自动检测方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提出一种自动检测方法、装置及电子设备，涉及电路检测领域。本发明专利技术实施例所提供了一种自动检测方法、装置及电子设备，方法包括，依据获取的配置参数和测试用例池得到测试用例；依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例。使得在编程器件的自动检测过程中需要重复执行相同的测试用例和对比相同的匹配用例时，可以直接从测试用例池中依据配置参数得到已经执行过的测试用例，从匹配用例池中依据配置参数得到对比过的匹配用例，将测试用例发送至编程器件，以使编程器件运行测试用例得到测试输出；接收编程器件发送的测试输出，并依据测试输出和匹配用例进行对比生成检测结果。从而完成编程器件的自动检测。

【技术实现步骤摘要】
自动检测方法、装置及电子设备
本专利技术涉及电路检测领域，具体而言，涉及一种自动检测方法、装置及电子设备。
技术介绍
随着编程器件容量和规模的日益扩大，如FPGA、PAL、GAL、CPLD等可编程器件应用也越来越广泛，为了保证基于编程器件工程的正确性，需要大量的测试用例来验证。目前的测试一般分为手工测试和自动化测试。在需要大批量的进行测试的时候，自动化就是很有必要的。自动化检测为先依据预设的配置参数生成测试用例，编程器件运行测试用例得到测试输出，PC运行测试用例得到匹配用例，经过对比测试输出和匹配用例来验证编程器件工程的正确性。但在编程器件上进行自动化测试的时候，通常是需要大量的用例来验证结果的正确性，并且要重复对一个用例进行多次验证以确保错误没有随机性，当进行错误随机性的验证测试的时候，通常会重复执行指定的测试用例，按照传统的做法，将会再次生成之前已经存在的测试用例和匹配用例。当测试匹配用例的生成需要花费较长时间时，会因为重复生成导致的大量时间的资源的浪费。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种自动检测方法、装置及电子设备，以解决上述问题。为了实现上述目的，本专利技术实施例采用的技术方案如下：第一方面，本专利技术实施例提出一种自动检测方法，应用于与编程器件连接的电子设备，所述方法包括依据获取的配置参数和测试用例池得到测试用例，其中所述测试用例池用于存储所述测试用例；依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例，其中所述匹配用例池用于存储所述匹配用例；将所述测试用例发送至所述编程器件，以使所述编程器件运行所述测试用例得到测试输出；接收所述编程器件发送的所述测试输出，并依据所述测试输出和所述匹配用例进行对比，生成检测结果。第二方面，本专利技术实施例还提出一种自动检测装置，应用于与编程器件连接的电子设备，所述装置包括测试用例生成模块，用于依据获取的配置参数和测试用例池得到测试用例，其中所述测试用例池用于存储所述测试用例；匹配用例生成模块，用于依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例，其中所述匹配用例池用于存储所述匹配用例；发送模块，用于将所述测试用例发送至所述编程器件，以使所述编程器件运行所述测试用例得到测试输出；处理模块，用于接收所述编程器件发送的所述测试输出，并依据所述测试输出和所述匹配用例进行对比，生成检测结果。第三方面，本专利技术实施例还提出一种电子设备，包括：存储器；处理器，所述处理器包括第一处理单元和第二处理单元，所述第一处理单元用于执行依据获取的配置参数和测试用例池得到测试用例的步骤，所述第二处理单元用于执行依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例的步骤；所述存储器中存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时自动检测方法的步骤。相对现有技术，本专利技术实施例所提供了一种自动检测方法、装置及电子设备，所述方法包括，依据获取的配置参数和测试用例池得到测试用例；依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例。使得在编程器件的自动检测过程中需要重复执行相同的测试用例和对比相同的匹配用例时，可以直接从测试用例池中依据配置参数得到已经执行过的测试用例，从匹配用例池中依据配置参数得到对比过的匹配用例，从而减少了编程器件在自动检测过程中不必要的功耗浪费，将所述测试用例发送至所述编程器件，以使所述编程器件运行所述测试用例得到测试输出；接收所述编程器件发送的所述测试输出，并依据所述测试输出和所述匹配用例进行对比，生成检测结果。从而完成编程器件的自动检测。本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术实施例了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1示出了本专利技术实施例所提供的应用环境示意图。图2示出了本专利技术实施例所提供的电子设备结构框图。图3示出了本专利技术实施例所提供的自动检测方法流程示意图。图4示出了图3中S1的子步骤流程示意图。