测试单元、阵列板及显示面板COG绑定状态的监测方法技术

本发明专利技术涉及一种测试单元、阵列板及显示面板COG绑定状态的监测方法，监测方法包括以下步骤：提供阵列板，阵列板包括两个以上相互间隔设置的显示面板，相邻两个显示面板之间及两个以上显示面板的外周侧具有空白区域；在空白区域上设置测试单元，测试单元包括复制接线端子膜层，复制接线端子膜层为复制显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成；将芯片与测试单元绑定，监测芯片与测试单元的绑定状态，以验证显示面板的COG绑定状态。根据本发明专利技术实施例提供的测试单元、阵列板及显示面板COG绑定状态的监测方法，通过测试单元能够有效的反馈确认显示面板的COG各区域的绑定状态。

【技术实现步骤摘要】
测试单元、阵列板及显示面板COG绑定状态的监测方法
本专利技术涉及显示
，特别是涉及一种测试单元、阵列板以及显示面板COG绑定状态的监测方法。
技术介绍
随着科技的不断发展，电子终端设备的使用日趋增多，如手机、平板电脑、计算机等。而OLED显示技术具有自发光的特性，采用非常薄的有机材料涂层和玻璃基板，当有电流通过时，这些有机材料就会发光，而且OLED显示屏幕可视角度大，并且能够节省电能，因此在终端设备的显示屏幕中应用越来越广泛。现有的OLED显示器为了能够更好地降低成本，通常将驱动电路的芯片绑定于有机发光二极管的玻璃基板上(ChipOnGlass，COG)，目前OLED显示面板由于无额外背光源保护基板玻璃，芯片所在单层玻璃会有倒角制程，消去玻璃尖角，避免机构上的破片风险影响显示。然而，该方式同时使得单层玻璃区面积减小，导致无法布置相关的诸多监控用接线端子及走线等，进而使得现有的测试监控方案无法有效确认显示面板的COG各区域bonding状态。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种测试单元、阵列板以及显示面板COG绑定状态的监测方法，通过测试单元能够有效的反馈确认显示面板的COG各区域的绑定状态。本专利技术实施例一方面提出了一种测试单元，用于验证显示面板COG绑定状态，测试单元包括：复制接线端子膜层，复制接线端子膜层为复制显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成。根据本专利技术实施例的一个方面，复制接线端子膜层包括显示面板的绑定区域的输入端子膜层及输出端子膜层。根据本专利技术实施例的另一个方面提出了一种阵列板，包括：显示面板，包括相互间隔设置的两个以上的显示面板，相邻两个显示面板之间及两个以上显示面板的外周侧具有空白区域；测试单元，设置于空白区域，测试单元包括复制接线端子膜层，所述复制接线端子膜层为复制所述显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成。根据本专利技术实施例的又一个方面提出了一种显示面板COG绑定状态的监测方法，包括以下步骤：提供阵列板，阵列板包括两个以上相互间隔设置的显示面板，相邻两个显示面板之间及两个以上显示面板的外周侧具有空白区域；在空白区域上设置测试单元，测试单元包括复制接线端子膜层，复制接线端子膜层为复制显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成；将芯片与测试单元绑定，监测芯片与测试单元的绑定状态，以验证显示面板的COG绑定状态。根据本专利技术实施例的又一个方面，将芯片与测试单元绑定，监测芯片与测试单元的绑定状态，以验证显示面板的COG绑定状态的步骤中，通过监测芯片与测试单元的绑定阻抗来监测芯片与测试单元的绑定状态。根据本专利技术实施例的又一个方面，进一步包括根据芯片与测试单元的绑定阻抗来调整绑定工艺条件，当绑定阻抗大于所述预设阻值时，调整绑定工艺条件，其中，所述预设阻值小于等于10Ω。根据本专利技术实施例的又一个方面，将芯片与所述测试单元绑定，监测芯片与测试单元的绑定状态，以验证显示面板的COG绑定状态的步骤中，通过监测芯片与测试单元绑定区域的粒子状态来监测所述芯片与测试单元的绑定状态。根据本专利技术实施例的又一个方面，进一步包括根据芯片与测试单元绑定区域的粒子状态来调整绑定工艺条件，当芯片与测试单元绑定区域的粒子数小于8和/或没有可见压痕时，调整绑定工艺条件。根据本专利技术实施例的又一个方面，在空白区域上设置测试单元，测试单元包括复制接线端子膜层，复制接线端子膜层为复制所述显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成的步骤中，复制接线端子膜层包括显示面板的绑定区域的输入端子膜层及输出端子膜层。根据本专利技术实施例的又一个方面，在将芯片与测试单元绑定，监测芯片与测试单元的绑定状态，以验证显示面板的COG绑定状态的步骤中，进一步包括监测输入端子膜层及输出端子膜层各自的两侧区域的绑定状态和/或中间区域的绑定状态。根据本专利技术实施例的又一个方面，在空白区域上设置测试单元，测试单元包括复制接线端子膜层，复制接线端子膜层为复制显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成的步骤中，设置的测试单元数量与显示面板的数量相同且一一对应；或者，设置的测试单元的数量小于显示面板的数量，两个以上显示面板分成两组以上显示面板组，每组显示面板组的各显示面板结构相同并共同与其中一个测试单元对应设置。根据本专利技术实施例的又一个方面，将芯片与测试单元绑定，监测芯片与测试单元的绑定状态，以验证显示面板的COG绑定状态步骤之前，进一步包括将测试单元与显示面板切割分离的步骤。根据本专利技术实施例提供的测试单元、阵列板以及显示面板COG绑定状态的监测方法，测试单元包括复制接线端子膜层，复制接线端子膜层通过复制显示面板绑定区域的接线端子膜层构成，在对显示面板的COG绑定状态进行监测时，可以通过监测与其对应的测试单元与芯片的绑定状态来反馈其自身的COG绑定状态。测试单元可以设置于显示面板所属的阵列板的空白区域，由于空白区域的面积较大，测试单元所复制的接线端子膜层的测试点可以设置的较大，不受测试点限制，通过测试单元能够有效确认相应显示面板的COG各区域绑定状态。附图说明下面将参考附图来描述本专利技术示例性实施例的特征、优点和技术效果。图1是本专利技术实施例的阵列板的结构示意图；图2是本专利技术实施例的显示面板COG绑定状态的监测方法的流程示意图；图3是本专利技术实施例的测试单元的复制接线端子膜层两侧区域的结构示意图；图4是本专利技术实施例的测试单元的复制接线端子膜层中间区域的结构示意图。其中：100-阵列板；10-显示面板；20-测试单元；21-测试点；22-输入端子膜层；23-输出端子膜层；30-空白区域。在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例绘制。具体实施方式下面将详细描述本专利技术的各个方面的特征和示例性实施例。在下面的详细描述中，提出了许多具体细节，以便提供对本专利技术的全面理解。但是，对于本领域技术人员来说很明显的是，本专利技术可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本专利技术的示例来提供对本专利技术的更好的理解。在附图和下面的描述中，至少部分的公知结构和技术没有被示出，以便避免对本专利技术造成不必要的模糊；并且，为了清晰，可能夸大了部分结构的尺寸。此外，下文中所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。下述描述中出现的方位词均为图中示出的方向，并不是对本专利技术的测试单元、阵列板及显示面板的COG绑定状态的监测方法的具体结构进行限定。在本专利技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可视具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。为了更好地理解本专利技术，下面结合图1至图4根据本专利技术实施例的测试单元、阵列板及显示面板的COG绑定状态的监测方法进行详细描述。图1示出了本专利技术实施例的阵列板的结构示意图，图2示出了本专利技术实施例的显示面板的COG绑定状态的监测方法的流程示意图，图3示出了本专利技术实施例的测试单元的复制接线端子膜层两侧区域的结构示意图，图4示出了本专利技术实施例的测试单元的复制接线端子膜层中间区域的结构示意图。请一并参阅图1至图4，本专利技术实施例提供一种阵列板100，阵列板100包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试单元，用于验证显示面板COG绑定状态，其特征在于，所述测试单元包括：复制接线端子膜层，所述复制接线端子膜层为复制所述显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成。

