校准系统和校准方法技术方案

本发明专利技术公开一种校准系统，包括：电阻检测仪，适于检测电子器件的电阻；第一容器，容纳有适于蚀刻引线的蚀刻溶液；和加热器，适于加热电子器件。当电阻检测仪检测到的电子器件在第一温度时的第一电阻在第一预定范围以内时，利用加热器将电子器件加热到高于第一温度的第二温度，并利用电阻检测仪检测电子器件在第二温度时的第二电阻，如果检测到的第二电阻在第二预定范围之外时，利用蚀刻溶液对引线进行蚀刻，以调节电子器件的电阻值，直至电子器件在第二温度时的第二电阻在第二预定范围以内，使得电子器件的电阻满足预定的精度要求。本发明专利技术降低了电子器件的制造难度，同时还能够降低废品率，节约制造成本。

Calibration system and method

【技术实现步骤摘要】
校准系统和校准方法
本专利技术涉及一种适于校准电子器件的电阻的校准系统和校准方法。
技术介绍
在现有技术中，电子器件的电阻应当满足预定的精度要求，即，制造出的电子器件的电阻应当在预定范围以内。为了保证制造出的电子器件的电阻能够满足预定的精度要求，必须提高制造精度，这增加了制造难度。在现有技术中，如果制造出的电子器件的电阻不在预定范围以内，这个电子器件就成了一个废品，会被直接抛弃，这会造成极大的浪费。
技术实现思路
本专利技术的目的旨在解决现有技术中存在的上述问题和缺陷的至少一个方面。根据本专利技术的一个方面，提供一种校准系统，适于校准电子器件的电阻，所述电子器件包括暴露在外的引线。所述校准系统包括：电阻检测仪，适于检测所述电子器件的电阻；第一容器，容纳有适于蚀刻所述引线的蚀刻溶液；和加热器，适于加热所述电子器件。当所述电阻检测仪检测到的所述电子器件在第一温度时的第一电阻在第一预定范围以内时，利用所述加热器将所述电子器件加热到高于第一温度的第二温度，并利用所述电阻检测仪检测所述电子器件在第二温度时的第二电阻，如果检测到的第二电阻在第二预定范围之外时，利用所述蚀刻溶液对所述引线进行蚀刻，以调节所述电子器件的电阻值，直至所述电子器件在第二温度时的第二电阻在第二预定范围以内。根据本专利技术的一个实例性的实施例，所述第一温度小于40℃，所述第二温度高于300℃。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，所述校准系统还包括机器人，在所述机器人上安装有适于抓取所述引线的第一抓取器，所述第一抓取器与所述电阻检测仪电连接；当所述第一抓取器抓取住所述引线时，所述电子器件经由所述第一抓取器电连接至所述电阻检测仪，以便通过所述电阻检测仪检测所述电子器件的电阻。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，所述校准系统还包括：第一托盘，适于放置多个待校准的电子器件；第二抓取器，安装在所述机器人上，适于抓取所述电子器件的主体部；和视觉系统，适于引导所述第二抓取器从所述第一托盘上抓取所述电子器件。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，所述校准系统还包括转动台，所述第二抓取器将抓取的所述电子器件放置在所述转动台上，所述转动台在所述视觉系统的引导下，将所述放置在其上的所述电子器件转动到预定位置。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，所述校准系统还包括第二容器，在所述第二容器中容纳有用于对所述电子器件进行清洗的去离子水；当放置在所述转动台上的电子器件被转动到预定位置之后，所述机器人在所述视觉系统的引导下通过所述第一抓取器抓取住所述电子器件的引线，并将抓取的电子器件放入到所述第二容器中进行清洗，以便去除所述电子器件上的杂质。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，在所述电子器件被所述去离子水清洗之后，所述机器人将抓取的电子器件从所述第二容器中移出，并利用所述电阻检测仪检测所述电子器件在第一温度时的第一电阻。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，所述校准系统还包括第三容器，在所述第三容器中容纳有用于对所述电子器件进行清洗的纯净水；当所述电阻检测仪检测到的所述电子器件在第一温度时的第一电阻在第一预定范围以内时，所述机器人将抓取的电子器件放入到所述第三容器中进行清洗。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，在所述电子器件被所述纯净水清洗之后，所述机器人将抓取的电子器件移动到所述加热器处，并利用所述加热器将所述电子器件加热到所述第二温度；在所述电子器件被加热到所述第二温度时，利用所述电阻检测仪检测所述电子器件在第二温度时的第二电阻。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，当所述电阻检测仪检测到的电子器件在第二温度时的第二电阻在第二预定范围之外时，所述机器人将抓取的电子器件放入到所述第一容器中，以便对所述电子器件的引线进行蚀刻。