图5示出了图3中S2的子步骤流程示意图。图6示出了本专利技术实施例所提供的自动检测装置功能模块示意图。图标：100-电子设备；300-编程器件；111-存储器；112-处理器；113-通信单元；200-自动检测装置；201-测试用例生成模块；202-匹配用例生成模块；203-发送模块；204-处理模块。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。请参阅图1，图1为本专利技术实施例所提供的运行环境示意图，电子设备100与编程器件300通过有线或无线网络通信连接。电子设备100用于依据生成的配置参数从测试用例池中提取测试用例，或依据配置参数生成测试用例，电子设备100同时依据生成的配置参数从匹配用例池中提取匹配用例，或依据测试用例生成匹配用例，电子设备100将测试用例发送至编程器件300，以使编程器件300运行测试用例得到测试输出，并将测试输出发送至电子设备100，电子设备100依据测试输出和匹配用例生成检测报告。编程器件300用于接收电子设备100发送的测试用例并运行测试用例得到测试输出，编程器件300将测试输出发送至电子设备100，以使电子设备100依据测试输出和匹配用例生成检测报告。编程器件300内部有集成存储器，集成存储器中存储有可在编程器件300上运行的程序以实现自动检测方法的步骤。图2示出本专利技术较佳实施例提供的电子设备100的方框示意图。优选地，上述电子设备100为具有较强运算能力的电子设备100，例如，服务器、超级计算机、高性能PC等。上述电子设备100包括存储器111、处理器112、通信单元113。所述存储器111、处理器112和通信单元113各元件相互之间直接或间接地电性连接，以实现数据的传输或交互。例如，这些元件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。所述处理器112用于执行所述存储器111中存储的可执行模块。其中，所述存储器111可以是，但不限于，随机存取存储器(RandomAccessMemory，RAM)，只读存储器(ReadOnlyMemory，ROM)，可编程只读存储器(ProgrammableRead-OnlyMemory，PROM)，可擦除只读存储器(ErasableProgrammableRead-OnlyMemo本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动检测方法，应用于与编程器件连接的电子设备，其特征在于，所述方法包括：依据获取的配置参数和预先设置的测试用例池得到测试用例，其中所述测试用例池用于存储所述测试用例；依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例，其中所述匹配用例池用于存储所述匹配用例；将所述测试用例发送至所述编程器件，以使所述编程器件运行所述测试用例得到测试输出；接收所述编程器件发送的所述测试输出，并依据所述测试输出和所述匹配用例进行对比，生成检测结果。

【技术特征摘要】
1.一种自动检测方法，应用于与编程器件连接的电子设备，其特征在于，所述方法包括：依据获取的配置参数和预先设置的测试用例池得到测试用例，其中所述测试用例池用于存储所述测试用例；依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例，其中所述匹配用例池用于存储所述匹配用例；将所述测试用例发送至所述编程器件，以使所述编程器件运行所述测试用例得到测试输出；接收所述编程器件发送的所述测试输出，并依据所述测试输出和所述匹配用例进行对比，生成检测结果。2.如权利要求1所述的自动检测方法，其特征在于，所述依据获取的配置参数和测试用例池得到测试用例的步骤包括：依据所述配置参数得到第一标识符；若所述测试用例池中存在具有所述第一标识符的所述测试用例，则取出所述测试用例。3.如权利要求1所述的自动检测方法，其特征在于，所述依据获取的配置参数和测试用例池得到测试用例的步骤还包括：依据所述配置参数得到第一标识符；若所述测试用例池中不存在具有所述第一标识符的所述测试用例，则依据所述配置参数生成所述测试用例；将所述测试用例放入所述测试用例池中。4.如权利要求1所述的自动检测方法，其特征在于，所述依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例的步骤包括：依据所述配置参数得到第二标识符；若所述匹配用例池中存在具有所述第二标识符的所述匹配用例，则取出所述匹配用例。5.如权利要求1所述的自动检测方法，其特征在于，所述依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例的步骤还包括：依据所述配置参数得到第二标识符；若所述匹配用例池中不存在具有所述第二标识符的所述匹配用例，则运行所述测试用例得到所述匹配用例；将所述匹配用例放入所述匹配用例池中。6.一种自动检测装置，应用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴万馨，
申请(专利权)人：湖南国科微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南,43