一种降低碎米率的精制大米加工方法技术

技术编号:21589127 阅读:20 留言:0更新日期:2019-07-13 13:43
本发明专利技术公开了一种降低碎米率的精制大米加工方法,所述方法包括以下步骤:稻谷筛选、去石、砻谷、谷糙分离、糙米精选、多级轻碾、白米分级抛光、白米精选。该降低碎米率的精制大米加工方法通过对传统精制大米加工方法的改进和对传统色选机的升级,改变大米生产工艺流程,降低成品碎米率,提高成品光泽度,简化生产工艺,节省厂房空间,提高大米加工工艺自动化水平的目的。

A Processing Method of Refined Rice to Reduce the Rate of Crushed Rice

【技术实现步骤摘要】
一种降低碎米率的精制大米加工方法
本专利技术涉及一种大米加工方法,具体涉及一种降低碎米率的精制大米加工方法。
技术介绍
稻谷是中国和东亚,东南亚的第一大粮食品种,并且米制品具有独特的芳香风味和易于消化的特点,因此大米及其制品具有最广泛的消费对象、巨大的发展潜力和广阔的市场,对其研究开发有很大的社会效益和经济效益,其加工方法随科技的进步一直在不断完善和提高。目前的精制大米在加工过程中,物料须经多次机械摩擦程序后才能成为成品,导致碎米比率比较高,大米的光泽度不佳,影响米饭口感和色泽。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种降低碎米率的精制大米加工方法,其可以降低成品碎米率,提高成品光泽度,简化生产工艺,节省厂房空间,提高大米加工工艺自动化水平。为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种降低碎米率的精制大米加工方法,所述方法包括以下步骤:(1)稻谷筛选:先采用滚筒筛和振动筛,去除稻谷中的杂草和枝叶,然后采用风选法清除稻谷中的灰尘等轻杂质;(2)去石:采用去石机去除稻谷中的石块;(3)砻谷:通过砻谷机去除稻谷壳;(4)谷糙分离:采用谷糙分离机将糙米与未脱壳的稻谷分离开,分离率>99%;(5)糙米精选:采用厚度分级机对糙米进行厚度分级;(6)多级轻碾:采用碾米机进行多级轻碾;(7)白米分级抛光:采用白米分离筛将完整粒与不完整粒分离,然后利用抛光机对白米进行多级抛光;(8)白米精选:利用色选机对步骤(7)得到的白米进行长度和颜色的精选分级,然后包装入库。优选地,所述步骤(3)中,砻谷时,砻骨机胶棍的间隙不超过1.5mm,脱壳率>87%。优选地,所述步骤(8)中,所述色选机包括进料模块、物料导引模块、光学检测模块、光学成像模块、图像处理模块、控制模块,所述进料模块用于向颗粒导引装置传送物料,所述物料导引模块用于导引物料到检测区,所述光学检测模块用于对检测区的物料进行光照、光学检测,所述光学检测模块中的光源包括前照明光源和背光光源,所述光学成像模块对被照明的物料和背景进行成像,所述图像处理模块用于处理光学成像模块传输的图像信号,由图像处理算法介入进行图像处理,得到喷阀控制信号,进而通过气动喷阀驱动器对喷阀进行开启,实现对目标物料的分选。优选地,所述图像处理模块采用嵌入式处理电路模块。与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:本专利技术通过对传统精制大米加工方法的改进和对传统色选机的升级,改变大米生产工艺流程,降低成品碎米率,提高成品光泽度,简化生产工艺,节省厂房空间,提高大米加工工艺自动化水平的目的。附图说明图1是本专利技术实施例中图像处理模块对图像处理的框架图;图2是本专利技术实施例中前照明光源和背光光源的光源方向示意图;图3是本专利技术实施例中图像处理算法的示意图;图中,1、背光光源,2、物料,3、前照明光源。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。