【技术实现步骤摘要】
基于热阻的缺陷检测装置
本专利技术涉及工业缺陷检测
，特别涉及基于热阻的缺陷检测装置。
技术介绍
随着工业CT技术在汽车、电子行业、航空航天领域等的发展和应用，精密复杂零部件的内部缺陷检测需求日益增加，对缺陷的便捷测量精度要求较高。现有技术中一般对于工件缺陷的检测基于工业中的核成像技术，其利用放射性核素为辐射源，将其辐射在被检测物体中，通过不同物质对射线的差别吸收可区分密度不同的物质，最后利用计算机处理探测器所获得的数据并进行图像重建，以分析工件缺陷或空洞位置。但其检测方法存在某些缺陷，如CT成像提取多个方向穿过被测断层的射线强度作为重建算法的数据，其过程运算过程较为复杂，且直线加速器辐射源强度不可调；工业CT中检测缺陷仪器组成成份较多、总体积较大，且其游离辐射对人体有害，不利于人工长时间操作；如X射线探伤机此类仪器成本较高，且便捷度低。另外，缺陷检测系统中传统热探头技术需要在基板上组装大量芯片，以获得衬底上的界面以局部位置表示的热阻分布二维图，这种方法会损坏基板表面。且探头位置固定且布局范围较大，降低了测量精密性并增加成本。
技术实现思路
针对现有技术中部件多...
【技术保护点】
1.基于热阻的缺陷检测装置，包括被测工件和显示器，其特征在于，包括热探头、散热器基座、散热器、处理器、信号发生器、辐射测温仪以及示波器；其中，所述热探头，用于散发热量，且在所述被测工件上进行移动，将热量传输到所述被测工件；所述散热器上安装有所述散热器基座，所述散热器基座上安装有所述被测工件，所述被测工件接收的热量通过所述散热器散发到外部空间；所述辐射测温仪，用于对所述散热器散发的热量进行温度数据采集，并将温度数据传输到所述处理器；所述示波器，用于对采集所述热探头的电相关数据，并将电相关数据传输到所述处理器；所述处理器根据接收的数据，对所述被测工件的热阻进行计算，并将计算结果...
【技术特征摘要】
1.基于热阻的缺陷检测装置，包括被测工件和显示器，其特征在于，包括热探头、散热器基座、散热器、处理器、信号发生器、辐射测温仪以及示波器；其中，所述热探头，用于散发热量，且在所述被测工件上进行移动，将热量传输到所述被测工件；所述散热器上安装有所述散热器基座，所述散热器基座上安装有所述被测工件，所述被测工件接收的热量通过所述散热器散发到外部空间；所述辐射测温仪，用于对所述散热器散发的热量进行温度数据采集，并将温度数据传输到所述处理器；所述示波器，用于对采集所述热探头的电相关数据，并将电相关数据传输到所述处理器；所述处理器根据接收的数据，对所述被测工件的热阻进行计算，并将计算结果传输到所述显示器以显示热阻分布图像。2.如权利要求1所述的基于热阻的缺陷检测装置，其特征在于，所述热探头与所述被测工件之间有热介质层，用于填充热探头和被测工件之间的空隙。3.如权利要求1所述的基于热阻的缺陷检测装置，其特征在于，所述被测工件与所述散热器基座之间有热介质层，便于热量的传递。4.如权利要求1所述的基于热阻的缺陷检测...
【专利技术属性】
技术研发人员：曾正，程临颍，张玉琛，熊露婧，
申请(专利权)人：重庆大学，
类型：发明
国别省市：重庆,50
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