一种平面度自动检测装置制造方法及图纸

技术编号:21545325 阅读:15 留言:0更新日期:2019-07-06 20:03
本发明专利技术提供一种平面度自动检测装置,包括:机架、设置于机架上的定位机构、设置于定位机构上方的上检测机构以及设置于定位机构下方的下检测机构,上检测机构包括上X轴滑轨、上Z轴滑轨、驱动上Z轴滑轨沿上X轴滑轨移动的上X轴电机、安装于上Z轴滑轨上与上Z轴滑轨滑动配合的两个上激光检测仪以及驱动两个上激光检测仪沿所述上Z轴滑轨移动的上Z轴电机。定位机构对待检测的产品定位,上检测机构对产品的上表面进行扫描式检测;下检测机构对产品的下表面进行扫描式检测,检测效率高,也可以根据需要,仅对产品的上表面进行检测,或仅对产品的下表面进行检测,实现了自动化检测,每个产品的检测仅需要25至35秒,检测速度提高了10至50倍。

An Automatic Flatness Detection Device

【技术实现步骤摘要】
一种平面度自动检测装置
本专利技术涉检测
,尤其涉及一种平面度自动检测装置。
技术介绍
在机械制造
,如汽车零配件、打印机等,经常需要对产品的平面度进行检测,检测其一面或者两面的平面度是否满足要求,从而判断产品的质量是否合格。现有技术中,需要人工通过三坐标检测仪进行检测,检测效率低下,单件产品的检测时间需要30至50分钟,浪费人力,检测成本较高。
技术实现思路
本专利技术所解决的技术问题在于提供一种自动化程度高、检测高效的平面度自动检测装置。为解决上述技术问题,本专利技术提供一种平面度自动检测装置,包括:机架、设置于所述机架上的定位机构、设置于所述定位机构上方的上检测机构以及设置于所述定位机构下方的下检测机构,所述上检测机构包括上X轴滑轨、与所述上X轴滑轨滑动配合的上Z轴滑轨、驱动所述上Z轴滑轨沿所述上X轴滑轨移动的上X轴电机、安装于所述上Z轴滑轨上且与所述上Z轴滑轨滑动配合的两个上激光检测仪以及驱动两个所述上激光检测仪沿所述上Z轴滑轨移动的上Z轴电机;两个所述上激光检测仪对产品的上表面进行检测。更进一步的,所述下检测机构包括下X轴滑轨、与所述下X轴滑轨滑动配合的下Z轴滑轨、驱动所述下Z轴滑轨沿所述下X轴滑轨移动的下X轴电机、安装于所述下Z轴滑轨上且与所述下Z轴滑轨滑动配合的两个下激光检测仪以及驱动两个所述下激光检测仪沿所述下Z轴滑轨移动的下Z轴电机;两个所述下激光检测仪对产品的下表面进行检测。更进一步的,所述定位机构包括与机架相连的载板以及设置于所述载板上的若干支撑定位板。更进一步的,所述机架包括底座、与所述底座相连的检测安装架以及与所述检测安装架相连的保护罩,所述定位机构、所述上检测机构以及所述下检测机构分别安装于所述检测安装架上。更进一步的,所述上Z轴滑轨上设置有两个与所述上Z轴滑轨滑动配合的上Y轴滑轨,两个所述上激光检测仪分别安装于两个所述上Y轴滑轨上。本专利技术的平面度自动检测装置,所述定位机构对待检测的产品定位,所述上检测机构对产品的上表面进行检测,具体的,所述上X轴电机驱动所述上Z轴滑轨沿所述上X轴滑轨移动,所述上Z轴电机驱动两个所述上激光检测仪沿所述上Z轴滑轨移动,对产品的上表面进行扫描式检测;所述下检测机构对产品的下表面进行检测,具体的,所述下X轴电机驱动所述下Z轴滑轨沿所述下X轴滑轨移动,所述下Z轴电机驱动两个所述下激光检测仪沿所述下Z轴滑轨移动,对产品的下表面进行扫描式检测,检测效率高,节省人力,检测时将检测结果传送到所述控制器,检测精度可以达到0.001毫米;当然,也可以根据需要,仅对产品的上表面进行检测,或者是仅对产品的下表面进行检测,实现了自动化检测,每个产品的检测仅需要25至35秒,检测速度提高了10至50倍。附图说明图1为本专利技术的平面度自动检测装置的示意图;图2为本专利技术的平面度自动检测装置的保护罩移除状态的示意图;图3为本专利技术的平面度自动检测装置的保护罩移除状态另一方向的示意图;图中标记为:机架1,底座11,检测安装架12,保护罩13,定位机构2,载板21,支撑定位板22,上检测机构3,上X轴滑轨31,上Z轴滑轨32,上X轴电机33,上激光检测仪34,上Z轴电机35,下检测机构4,下X轴滑轨41,下Z轴滑轨42,下X轴电机43,下Z轴电机45,控制器5。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施方式,所述实施方式的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本专利技术,而不能理解为对本专利技术的限制。