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，在对所述电子器件的引线进行蚀刻之后，所述机器人将抓取的电子器件再次放入到所述第三容器中进行清洗，并利用所述电阻检测仪再次检测所述电子器件在第一温度时的第一电阻；如果检测到的所述电子器件在第一温度时的第一电阻在所述第一预定范围以内时，所述机器人将抓取的电子器件再次移动到所述加热器处，并利用所述加热器将所述电子器件再次加热到所述第二温度；在所述电子器件被再次加热到所述第二温度时，利用所述电阻检测仪再次检测所述电子器件在第二温度时的第二电阻。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，所述校准系统还包括第二托盘，所述第二托盘适于放置多个已经被校准好的电子器件；当所述电阻检测仪检测到的电子器件在第二温度时的第二电阻在第二预定范围以内时，所述机器人将抓取的电子器件放置到所述第二托盘上。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，所述加热器为火焰加热器，其可通过火焰灼烧所述电子器件，以便将所述电子器件快速加热到所述第二温度。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，所述第一容器、第二容器和第三容器被安装在同一个支撑架上。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，所述校准系统还包括安全光栅，所述安全光栅位于所述校准系统的入口处，用于检测是否有外部物体进入所述校准系统的工作区域；当所述安全光栅检测到有外部物体进入所述校准系统的工作区域时，所述校准系统立刻停止工作。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，所述校准系统还包括一个控制柜和安装在所述控制柜上的基座，所述机器人、第一托盘、转动台、电阻检测仪、加热器、第二托盘、支撑架、安全光栅、视觉系统安装在所述基座上。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，所述控制柜具有适于将所述控制柜固定地支撑在地面上的支撑脚和适于将所述控制柜可移动地支撑在地面上的滚轮；所述支撑脚可收起或放下，当所述支撑脚放下时，所述控制柜被所述支撑脚固定地支撑在地面上；当所述支撑脚收起时，所述控制柜被所述滚轮可移动地支撑在地面上。根据本专利技术的另一个实例性的实施例，所述电子器件为传感器，所述电子器件的主体部呈圆柱状，所述电子器件的引线从所述主体部中延伸出。根据本专利技术的另一个方面，提供一种校准方法，适于校准电子器件的电阻，所述校准方法包括以下步骤：S10：检测所述电子器件在第一温度时的第一电阻，如果检测到的第一电阻在第一预定范围以内时，则执行下面的步骤S20；S20：将所述电子器件加热到高于第一温度的第二温度，并检测所述电子器件在第二温度时的第二电阻；S30：如果检测到的第二电阻在第二预定范围之外时，蚀刻所述电子器件的暴露在外的引线，以调节所述电子器件的电阻值；S40：重复执行前述步骤S10、S20和S30，直至所述电子器件在第二温度时的第二电阻在第二预定范围以内。根据本专利技术的另一个方面，提供一种校准方法，适于校准电子器件的电阻，所述校准方法包括以下步骤：S100：提供前述校准系统；S200：机器人通过第二抓取器从第一托盘上抓取电子器件，并将抓取的电子器件放置在转动台上；S300：转动台在视觉系统的引导下将放置在其上的电子器件旋转到预定位置；S400：机器人通过第一抓取器从转动台上抓取电子器件，并将抓取的电子器件放入到第二容器中进行清洗；S500：利用电阻检测仪检测电子器件在第一温度时的第一电阻，如果检测到的第一电阻在第一预定范围以内时，机器人将抓取的电子器件放入到第三容器中进行清洗；S600：机器人将抓取的电子器件移动到加热器处，并用加热器将电子器件加热到高于第一温度的第二温度，并用电阻检测仪检测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种校准系统，适于校准电子器件(10)的电阻，所述电子器件(10)包括暴露在外的引线(12)，所述校准系统包括：电阻检测仪(400)，适于检测所述电子器件(10)的电阻；第一容器(710)，容纳有适于蚀刻所述引线(12)的蚀刻溶液；和加热器(500)，适于加热所述电子器件(10)，当所述电阻检测仪(400)检测到的所述电子器件(10)在第一温度时的第一电阻在第一预定范围以内时，利用所述加热器(500)将所述电子器件(10)加热到高于第一温度的第二温度，并利用所述电阻检测仪(400)检测所述电子器件(10)在第二温度时的第二电阻，如果检测到的第二电阻在第二预定范围之外时，利用所述蚀刻溶液对所述引线(12)进行蚀刻，以调节所述电子器件(10)的电阻值，直至所述电子器件(10)在第二温度时的第二电阻在第二预定范围以内。

