一种显示面板及其残影测试装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种显示面板及其残影测试装置和方法。其中，该显示面板包括：显示区和围绕显示区的非显示区，该显示面板包括：一一对应电连接的至少一个第一像素驱动电路和至少一个第一发光元件，位于显示区；任一第一像素驱动电路对应设置有两条引出线，两条引出线位于第一发光元件的驱动电流的流通路径上，两条引出线的第一端位于显示区，两条引出线的第二端位于非显示区，与第一像素驱动电路对应的两条引出线对应设置外部线路，两条引出线的第二端分别与外部线路的两端电连接。本发明专利技术实施例提供的技术方案可以提高显示面板的残影测试精度，减小测试误差。

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板及其残影测试装置和方法
本专利技术涉及显示技术，尤其涉及一种显示面板及其残影测试装置和方法。
技术介绍
为了提高显示装置的性能和质量，在生产过程中，需要对显示装置的分辨率、亮度、对比度、色域、响应时间、残像等级等性能指标进行检测和评定。其中，残像是指影像残留。当显示装置的显示画面切换至下一个画面时，显示面板上会残留上一个画面的图像，从而造成影像残留的现象，即出现残影。残影会严重影响显示器的画面品质。现有技术通过人眼观察显示装置的残影进行测试，存在人为误差因素的影响，导致测试结果误差较大。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种显示面板及其残影测试装置和方法，以提高显示面板的残影测试精度，减小测试误差。第一方面，本专利技术实施例提供了一种显示面板，包括：显示区和围绕显示区的非显示区，该显示面板包括：一一对应电连接的至少一个第一像素驱动电路和至少一个第一发光元件，位于显示区；任一第一像素驱动电路对应设置有两条引出线，两条引出线位于第一发光元件的驱动电流的流通路径上，两条引出线的第一端位于显示区，两条引出线的第二端位于非显示区，与第一像素驱动电路对应的两条引出线对应设置外部线路，两条引出线的第二端分别与外部线路的两端电连接。进一步地，第一像素驱动电路的数量为两个，第一发光元件的数量为两个；显示面板还包括：第一扫描线，两个第一像素驱动电路与第一扫描线电连接，两个第一像素驱动电路关于显示面板的第一对称轴对称，第一对称轴垂直于第一扫描线。进一步地，至少一个第一子像素电路位于显示区的中间位置或边缘区域。进一步地，任一外部线路包括两根导线和插接组件，与外部线路对应的两条引出线的第一端分别与两根导线的第一端一一对应电连接，两根导线的第二端与插接组件电连接。进一步地，第一像素驱动电路的驱动晶体管的第一极经对应的两条引出线与第一发光元件的阳极电连接。进一步地，第一发光元件的阴极经对应的两条引出线与第一电压信号线电连接。第二方面，本专利技术实施例还提供了一种用于测试本专利技术任意实施例提供的显示面板的残影测试装置，包括：测试控制模块，与显示面板电连接，用于在第一时间段，向显示面板输入与初始画面对应的数据电压信号，且在第二时间段，向显示面板输入与预设画面对应的数据电压信号；至少一个电流检测模块，与至少一个外部线路一一对应设置，任一电流检测模块用于检测对应的第一发光元件在第二时间段内的驱动电流，并输出检测信号；信号处理模块，与至少一个电流检测模块的输出端电连接，用于对检测信号进行处理。进一步地，电流检测模块包括电流霍尔传感器，外部线路穿过对应的电流霍尔传感器的磁芯，电流霍尔传感器的输出端与电流检测模块的输出端电连接。第三方面，本专利技术实施例还提供了一种用于测试本专利技术任意实施例提供的显示面板的残影测试方法，包括：在第一时间段，向显示面板输入与初始画面对应的数据电压信号；在第二时间段，向显示面板输入与预设画面对应的数据电压信号；获取任一第一发光元件在第二时间段内的驱动电流；根据第一发光元件在第二时间段内的驱动电流，确定残影水平。进一步地，当第一像素驱动电路的个数为至少两个，第一发光元件的个数为至少两个时，至少两个第一像素驱动电路在第二时间段的数据电压信号对应的灰阶大于至少两个第一像素驱动电路在第一时间段的数据电压信号对应的灰阶的最小值，小于至少两个第一像素驱动电路在第一时间段的数据电压信号对应的灰阶的最大值。进一步地，根据第一发光元件在第二时间段内的驱动电流，确定残影水平包括：将任一第一发光元件在第二时间段内的驱动电流与预设系数的乘积，作为任一第一发光元件对应的像素在第二时间段内的驱动电流；根据任一第一发光元件对应的像素在第二时间段内的驱动电流，确定任一第一发光元件对应的像素在第二时间段内的驱动电流的极值和稳定值；根据至少两个第一发光元件对应的像素在第二时间段内的驱动电流的极值和稳定值，计算残影水平，其中，残影水平其中，M为第一发光元件的个数，i为整数，1≤i≤M，Ii为第i个第一发光元件对应的像素在第二时间段内的驱动电流的极值，IN为至少两个第一发光元件对应的像素在第二时间段内的驱动电流的稳定值。第四方面，本专利技术实施例还提供了一种用于测试本专利技术任意实施例提供的显示面板的残影测试方法，当第一像素驱动电路的个数为一个，第一发光元件的个数为一个时，该残影测试方法包括：在第2k-1时间段，向显示面板输入与第k个初始画面对应的数据电压信号；在第2k时间段，向显示面板输入与预设画面对应的数据电压信号；获取第一发光元件在第2k时间段内的驱动电流；其中，k＝1、2……K，K≥2，k和K均为整数，将获取的第一发光元件在第2k时间段内的驱动电流与预设系数的乘积，作为第一发光元件对应的像素在第2k时间段内的驱动电流；根据第一发光元件对应的像素在第2k时间段内的驱动电流，确定第一发光元件对应的像素在第2k时间段内的驱动电流的极值和稳定值；根据第一发光元件对应的像素在所有第偶数时间段内的驱动电流的极值和稳定值，计算残影水平，其中，残影水平其中，j为整数，1≤j≤K，Ij为第一发光元件对应的像素在第2j时间段内的驱动电流的极值，INj为第一发光元件对应的像素在第2j时间段内的驱动电流的稳定值。