一种降低碎米率的精制大米加工方法,所述方法包括以下步骤:(1)稻谷筛选:先采用滚筒筛和振动筛,去除稻谷中的杂草和枝叶,然后采用风选法清除稻谷中的灰尘等轻杂质;(2)去石:采用去石机去除稻谷中的石块;(3)砻谷:通过砻谷机去除稻谷壳,砻谷时,砻骨机胶棍的间隙不超过1.5mm,脱壳率>87%;(4)谷糙分离:采用谷糙分离机将糙米与未脱壳的稻谷分离开,分离率>99%;(5)糙米精选:采用厚度分级机对糙米进行厚度分级;(6)多级轻碾:采用碾米机进行多级轻碾;(7)白米分级抛光:采用白米分离筛将完整粒与不完整粒分离,然后利用抛光机对白米进行多级抛光;(8)白米精选:利用色选机对步骤(7)得到的白米进行长度和颜色的精选分级,然后包装入库,所述色选机包括进料模块、物料导引模块、光学检测模块、光学成像模块、图像处理模块、控制模块,所述进料模块用于向颗粒导引装置传送物料,所述物料导引模块用于导引物料到检测区,所述光学检测模块用于对检测区的物料进行光照、光学检测,所述光学检测模块中的光源包括前照明光源和背光光源,所述光学成像模块对被照明的物料和背景进行成像,所述图像处理模块采用嵌入式处理电路模块,提高图像处理算法的实现效率,实现对碎米的精细分选,所述图像处理模块用于处理光学成像模块传输的图像信号,由图像处理算法介入进行图像处理,得到喷阀控制信号,进而通过气动喷阀驱动器对喷阀进行开启,实现对目标物料的分选。色选机工作原理:物料经进料模块、物料导引模块进入检测器,通过前照明光源和背光光源照明(光源方向如图2所示),经光学检测模块对被照明的物料和背景进行成像,采用光学成像模块对物料和背景进行成像,图像信号传输到嵌入式处理模块中,由图像处理算法介入进行图像处理,得到喷阀控制信号,进而通过气动喷阀驱动器对喷阀进行开启,实现对目标物料的分选,图像处理框架图如图1所示。在色选机中,依靠光学成像原理同时获得每一粒大米的形状和颜色特征,通过高速气动喷阀实现分选,相对于传统工艺,分选原理为气动,分选过程无明显机械摩擦,可以做到对大米的最好的保护,不会产生增碎,同时不会因为机械摩擦产生新的米粉造成大米光泽度下降;同时分选的识别原理为图像处理的方式,相对传统的机械方式可以提供更高精度的分析和选出率,进一步提高大米的成品精度;图像处理的方式还可以根据图像分析出碎米的大小做进一步的精细分级处理,并可以实现下脚料的进一步分级,以保证碎米产生更好的价值。图像处理算法如图3所示,具体算法如下:首先对原始图像进行二值化处理,然后对图像进行判断是否为孤立米粒,如果是孤立米粒可以直接进行面积判断,如果是相连米粒要进行图像分割操作,根据分割后的图像进行面积判断,在面积判断中按照米的分级标准设定预设值做出是否为碎米的判断,如果判定为碎米,则输出喷阀打击信号进行分选。以上内容仅仅是对本专利技术结构所作的举例和说明,所属本
的技术人员对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代,只要不偏离本专利技术的结构或者超越本权利要求书所定义的范围,均应属于本专利技术的保护范围。本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种降低碎米率的精制大米加工方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:(1)稻谷筛选:先采用滚筒筛和振动筛,去除稻谷中的杂草和枝叶,然后采用风选法清除稻谷中的灰尘等轻杂质;(2)去石:采用去石机去除稻谷中的石块;(3)砻谷:通过砻谷机去除稻谷壳;(4)谷糙分离:采用谷糙分离机将糙米与未脱壳的稻谷分离开,分离率>99%;(5)糙米精选:采用厚度分级机对糙米进行厚度分级;(6)多级轻碾:采用碾米机进行多级轻碾;(7)白米分级抛光:采用白米分离筛将完整粒与不完整粒分离,然后利用抛光机对白米进行多级抛光;(8)白米精选:利用色选机对步骤(7)得到的白米进行长度和颜色的精选分级,然后包装入库。

【技术特征摘要】
1.一种降低碎米率的精制大米加工方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:(1)稻谷筛选:先采用滚筒筛和振动筛,去除稻谷中的杂草和枝叶,然后采用风选法清除稻谷中的灰尘等轻杂质;(2)去石:采用去石机去除稻谷中的石块;(3)砻谷:通过砻谷机去除稻谷壳;(4)谷糙分离:采用谷糙分离机将糙米与未脱壳的稻谷分离开,分离率>99%;(5)糙米精选:采用厚度分级机对糙米进行厚度分级;(6)多级轻碾:采用碾米机进行多级轻碾;(7)白米分级抛光:采用白米分离筛将完整粒与不完整粒分离,然后利用抛光机对白米进行多级抛光;(8)白米精选:利用色选机对步骤(7)得到的白米进行长度和颜色的精选分级,然后包装入库。2.根据权利要求1所述的一种降低碎米率的精制大米加工方法,其特征在于:所述步骤(3)中,砻谷时,砻骨机胶棍的间隙不超...

【专利技术属性】
技术研发人员:高小荣高春李友一高杨张云栋胡焦刘成杨磊卢萍
申请(专利权)人:安徽捷迅光电技术有限公司
类型:发明
国别省市:安徽,34

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