显示面板制造技术

本发明专利技术提供一种显示面板，包括：阵列基板，阵列基板包括显示区以及围绕显示区的非显示区；第一检测线和第二检测线，用于检测显示面板是否出现裂纹，第一检测线和第二检测线位于非显示区内，并且围绕显示区的至少一部分；其中，与第一检测线相比，第二检测线更靠近显示区，并且第一检测线的至少一部分为非金属线，第二检测线为金属线。非金属线的脆性较好，与金属线相比在显示面板上产生微小裂纹时，非金属线更容易发生断裂，进而可以检测出显示面板上的微小裂纹，与仅通过金属线来检测显示面板相比，提高了裂纹检测精度。

【技术实现步骤摘要】
显示面板
本专利技术涉及显示设备
，尤其涉及一种显示面板。
技术介绍
有机发光二极管(OrganicLight-EmittingDiode，简称为OLED)显示面板作为显示装置已经逐渐应用在各领域中，在加工显示面板时，需对显示面板进行切割以获得一定尺寸的显示面板；在切割显示面板时，容易在显示面板上形成由边缘向内部延伸的裂纹，因此如何检测裂纹成为研究的热点。现有技术中，常在显示面板的阵列基板内、环绕显示面板显示区的非显示区内设置金属线；当显示面板上具有裂纹时，金属线发生断裂；当检测到金属线的电阻较小(例如几千欧姆)时，则显示面板上没有裂纹，当检测到金属线的电阻较大(例如几百兆欧姆)时，则显示面板上存在裂纹。
技术实现思路
由于金属线的韧性较好，当裂纹较小时金属线不容易断裂，进而导致裂纹的检测精度不足。有鉴于此，本专利技术实施例提供一种显示面板，以解决设置在阵列基板内的金属线韧性较好，当显示面板上的裂纹较小时金属线不容易断裂，进而导致裂纹的检测精度不足的技术问题。本专利技术实施例提供了一种显示面板，包括：阵列基板，所述阵列基板包括显示区以及围绕所述显示区的非显示区；第一检测线和第二检测线，用于检测所述显示面板是否出现裂纹，所述第一检测线和第二检测线位于所述非显示区内，并且围绕所述显示区的至少一部分；其中，与所述第一检测线相比，所述第二检测线更靠近所述显示区，并且所述第一检测线的至少一部分为非金属线，所述第二检测线为金属线。如上所述的显示面板，优选地，所述阵列基板还包括凹槽，所述凹槽位于所述第一检测线与所述第二检测线之间。如上所述的显示面板，优选地，所述凹槽内填充有机物。如上所述的显示面板，优选地，所述显示面板还包括与所述阵列基板层叠设置的像素限定层，所述阵列基板具有平坦化层，所述有机物与所述像素限定层或所述平坦化层一体成型。如上所述的显示面板，优选地，所述第一检测线包括第一导线和第二导线，所述第一导线与所述阵列基板中的金属层同层形成，所述第二导线为非金属线，且所述第二导线与所述阵列基板中的非金属层同层形成，并且所述第一导线与所述第二导线之间通过过孔连接。如上所述的显示面板，优选地，所述第一导线为多个，多个所述第一导线沿所述第一检测线的延伸方向间隔地设置，相邻所述第一导线之间通过所述第二导线连接。如上所述的显示面板，优选地，所述非金属线的材料包括多晶硅和/或氧化铟锡。如上所述的显示面板，优选地，所述第一检测线上设置有至少一个凹部，所述凹部呈锯齿状。如上所述的显示面板，优选地，所述显示面板还包括第三检测线，所述第三检测线设置在所述第一检测线背离所述显示区的一侧。如上所述的显示面板，优选地，所述第三检测线为金属线。本专利技术实施例提供的显示面板，通过在阵列基板的非显示区内设置第一检测线和第二检测线，第一检测线和第二检测线环绕显示区的至少一部分，第二检测线为金属线，第一检测线的至少一部分为非金属线；与金属线相比，由于非金属线的脆性较好，当显示面板上产生微小裂纹时，非金属线更容易发生断裂，进而可以检测出显示面板上的微小裂纹，与仅通过金属线检测显示面板相比，提高了裂纹检测精度。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的显示面板中阵列基板的结构示意图一；图2为本专利技术实施例提供的显示面板的结构示意图一；图3为本专利技术实施例提供的显示面板的结构示意图二；图4为本专利技术实施例提供的显示面板中阵列基板的结构示意图二；图5为图4中A处的局部放大图；图6为本专利技术实施例提供的显示面板中阵列基板的结构示意图三。附图标记说明：10、阵列基板；101、显示区；102、非显示区；103、第二检测线；104、第一检测线；105、平坦化层；106、衬底；107、第三检测线；108、金属层；109、缓冲层；1041、第一导线；1042、第二导线；1043、凹部；20、像素限定层；30、凹槽；40、第一电极；50、第二电极；60、过孔。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。