【技术实现步骤摘要】
电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定装置及测定方法
本专利技术涉及温度检测
，特别涉及一种电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定装置，还涉及电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定方法。
技术介绍
在现有测温技术中，有接触测温和非接触测温两大类。接触测温一般使用热敏电阻或是热电偶等热敏器件。接触测温本身就会有延迟，因为待测物体要传热给热敏器件，才能进行测量。并且热敏器件的温度耐受能力有限，应用在高温器件测温环境中老化速度快，并且在一些应用环境中也无法实现与测温目标物的直接接触，应用范围受限。非接触测温主要是红外测温，通常采用红外温度传感器进行测温。红外温度传感器主要利用辐射热效应，使得使探测器件接收辐射能后引起温度升高，进而使红外温度传感器中某一性能随着温度的变化而发生变化，进而获取温度信号。根据光学原理，α+ρ+τ＝1，其中α表示吸收率，ρ表示反射率，τ表示透射率。根据基尔霍夫定律可知，α＝e，其中e表示发射率，对于不透明材质的物体，τ＝0，则有e+ρ＝1，即不透明物体表面的反射率越高和发射率成反比。红外测温中，发射率的测定是必须进行的工作。而红外温度传感器在生...
【技术保护点】
1.一种电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定装置，其特征在于：包括红外探头(1)，设置在电磁灶内并位于电磁灶面板(2)的下方；红外光源(3)，设置在电磁灶内并位于电磁灶面板(2)的下方，所述红外光源(3)位于红外探头(1)旁；控制器(4)，分别与所述红外探头(1)、红外光源(3)电连接。
【技术特征摘要】
1.一种电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定装置，其特征在于：包括红外探头(1)，设置在电磁灶内并位于电磁灶面板(2)的下方；红外光源(3)，设置在电磁灶内并位于电磁灶面板(2)的下方，所述红外光源(3)位于红外探头(1)旁；控制器(4)，分别与所述红外探头(1)、红外光源(3)电连接。2.根据权利要求1所述的电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定装置，其特征在于：还包括能与所述控制器(4)电连接的备用红外探头(5)，所述备用红外探头(5)用于放置在电磁灶面板(2)上方与所述红外探头(1)呈镜像对称的位置使用。3.根据权利要求1所述的电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定装置，其特征在于：还包括能打开或者关闭的备用红外光源，所述备用红外光源用于放置在电磁灶面板(2)上方与所述红外光源(3)呈镜像对称的位置使用。4.根据权利要求1至3任一权利要求所述的电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定装置，其特征在于：所述红外探头(1)、红外光源(3)集成设置在一块电路板(6)上。5.根据权利要求4所述的电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定装置，其特征在于：所述控制器(4)也集成设置在所述电路板(6)上。6.根据权利要求1至3任一权利要求所述的电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定装置，其特征在于：所述电磁灶的面板上还设置有与所述控制器(4)电连接的按键(7)以向控制器(4)发送启动电磁灶上非透红外目标体(8)的红外参数测定的命令。7.根据权利要求1所述的电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定装置，其特征在于：所述红外光源(3)的设置位置与所述红外探头(1)在电磁灶面板(2)上的检测区域相匹配，以使得所述红外探头(1)能够检测到红外光源(3)经反射的红外光。8.一种电磁灶上非透红外目标体的红外参数测定方法，其特征在于：包括以下步骤S1、获取控制器(4)中存储的电磁灶面板(2)的透射率τ0，获取控制器(4)中存储的红外光源(3)可接收能量的总和Es；S2、在电磁灶面板(2)上未放置非透红外目标体(8)的前提下，控制器(4)控制打开和关闭红外光源(3)；红外探头(1)检测红外光源(3)打开时获取的红外能量数据E1并传送至控制器(4)，红外探头(1)检测红外光源(3)关闭时获取的红外能量数据E2并传送至控制器(4...
【专利技术属性】
技术研发人员：李元秋，严力峰，钟健，
申请(专利权)人：宁波方太厨具有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江,33
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