用于转换均匀或非均匀采样的干涉图以产生光谱数据的方法和设备技术

用于计算高光谱数据立方体的重建矩阵包含周期函数行。所述重建矩阵的每一行对应于选定波长，并且每一列对应于干涉仪的选定延迟。所述周期函数具有所述对应行的作为参数的所述选定波长，并以所述对应列中的每一列的所述选定延迟进行采样。获得干涉图数据立方体并且所述干涉图数据立方体包含一个或多个同时测量的干涉图的阵列。所述干涉图数据立方体的每一行对应于所述选定延迟中的一个，并且每一列对应于与所述同时测量的干涉图不同的干涉图。通过将所述重建矩阵与所述干涉图数据立方体的列相乘来形成针对所述干涉图中的每一个的一组矩阵向量积，从而形成所述高光谱数据立方体。

Method and equipment for converting uniformly or nonuniformly sampled interferograms to generate spectral data

【技术实现步骤摘要】
用于转换均匀或非均匀采样的干涉图以产生光谱数据的方法和设备
技术实现思路
本公开涉及一种用于转换均匀或非均匀采样的干涉图以产生预定义波长处的光谱数据的方法和设备。在一个实施例中，确定干涉仪的一组参考延迟，以及对应于高光谱数据立方体的光谱切片的一组波长。形成包含周期函数行的重建矩阵。所述重建矩阵的每一行对应于所述一组波长中的选定波长，并且所述重建矩阵的每一列对应于所述参考延迟中的选定延迟。所述周期函数具有所述对应行的作为参数的所述选定波长，并以所述对应列中的每一列的所述选定延迟进行采样。获得包含一个或多个同时测量的干涉图的阵列的干涉图数据立方体。所述干涉图数据立方体的每一行对应于所述选定延迟中的一个，并且所述干涉图数据立方体的每一列对应于与所述同时测量的干涉图不同的干涉图。形成针对所述干涉图中的每一个的一组矩阵向量积。所述矩阵向量积中的每一个包含所述重建矩阵与所述干涉图数据立方体的列的矩阵乘法。所述一组矩阵向量积形成所述高光谱数据立方体。附图说明图1是根据示例实施例的设备的图示；图2是根据示例实施例的示出通过光学装置处理的干涉图的一组曲线；图3是根据示例实施例的用于光学装置的延迟与时间的关系本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种方法，其包括：确定干涉仪的一组参考延迟；确定对应于高光谱数据立方体的光谱切片的一组波长；形成包括周期函数行的重建矩阵，其中所述重建矩阵的每一行对应于所述一组波长中的选定波长，并且所述重建矩阵的每一列对应于所述参考延迟中的选定延迟，其中所述周期函数具有所述对应行的作为参数的所述选定波长，并以所述对应列中的每一列的所述选定延迟进行采样；获得包括一个或多个同时测量的干涉图的阵列的干涉图数据立方体，其中所述干涉图数据立方体的每一行对应于所述选定延迟中的一个，并且所述干涉图数据立方体的每一列对应于与所述同时测量的干涉图不同的干涉图；以及形成针对所述干涉图中的每一个的一组矩阵向量积，所述矩阵向量积...

【技术特征摘要】
2017.12.29 US 15/8583381.一种方法，其包括：确定干涉仪的一组参考延迟；确定对应于高光谱数据立方体的光谱切片的一组波长；形成包括周期函数行的重建矩阵，其中所述重建矩阵的每一行对应于所述一组波长中的选定波长，并且所述重建矩阵的每一列对应于所述参考延迟中的选定延迟，其中所述周期函数具有所述对应行的作为参数的所述选定波长，并以所述对应列中的每一列的所述选定延迟进行采样；获得包括一个或多个同时测量的干涉图的阵列的干涉图数据立方体，其中所述干涉图数据立方体的每一行对应于所述选定延迟中的一个，并且所述干涉图数据立方体的每一列对应于与所述同时测量的干涉图不同的干涉图；以及形成针对所述干涉图中的每一个的一组矩阵向量积，所述矩阵向量积中的每一个包括所述重建矩阵与所述干涉图数据立方体列的矩阵乘法，所述一组矩阵向量积形成所述高光谱数据立方体。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述干涉图对应于所述干涉仪内的不同图像点。3.根据权利要求1所述的方法，其中所述同时测量的干涉图是相对于光路延时不均匀地采样的。4.根据权利要求1所述的方法，其中所述干涉仪包括偏振干涉仪。5.根据权利要求4所述的方法，其中所述偏振干涉仪包括液晶可变延迟器，并且其中每一行中的所述周期函数的相对振荡速率基于所述液晶可变延迟器的作为波长和温度中的至少一个的函数的液晶双折射率。6.一种设备，其包括：干涉仪，所述干涉仪可操作用于通过一组参考延迟进行转换；光学传感器，所述光学传感器可操作用于当所述干涉仪通过所述一组参考延迟进行转换时同时测量对应于...

【专利技术属性】
技术研发人员：A·黑格伊，
申请(专利权)人：帕洛阿尔托研究中心公司，
类型：发明
国别省市：美国,US