工程设计数据处理方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种工程设计数据处理方法及装置，包括：针对每一个产品，确定当前的生产工序；针对所述生产工序，实时从生产设备中获取所述生产工序对应的第一参数；将所述第一参数与预设的标准参数范围比对；若所述第一参数不在所述标准参数范围内，则发起评审请求，其中，所述评审请求中包括所述生产工序与所述第一参数。从而能够PCB制造评审过程中提供一个统一的评审请求的标准，提高了PCB制造评审的效率。

Data Processing Method and Device for Engineering Design

【技术实现步骤摘要】
工程设计数据处理方法及装置
本专利技术涉及PCB制造领域，尤其涉及一种工程设计数据处理方法及装置。
技术介绍
随着电路技术的发展，PCB可以实现多种功能，如采用PCB制造全球定位系统(GPS，GlobalPositioningSystem)设备，用于进行定位等。当制造了实现某种功能的PCB时，需要对所制造的PCB进行测试，以检测该PCB是否符合设计的标准。现有技术中，制造PCB的生产工序有多种，针对每一道生产工序，在进行测试时，都需要用户自行获取当前PCB的生产参数，并且根据自身的经验判断当前的生产参数是否符合标准，并且根据个人对标准的理解提出待评审的问题。但是，每个用户采用上述方法提出的问题往往有差异，因此，导致问题不统一，相应的，得到的问题解答也就不一致，缺少规范性，也就增加了问题答复的工作量，进而影响了PCB的生产效率。此外，现有的问题提出方法一般都需要用户自行提出问题，往往较为浪费人力资源。
技术实现思路
本专利技术提供一种工程设计数据处理方法及装置，用于解决现有技术中PCB制造评审过程中缺乏统一判定标准的技术问题。本专利技术的第一个方面是提供一种工程设计数据处理方法，包括：针对本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种工程设计数据处理方法，其特征在于，包括：针对每一个产品，确定当前的生产工序；针对所述生产工序，实时从生产设备中获取所述生产工序对应的第一参数；将所述第一参数与预设的标准参数范围比对；若所述第一参数不在所述标准参数范围内，则发起评审请求，其中，所述评审请求中包括所述生产工序与所述第一参数。

【技术特征摘要】
1.一种工程设计数据处理方法，其特征在于，包括：针对每一个产品，确定当前的生产工序；针对所述生产工序，实时从生产设备中获取所述生产工序对应的第一参数；将所述第一参数与预设的标准参数范围比对；若所述第一参数不在所述标准参数范围内，则发起评审请求，其中，所述评审请求中包括所述生产工序与所述第一参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述发起评审请求之后，还包括：根据所述评审请求中的所述生产工序，获取预先存储的历史评审记录；判断所述历史评审记录中是否包括与当前评审请求相一致的第一评审记录；若包括，则将所述第一评审记录对应的第一解决方案作为所述评审请求对应的解决方案。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述判断所述历史评审记录中是否包括与当前评审请求相一致的第一评审记录之后，还包括：若不包括与所述当前评审请求一致的第一评审记录，则提示第一用户自定义评审问题；接收第二用户返回的自定义评审问题对应的第二解决方案；实时从生产设备中获取根据所述第二解决方案制备产品的第二参数；判断所述第二参数是否符合预设的产品要求；若符合，则将所述自定义评审问题与所述第二解决方案作为所述生产工序对应的历史评审并对其进行存储。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述自定义评审问题中还包括发起所述自定义评审问题的时间，所述若不包括与所述当前评审请求一致的第一评审记录，则提示第一用户自定义评审问题之后，还包括：若超过预设的时间没有的得到所述第二用户返回的第二解决方案，则提示所述第二用户对所述自定义评审问题进行处理。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取当前的全部评审请求；根据评审人和/或评审时间和/或生产工序和/或客户对所述全部评审请求进行统计分析。6.一种工程设计数据处理装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄云钟，王成立，高翔，曹磊磊，尹立孟，张桂萍，王刚，
申请(专利权)人：北大方正集团有限公司，重庆方正高密电子有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11