如图1至图3所示,本专利技术提供一种平面度自动检测装置,包括:机架1、设置于所述机架1上的定位机构2、设置于所述定位机构2上方的上检测机构3以及设置于所述定位机构2下方的下检测机构4,所述上检测机构3包括上X轴滑轨31、与所述上X轴滑轨31滑动配合的上Z轴滑轨32、驱动所述上Z轴滑轨32沿所述上X轴滑轨31移动的上X轴电机33、安装于所述上Z轴滑轨32上且与所述上Z轴滑轨32滑动配合的两个上激光检测仪34以及驱动两个所述上激光检测仪34沿所述上Z轴滑轨32移动的上Z轴电机35;两个所述上激光检测仪34对产品的上表面进行检测;所述下检测机构4包括下X轴滑轨41、与所述下X轴滑轨41滑动配合的下Z轴滑轨42、驱动所述下Z轴滑轨42沿所述下X轴滑轨41移动的下X轴电机43、安装于所述下Z轴滑轨42上且与所述下Z轴滑轨42滑动配合的两个下激光检测仪以及驱动两个所述下激光检测仪沿所述下Z轴滑轨42移动的下Z轴电机45,两个所述下激光检测仪对产品的下表面进行检测;所述机架的一侧设置有控制器5,两个所述上激光检测仪34、两个所述下激光检测仪、所述上X轴电机33、所述上Z轴电机35、所述下X轴电机43以及所述下Z轴电机35分别与所述控制器5相连。所述定位机构2对待检测的产品定位,所述上检测机构3对产品的上表面进行检测,具体的,所述上X轴电机33驱动所述上Z轴滑轨32沿所述上X轴滑轨31移动,所述上Z轴电机35驱动两个所述上激光检测仪34沿所述上Z轴滑轨32移动,对产品的上表面进行扫描式检测;所述下检测机构4对产品的下表面进行检测,具体的,所述下X轴电机43驱动所述下Z轴滑轨42沿所述下X轴滑轨41移动,所述下Z轴电机45驱动两个所述下激光检测仪沿所述下Z轴滑轨42移动,对产品的下表面进行扫描式检测,检测效率高,节省人力,检测时将检测结果传送到所述控制器5,检测精度可以达到0.001毫米;当然,也可以根据需要,仅对产品的上表面进行检测,或者是仅对产品的下表面进行检测,实现了自动化检测,每个产品的检测仅需要25至35秒,检测速度提高了10至50倍。所述定位机构2包括与机架1相连的载板21以及设置于所述载板21上的若干支撑定位板22。所述支撑定位板22对产品起定位的作用,定位后方便所述上检测机构3和所述下检测机构4的检测。所述机架1包括底座11、与所述底座11相连的检测安装架12以及与所述检测安装架12相连的保护罩13,所述定位机构2、所述上检测机构3以及所述下检测机构4分别安装于所述检测安装架12上。所述保护罩13起安全防护的作用,防止人体近距离接触所述平面度自动检测装置的内部,可以是所述防护罩上设置有安全光栅。所述上Z轴滑轨32上设置有两个与所述上Z轴滑轨32滑动配合的上Y轴滑轨,两个所述上激光检测仪34分别安装于两个所述上Y轴滑轨上。这样,还可以根据不同的产品,调节所述上激光检测仪34的高度,以满足检测需要;作为本专利技术的另一优选实施例,所述下Z轴滑轨42上可以设置有两个与所述下Z轴滑轨42滑动配合的下Y轴滑轨,两个所述下激光检测仪44分别安装于两个所述下Y轴滑轨上,这样,可以根据不同的产品,调节所述下激光检测仪44的高度,满足检测需要。本专利技术的平面度自动检测装置,所述定位机构2对待检测的产品定位,所述上检测机构3对产品的上表面进行检测,具体的,所述上X轴电机33驱动所述上Z轴滑轨32沿所述上X轴滑轨31移动,所述上Z轴电机35驱动两个所述上激光检测仪34沿所述上Z轴滑轨32移动,对产品的上表面进行扫描式检测;所述下检测机构4对产品的下表面进行检测,具体的,所述下X轴电机43驱动所述下Z轴滑轨42沿所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种平面度自动检测装置,其特征在于,包括:机架、设置于所述机架上的定位机构、设置于所述定位机构上方的上检测机构以及设置于所述定位机构下方的下检测机构,所述上检测机构包括上X轴滑轨、与所述上X轴滑轨滑动配合的上Z轴滑轨、驱动所述上Z轴滑轨沿所述上X轴滑轨移动的上X轴电机、安装于所述上Z轴滑轨上且与所述上Z轴滑轨滑动配合的两个上激光检测仪以及驱动两个所述上激光检测仪沿所述上Z轴滑轨移动的上Z轴电机;两个所述上激光检测仪对产品的上表面进行检测。

【技术特征摘要】
1.一种平面度自动检测装置,其特征在于,包括:机架、设置于所述机架上的定位机构、设置于所述定位机构上方的上检测机构以及设置于所述定位机构下方的下检测机构,所述上检测机构包括上X轴滑轨、与所述上X轴滑轨滑动配合的上Z轴滑轨、驱动所述上Z轴滑轨沿所述上X轴滑轨移动的上X轴电机、安装于所述上Z轴滑轨上且与所述上Z轴滑轨滑动配合的两个上激光检测仪以及驱动两个所述上激光检测仪沿所述上Z轴滑轨移动的上Z轴电机;两个所述上激光检测仪对产品的上表面进行检测。2.如权利要求1所述的平面度自动检测装置,其特征在于:所述下检测机构包括下X轴滑轨、与所述下X轴滑轨滑动配合的下Z轴滑轨、驱动所述下Z轴滑轨沿所述下X轴滑轨移动的下X轴电机、安装于所述下Z轴滑轨上且与...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄林荣
申请(专利权)人:苏州固曼特精密机械有限公司
类型:发明
国别省市:江苏,32

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