一种电容测试电路制造技术

本实用新型专利技术提供了一种电容测试电路，包括：多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板；所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上，所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机，所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪，所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器。本实用新型专利技术电路结构简单、成本低廉，直接利用高温老化板作为电容测试用的载体，无需将电容从高温老化板上拆卸，避免了多次的拆装可能引起电容的遗失和损坏等后果，提高测试结果的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种电容测试电路
本技术涉及电子电路领域，具体地，涉及一种电容测试电路。
技术介绍
电容是电子电器设备使用最广泛的基础电子元器件之一，广泛应用于电路中的隔直、通交、耦合、旁路、滤波等方面，几乎所有的电子电器设备都需要使用电容。随着工业技术的飞速发展，电子电器设备对电容的数量和质量需求越来越高。特别是在军用设备领域，对于电容的筛选测试工作是必不可少的，电容的质量直接影响到武器装备的可靠性，因此国家对电容器的测试需求越来越高。在电容测试之前需要进行电容高温老化试验，试验完成以后，需要将电容从高温老化板上拆卸下来，然后对电容进行测试。该过程不仅繁琐，而且多次的拆装可能引起电容的遗失和损坏等后果，并且受到很多人为的不可控因素干扰，导致测试可靠性严重降低。显然目前的测试手段已经无法满足电容测试的需求。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷，本技术的目的是提供一种电容测试电路。根据本技术提供的一种电容测试电路，包括：多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板；所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上，所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机，所述计算机通过第二通信线缆连接所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电容测试电路，其特征在于，包括：多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板；所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上，所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机，所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪，所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器。

【技术特征摘要】
1.一种电容测试电路，其特征在于，包括：多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板；所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上，所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机，所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪，所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器。2.根据权利要求1所述的电容测试电路，其特征在于，所述第一通信线缆包括RS232通讯线缆。3.根据权利要求1所述的电容测试电路，其特征在于，所述第二通信线缆包括GPIB线缆。4.根据权利要求1所述的电容测试电路，其特征在于，所述高温老化板包括10个单元，每个单元包括16个电容安装部，每个单元中安装的16个待测电容共地连接。5.根据权利要求4所述的电容测试电路，其特征在于，所述多路开关控制器包括160路开关电路和170根探针，其中160根探针与160路开关电路一一对应连接，且160根探针分别压在一个所述电容安装部中待测电容的顶端，另外1...

【专利技术属性】
技术研发人员：张俊，张杨，
申请(专利权)人：华东计算技术研究所中国电子科技集团公司第三十二研究所，
类型：新型
国别省市：上海,31