【技术特征摘要】
1.一种测试单元，用于验证显示面板COG绑定状态，其特征在于，所述测试单元包括：复制接线端子膜层，所述复制接线端子膜层为复制所述显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成。2.根据权利要求1所述的测试单元，其特征在于，所述复制接线端子膜层包括所述显示面板的绑定区域的输入端子膜层及输出端子膜层。3.一种阵列板，其特征在于，包括：显示面板，两个以上的所述显示面板相互间隔设置，相邻两个所述显示面板之间及两个以上所述显示面板的外周侧具有空白区域；测试单元，设置于所述空白区域，所述测试单元包括复制接线端子膜层，所述复制接线端子膜层为复制所述显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成。4.一种显示面板COG绑定状态的监测方法，其特征在于，包括以下步骤：提供阵列板，所述阵列板包括两个以上相互间隔设置的显示面板，相邻两个所述显示面板之间及两个以上所述显示面板的外周侧具有空白区域；在所述空白区域上设置测试单元，所述测试单元包括复制接线端子膜层，所述复制接线端子膜层为复制所述显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成；将芯片与所述测试单元绑定，监测所述芯片与所述测试单元的绑定状态，以验证所述显示面板的COG绑定状态。5.根据权利要求4所述的显示面板COG绑定状态的监测方法，其特征在于，所述将芯片与所述测试单元绑定，监测所述芯片与所述测试单元的绑定状态，以验证所述显示面板的COG绑定状态的步骤中，通过监测所述芯片与所述测试单元的绑定阻抗来监测所述芯片与所述测试单元的绑定状态。6.根据权利要求5所述的显示面板COG绑定状态的监测方法，其特征在于，进一步包括根据所述芯片与所述测试单元的所述绑定阻抗来调整绑定工艺条件，当所述绑定阻抗大于预设阻值时，调整所述绑定工艺条件，其中，所述预设阻值小于等于10Ω。7.根据权利要求4所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：张文浩，李俊峰，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32