图1为本专利技术实施例提供的显示面板中阵列基板的结构示意图一。图2为本专利技术实施例提供的显示面板的结构示意图。图3为本专利技术实施例提供的显示面板的结构示意图二。图4为本专利技术实施例提供的显示面板中阵列基板的结构示意图二。图5为图4中A处的局部放大图。图6为本专利技术实施例提供的显示面板中阵列基板的结构示意图三。请参照图1-图6。本实施例提供一种显示面板，包括：阵列基板10，阵列基板10包括显示区101以及围绕显示区101的非显示区102；第一检测线104和第二检测线103，用于检测显示面板是否出现裂纹；第一检测线104和第二检测线103位于非显示区102内，并且围绕显示区101的至少一部分；其中，与第一检测线104相比，第二检测线103更靠近显示区101，并且第一检测线104的至少一部分为非金属线，第二检测线103为金属线。继续参照图2和图3。本实施例中的显示面板还包括设置在阵列基板10上的多个发光单元、用于分隔发光单元的像素限定层20、以及设置在像素限定层20背离阵列基板10一侧的第一电极40，阵列基板10内具有薄膜晶体管，阵列基板10朝向像素限定层20的面上具有与每一发光单元对应的第二电极50，阵列基板10内薄膜晶体管与第二电极50电连接。显示面板工作时，薄膜晶体管控制第二电极50带电，以使第二电极50对应的发光单元发光，以实现显示面板的显示。其中，第一电极40可以为阴极，相应的第二电极50为阳极；或者第一电极40为阳极，则第二电极50为阴极。继续参照图1，本实施例中，阵列基板10包括显示区101和非显示区102，非显示区102环绕在显示区101的外侧，并且各发光单元在阵列基板10上的投影均位于显示区101内。本实施例中，在切割显示面板时，由显示面板的边缘产生的裂纹在非显示区102内向显示区101延伸，第一检测线104和第二检测线103设置在非显示区102内，可以在裂纹产生在非显示区102时就将其检测出来。具体地，当阵列基板10的非显示区102产生裂纹时，会使位于非显示区102内的第一检测线104和第二检测线103受力，导致第一检测线104和/或第二检测线103断裂；本实施例中，可以通过检测第一检测线104和第二检测线103的电压、电流或电阻来判断第一检测线104和第二检测线103是否发生断裂，进而判断出显示面板上是否具有裂纹。以检测第一检测线104为例，可以将万用表的两个表笔直接与第一检测线104的两端连接，以检测第一检测线104的电阻，当检测出第一检测线104的电阻值较高(例如，几百兆欧姆)时，则第一检测线104断裂，显示面板上存在裂纹；当检测出第一检测线104的电阻值较低(例本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板，其特征在于，包括：阵列基板，所述阵列基板包括显示区以及围绕所述显示区的非显示区；第一检测线和第二检测线，用于检测所述显示面板是否出现裂纹，所述第一检测线和第二检测线位于所述非显示区内，并且围绕所述显示区的至少一部分；其中，与所述第一检测线相比，所述第二检测线更靠近所述显示区，并且所述第一检测线的至少一部分为非金属线，所述第二检测线为金属线。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，其特征在于，包括：阵列基板，所述阵列基板包括显示区以及围绕所述显示区的非显示区；第一检测线和第二检测线，用于检测所述显示面板是否出现裂纹，所述第一检测线和第二检测线位于所述非显示区内，并且围绕所述显示区的至少一部分；其中，与所述第一检测线相比，所述第二检测线更靠近所述显示区，并且所述第一检测线的至少一部分为非金属线，所述第二检测线为金属线。2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述阵列基板还包括凹槽，所述凹槽位于所述第一检测线与所述第二检测线之间。3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述凹槽内填充有机物。4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括与所述阵列基板层叠设置的像素限定层，所述阵列基板具有平坦化层，所述有机物与所述像素限定层或所述平坦化层一体成型。5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：周志伟，韩珍珍，胡思明，宋艳芹，李威龙，张露，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32