一种量子点表面配体覆盖率的测定方法技术

技术编号:21452121 阅读:40 留言:0更新日期:2019-06-26 04:13
本发明专利技术提出一种量子点表面配体覆盖率的测定方法。通过氧化还原法测定量子点表面含巯基的有机配体的覆盖率Ki,可用于对量子点的质量评定。若Ki小于2*10

【技术实现步骤摘要】
一种量子点表面配体覆盖率的测定方法
本专利技术涉及量子点
,尤其涉及一种量子点表面配体覆盖率的测定方法。
技术介绍
量子点,是指几何尺寸小于其激子波尔半径的半导体纳米晶。量子点由于具有吸收带宽、荧光发射带窄、量子效率高、光稳定性好等优异的光学性质,在生物医学、环境能源、照明显示等领域中有巨大的潜在应用性。基于量子点发光的显示技术近年来受到显示行业的高度重视,与液晶显示和有机发光显示相比,量子点发光色域更广、色纯度更高、结构更简单,稳定性更高,被认为是新一代显示技术。量子点显示器件的制备技术包括旋涂、喷墨打印等。这两种方法的具体过程是将量子点溶液喷射在基体材料上,干燥后在特定位置形成量子点薄膜。量子点溶液的黏度、表面张力和电荷运输能力决定了器件制备过程中量子点液滴的润湿能力、干燥速率、咖啡环效应和薄膜的光电性能,因此,量子点溶液的质量对器件制备起着至关重要的作用。而在量子点溶液的配制过程中,量子点表面配体对量子点溶液有着重要影响,表面配体不仅影响量子点本身的光电性能,还会影响量子点溶液的溶解性和稳定性。常见的量子点表面配体为羧酸、胺、烷基磷、烷基氧膦、烷基磷酸、硫醇等。表面配体对本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种量子点表面配体覆盖率的测定方法,其特征在于,包括:提供样品颗粒,所述样品颗粒中的单个颗粒包括量子点和结合在所述量子点表面的含巯基的有机配体,所述量子点中不含硫元素;测定所述样品颗粒中颗粒的平均粒径;将所述样品颗粒与氧化剂混合,使所述量子点表面的含巯基的有机配体氧化生成二氧化硫,将生成的所述二氧化硫通入吸收液,得到待测溶液;将待测溶液与显色剂混合形成混合液后显色,测定所述混合液的吸光度;提供硫浓度的吸光度标准曲线,对照所述标准曲线,获得待测溶液中硫浓度,换算成样品颗粒中S元素质量,计算得到量子点表面配体覆盖率Ki。

【技术特征摘要】
1.一种量子点表面配体覆盖率的测定方法,其特征在于,包括:提供样品颗粒,所述样品颗粒中的单个颗粒包括量子点和结合在所述量子点表面的含巯基的有机配体,所述量子点中不含硫元素;测定所述样品颗粒中颗粒的平均粒径;将所述样品颗粒与氧化剂混合,使所述量子点表面的含巯基的有机配体氧化生成二氧化硫,将生成的所述二氧化硫通入吸收液,得到待测溶液;将待测溶液与显色剂混合形成混合液后显色,测定所述混合液的吸光度;提供硫浓度的吸光度标准曲线,对照所述标准曲线,获得待测溶液中硫浓度,换算成样品颗粒中S元素质量,计算得到量子点表面配体覆盖率Ki。2.根据权利要求1所述量子点表面配体覆盖率的测定方法,其特征在于,根据S元素质量与样品颗粒的质量比,计算得到所述量子点表面配体覆盖率Ki。3.根据权利要求1所述量子点表面配体覆盖率的测定方法,其特征在于,所述量子点为一元量子点、二元量子点或三元量子点。4.根据权利要求3所述量子点表面配体覆盖率的测定方法,其特征在于,所述一元量子点选自Au、Ag、Cu、Pt或C量子点;所述二元量子点选自CdSe、ZnSe、PbSe、CdTe、ZnO、MgO、CeO2、NiO、TiO2、InP或CaF2量子点;所述三元量子点选自CdZnSe、NaYF4、NaCdF4、ZnCdTe、CdZnSe/ZnSe、CdSe/CdZnSe/CdZnSe/ZnSe或CdZnSe/CdZnSe/ZnSe量子点。5.根据权利要求1所述量子点表面配体覆盖率的测定方法,其特征在于,所述含巯基的有机配体选自一硫醇、二硫醇、巯基醇、巯基胺和巯基酸中的一种或多种。6.根据权利要求5所述量子点表面配体覆盖率的测定方法,其特征在于,所述的一硫醇选自己硫醇、辛硫醇、壬硫醇、癸硫醇、十一硫醇、十二硫醇、十三硫醇、十四硫醇、十六硫醇和十八硫醇中的一种或多种;所述的二硫醇选自1,2-乙二硫醇、1,3-丙二硫醇、1,4-丁二硫醇、1,5-戊二硫醇、1,6-己二硫醇、1,8-辛二硫醇和1,10-癸二硫醇中的一种或多种;所述的巯基醇包括2-巯基乙醇、3-巯基-1-丙醇、4-巯基-1-丁醇、5-巯基-1-戊醇、6-巯基-1-己醇和8-巯基-1-辛醇中的一种或多种;所述的巯基酸包括2-巯基乙酸、3-巯基丙酸、4-巯基丁酸、巯基丁二酸、6-巯基己...

【专利技术属性】
技术研发人员:覃辉军叶炜浩杨一行
申请(专利权)人:TCL集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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