型，依据瑕疵分类模型的输出结果，判断第一瑕疵图像为良品图像或非良品图像。如何通过线路比对模块122与瑕疵分类模块124完成电路板瑕疵筛选装置100的操作将于后方说明。处理单元130连接于输入单元110以及存储单元120。处理单元130用以执行电路板瑕疵筛选装置100所需的各类运算，特别是，处理单元130会运行线路比对模块122与瑕疵分类模块124，以执行本公开的电路板瑕疵筛选方法。在本公开的实施例中，处理单元130可以中央处理单元(CentralProcessingUnit，CPU)，或是其他可编程的一般用途或特殊用途的微处理器(Microprocessor)、数字信号处理器(DigitalSignalProcessor，DSP)、可编程控制器、特殊应用集成电路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit，ASIC)或其他类似元件或上述元件的组合，本公开不限于此。值得一提的是，在本公开的一范例实施例中，电路板瑕疵筛选装置100是以独立的装置运行。或者是，在本公本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电路板瑕疵筛选方法，包括：接收瑕疵列表；获取该瑕疵列表的多个瑕疵记录的多个瑕疵图像；接收线路布局图；依据该线路布局图，分析这些瑕疵图像之中的第一瑕疵图像的瑕疵位置；依据该第一瑕疵图像的瑕疵位置，对该第一瑕疵图像进行裁切，以获得第一裁切瑕疵图像；将该第一裁切瑕疵图像输入至瑕疵分类模型；以及依据该瑕疵分类模型的输出结果，判断该第一瑕疵图像为良品图像或非良品图像。

【技术特征摘要】
2018.07.03 TW 107122979;2018.01.05 US 62/613,7781.一种电路板瑕疵筛选方法，包括：接收瑕疵列表；获取该瑕疵列表的多个瑕疵记录的多个瑕疵图像；接收线路布局图；依据该线路布局图，分析这些瑕疵图像之中的第一瑕疵图像的瑕疵位置；依据该第一瑕疵图像的瑕疵位置，对该第一瑕疵图像进行裁切，以获得第一裁切瑕疵图像；将该第一裁切瑕疵图像输入至瑕疵分类模型；以及依据该瑕疵分类模型的输出结果，判断该第一瑕疵图像为良品图像或非良品图像。2.如权利要求1所述的电路板瑕疵筛选方法，其中将该第一裁切瑕疵图像输入至瑕疵分类模型的步骤包括：将该第一瑕疵图像输入至卷积类神经网络模型，以提取该第一瑕疵图像的瑕疵特征；以及依据参考图像组特征分类该瑕疵特征，以产生该输出结果。3.如权利要求1所述的电路板瑕疵筛选方法，其中将该第一裁切瑕疵图像输入至瑕疵分类模型的步骤包括：提取该第一裁切瑕疵图像的瑕疵轮廓；依据该瑕疵轮廓分析该第一裁切瑕疵图像，以产生瑕疵量化特征；以及依据参考量化特征组分类该瑕疵量化特征，以产生该输出结果。4.如权利要求1所述的电路板瑕疵筛选方法，还包括：分析该第一瑕疵图像的瑕疵色阶；判断该瑕疵色阶是否与该线路布局图的版材颜色或线材颜色相同；以及当该瑕疵色阶相同于该版材颜色或该线材颜色，判断该第一瑕疵图像为该非良品图像。5.如权利要求1所述的电路板瑕疵筛选方法，依据该线路布局图，分析这些瑕疵图像之中的该第一瑕疵图像的瑕疵位置的步骤包括：依据该线路布局图的比例调整该第一瑕疵图像的比例；比对该线路布局图及该第一瑕疵图像，以获取该第一瑕疵图像在该线路布局图中的位置；以及校正该第一瑕疵图像与该线路布局图中的位置，以获取该瑕疵位置。6.一种电路板瑕疵筛选装置，包括：输入单元，接收瑕疵列表...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁明况，罗安钧，邓宇珊，沈志明，戴明吉，
申请(专利权)人：财团法人工业技术研究院，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71