【技术特征摘要】
1.一种校准系统，适于校准电子器件(10)的电阻，所述电子器件(10)包括暴露在外的引线(12)，所述校准系统包括：电阻检测仪(400)，适于检测所述电子器件(10)的电阻；第一容器(710)，容纳有适于蚀刻所述引线(12)的蚀刻溶液；和加热器(500)，适于加热所述电子器件(10)，当所述电阻检测仪(400)检测到的所述电子器件(10)在第一温度时的第一电阻在第一预定范围以内时，利用所述加热器(500)将所述电子器件(10)加热到高于第一温度的第二温度，并利用所述电阻检测仪(400)检测所述电子器件(10)在第二温度时的第二电阻，如果检测到的第二电阻在第二预定范围之外时，利用所述蚀刻溶液对所述引线(12)进行蚀刻，以调节所述电子器件(10)的电阻值，直至所述电子器件(10)在第二温度时的第二电阻在第二预定范围以内。2.根据权利要求1所述的校准系统，其特征在于：所述第一温度小于40℃，所述第二温度高于300℃。3.根据权利要求1或2所述的校准系统，其特征在于：所述校准系统还包括机器人(100)，在所述机器人(100)上安装有适于抓取所述引线(12)的第一抓取器(110)，所述第一抓取器(110)与所述电阻检测仪(400)电连接；当所述第一抓取器(110)抓取住所述引线(12)时，所述电子器件(10)经由所述第一抓取器(110)电连接至所述电阻检测仪(400)，以便通过所述电阻检测仪(400)检测所述电子器件(10)的电阻。4.根据权利要求3所述的校准系统，其特征在于，所述校准系统还包括：第一托盘(200)，适于放置多个待校准的电子器件(10)；第二抓取器(120)，安装在所述机器人(100)上，适于抓取所述电子器件(10)的主体部(11)；和视觉系统(130)，适于引导所述第二抓取器(120)从所述第一托盘(200)上抓取所述电子器件(10)。5.根据权利要求4所述的校准系统，其特征在于：所述校准系统还包括转动台(300)，所述第二抓取器(120)将抓取的所述电子器件(10)放置在所述转动台(300)上，所述转动台(300)在所述视觉系统(130)的引导下，将所述放置在其上的所述电子器件(10)转动到预定位置。6.根据权利要求5所述的校准系统，其特征在于：所述校准系统还包括第二容器(720)，在所述第二容器(720)中容纳有用于对所述电子器件(10)进行清洗的去离子水；当放置在所述转动台(300)上的电子器件(10)被转动到预定位置之后，所述机器人(100)在所述视觉系统(130)的引导下通过所述第一抓取器(110)抓取住所述电子器件(10)的引线(12)，并将抓取的电子器件(10)放入到所述第二容器(720)中进行清洗，以便去除所述电子器件(10)上的杂质。7.根据权利要求6所述的校准系统，其特征在于：在所述电子器件(10)被所述去离子水清洗之后，所述机器人(100)将抓取的电子器件(10)从所述第二容器(720)中移出，并利用所述电阻检测仪(400)检测所述电子器件(10)在第一温度时的第一电阻。8.根据权利要求7所述的校准系统，其特征在于：所述校准系统还包括第三容器(730)，在所述第三容器(730)中容纳有用于对所述电子器件(10)进行清洗的纯净水；当所述电阻检测仪(400)检测到的所述电子器件(10)在第一温度时的第一电阻在第一预定范围以内时，所述机器人(100)将抓取的电子器件(10)放入到所述第三容器(730)中进行清洗。9.根据权利要求8所述的校准系统，其特征在于：在所述电子器件(10)被所述纯净水清洗之后，所述机器人(100)将抓取的电子器件(10)移动到所述加热器(500)处，并利用所述加热器(500)将所述电子器件(10)加热到所述第二温度；在所述电子器件(10)被加热到所述第二温度时，利用所述电阻检测仪(400)检测所述电子器件(10)在第二温度时的第二电阻。10.根据权利要求9所述的校准系统，其特征在于：当所述电阻检测仪(400)检测到的电子器件(10)在第二温度时的第二电阻在第二预定范围之外时，所述机器人(100)将抓取的电子器件(10)放入到所述第一容器(710)中，以便对所述电子器件(10)的引线(12)进行蚀刻。11.根据权利要求10所述的校准系统，其特征在于：在对所述电子器件(10)的引线(12)进行蚀刻之后，所述机器人(100)将抓取的电子器件(10)再次放入到所述第三容器(730)中进行清洗，并利用所述电阻检测仪(400)再次检测所述电子器件(10)在第一温度时的第一电阻；如果检测到的所述电子器件(10)在第一温度时的第一电阻在所述第一预定范围以内时，所述机器人(100)将抓取的电子器件(10)再次移动到所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢逢春，邓颖聪，张丹丹，胡绿海，刘云，鲁异，吴海东，肖辉，
申请(专利权)人：泰科电子上海有限公司，泰连公司，昆山市力格自动化设备有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31