本专利技术实施例通过在第一发光元件的驱动电流的流通路径上，设置两条引出线和外部线路，以将对应的第一发光元件的电流引出来，从而可以通过电流检测模块检测第一发光元件的驱动电流，进而通过切换显示面板显示的画面，以使第一发光元件切换到不同的灰阶或亮度，通过检测切换过程中第一发光元件的驱动电流，根据第一发光元件在切换过程中的驱动电流，确定残影水平，相比于通过人眼观察显示装置的残影来进行残影测试的方式，可以避免存在人为误差因素的影响，导致测试结果误差较大，从而可以提高显示面板的残影测试精度，减小测试误差。附图说明图1为本专利技术实施例提供的一种显示面板的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种第一像素驱动电路的结构示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种第二像素驱动电路的结构示意图；图5为本专利技术实施例提供的又一种第一像素驱动电路的结构示意图；图6为本专利技术实施例提供的又一种第二像素驱动电路的结构示意图；图7为本专利技术实施例提供的一种残影测试装置的结构示意图；图8为本专利技术实施例提供的一种在第一时间段的测试示意图；图9为本专利技术实施例提供的一种在第二时间段的测试示意图；图10为本专利技术实施例提供的一种两个第一发光元件的驱动电流的波形示意图；图11为本专利技术实施例提供的一种电流霍尔传感器的结构示意图；图12为本专利技术实施例提供的一种残影测试方法的流程图；图13为本专利技术实施例提供的又一种残影测试方法的流程图；图14为本专利技术实施例提供的又一种残影测试方法的流程图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。本专利技术实施例提供一种显示面板。图1为本专利技术实施例提供的一种显示面板的结构示意图。该显示面板100包括：显示区110和围绕显示区110的非显示区120。其中，该显示面板100包括：一一对应电连接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板，其特征在于，包括：显示区和围绕所述显示区的非显示区，该显示面板包括：一一对应电连接的至少一个第一像素驱动电路和至少一个第一发光元件，位于所述显示区；任一所述第一像素驱动电路对应设置有两条引出线，所述两条引出线位于所述第一发光元件的驱动电流的流通路径上，所述两条引出线的第一端位于所述显示区，所述两条引出线的第二端位于所述非显示区，与第一像素驱动电路对应的两条引出线对应设置外部线路，所述两条引出线的第二端分别与所述外部线路的两端电连接。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，其特征在于，包括：显示区和围绕所述显示区的非显示区，该显示面板包括：一一对应电连接的至少一个第一像素驱动电路和至少一个第一发光元件，位于所述显示区；任一所述第一像素驱动电路对应设置有两条引出线，所述两条引出线位于所述第一发光元件的驱动电流的流通路径上，所述两条引出线的第一端位于所述显示区，所述两条引出线的第二端位于所述非显示区，与第一像素驱动电路对应的两条引出线对应设置外部线路，所述两条引出线的第二端分别与所述外部线路的两端电连接。2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一像素驱动电路的数量为两个，所述第一发光元件的数量为两个；所述显示面板还包括：第一扫描线，所述两个第一像素驱动电路与所述第一扫描线电连接，所述两个第一像素驱动电路关于所述显示面板的第一对称轴对称，所述第一对称轴垂直于所述第一扫描线。3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述至少一个第一子像素电路位于所述显示区的中间位置或边缘区域。4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，任一所述外部线路包括两根导线和插接组件，与所述外部线路对应的两条引出线的第一端分别与两根导线的第一端一一对应电连接，所述两根导线的第二端与所述插接组件电连接。5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一像素驱动电路的驱动晶体管的第一极经对应的两条引出线与所述第一发光元件的阳极电连接。6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一发光元件的阴极经对应的两条引出线与第一电压信号线电连接。7.一种用于测试权利要求1-6任一所述的显示面板的残影测试装置，其特征在于，包括：测试控制模块，与所述显示面板电连接，用于在第一时间段，向所述显示面板输入与初始画面对应的数据电压信号，且在第二时间段，向所述显示面板输入与预设画面对应的数据电压信号；至少一个电流检测模块，与所述至少一个外部线路一一对应设置，任一所述电流检测模块用于检测对应的第一发光元件在第二时间段内的驱动电流，并输出检测信号；信号处理模块，与所述至少一个电流检测模块的输出端电连接，用于对所述检测信号进行处理。8.根据权利要求7所述的用于显示面板的残影测试装置，其特征在于，所述电流检测模块包括电流霍尔传感器，所述外部线路穿过对应的电流霍尔传感器的磁芯，所述电流霍尔传感器的输出端与所述电流检测模块的输出端电连接。9.一种用于测试权利要求1-6任一所述的显示面板的残影测试方法，其特征在于，包括：在第一时间段，向所述显示面板输入与初始画面对应的数据电压信号；在第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵文炎，朱晖，李永岗，朱正勇，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32