一种X射线的检测系统技术方案

本实用新型专利技术实施例公开了一种X射线的检测系统，检测系统包括：光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直器和处理器；第一探测器和第二探测器在待探测物体的传动方向上交替排布；光源发生器，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号；第一探测器，用于接收透过待探测物体后的多列透射光束信号；准直器，用于对透过待探测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择；第二探测器，用于接收经准直设备选择后的散射光束信号；处理器，用于依据多列透射光束信号和选择后的散射光束信号，确定待探测物体的检测结果。

【技术实现步骤摘要】
一种X射线的检测系统
本技术涉及X射线检测领域，尤其涉及一种X射线的检测系统。
技术介绍
准确检出违禁品是公共安检的重点和难点，传统透射成像技术不能提供分子结构信息，存在局限性。X射线衍射(X-raydiffraction，XRD)技术可提供物质分子层面的结构信息，具有很强的特异性，因此通过检测物质的衍射光谱可以识别物质。目前的XRD检测系统一般包括：光源、探测器与准直系统，利用该XRD技术检测违禁品，可弥补其他传统技术的不足，有助于提高识别准确率。但是，目前的检测系统存在对散射光束信号的收集效率低等问题。
技术实现思路
本技术实施例提供一种X射线的检测系统，可以提高对散射光束信号的收集效率，进而提高检测系统的检测效率。根据本技术实施例的第一方面，提供一种X射线的检测系统，该检测系统包括：光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直设备和处理器；所述第一探测器和所述第二探测器在待检测物体的传动方向上交替排布；所述光源发生器，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号；所述第一探测器，用于接收透过所述待检测物体后的多列透射光束信号；所述准直设备，用于对透过所述待检测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择；所述第二探测器，用于接收经所述准直设备选择后的散射光束信号；所述处理器，用于依据所述多列透射光束信号和选择后的所述散射光束信号，确定所述待检测物体的检测结果。根据本技术实施例中的检测系统，由于使用了多列光束信号，以及第一探测器和第二探测器在待检测物体的传动方向上交替排布，使得在单位时间内收集到的散射光束信号中的光子数大大提高，即提高了对散射光束信号的收集效率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对本技术实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是示出本技术实施例的X射线的检测系统的架构示意图；图2是示出本技术实施例光源发生器的光束信号入射点平面的示意图；图3是示出本技术实施例中第一探测器和第二探测器的排布示意图；图4是示出本技术实施例中散射光束信号的示意图；图5是示出本技术实施例中待检测物体的位置示意图；图6是示出本技术实施例提供的检测方法的流程示意图。具体实施方式下面将详细描述本技术的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本技术，并不被配置为限定本技术。对于本领域技术人员来说，本技术可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本技术的示例来提供对本技术更好的理解。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。目前的检测系统有很多种，一般都是包括：光源发生器、探测器与准直系统。在光源发生器的选择上，一般使用由电子束打靶产生韧致辐射的X射线，即是产生能量分布较宽的X射线能谱。在探测器的选择上，可以使用光子计数探测器或者能量积分探测器，其中光子计数探测器能够区分光子的能量，而能量积分探测器不能区分光子能量。由于需要对X射线衍射的光谱进行检测，因此需要匹配相应的探测器。能量积分探测器必须要对光源发生器在X射线能量维度进行滤波，而光子计数探测器则不需要对X射线的光源发生器有限制。由于散射的物理过程在空间上分布平缓，很容易在同一探测器像素中出现不同重建像素信息混迭的情况。为了能够求解，所以增加了准直设备，它可以滤掉不必要的信号，降低混叠，提高求解稳定性。现在常用的准直设备主要包括长直准直器和编码板。长直准直器是在两个维度对X射线进行约束，编码板是在一个维度对X射线进行约束。但是目前的检测系统虽然可以检测某一像素点的衍射信息，但是它的成像时间过长，无法在实际中应用。另外，仅仅使用光子计数探测器虽然提高了对散射光束信号的收集效率，但是依旧存在扫描时间过长、无法实际应用的问题。使用能量积分探测器以及编码板虽然提高了散射光束信号通量，但需要对光源发生器进行能量维度的滤波处理，降低了光子的使用效率。本技术实施例是基于上述存在的问题进行的改进。为了更好的理解本技术，下面将结合附图，详细描述根据本技术实施例的检测系统和检测方法，应注意，这些实施例并不是用来限制本技术公开的范围。图1是示出根据本技术实施例的X射线的检测系统的架构示意图。如图1所示，本实施例中的X射线的检测系统100包括：光源发生器110、第一探测器120、第二探测器130、准直设备140和处理器150。第一探测器120和第二探测器130在待检测物体160的传动方向上交替排布。光源发生器110，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号。第一探测器120，用于接收透过待检测物体160后的多列透射光束信号。准直设备140，用于对透过待检测物体160后的多列散射光束信号进行特异性选择。第二探测器130，用于接收经准直设备140选择后的散射光束信号。处理器150，用于依据多列透射光束信号和选择后的散射光束信号，确定待检测物体160的检测结果。从图1中可知，光源发生器110的光束信号发射方向为三维笛卡尔坐标系的X轴的正方向，待检测物体160的传动方向为三维笛卡尔坐标系的Y轴。光源发生器110发生出多列光束信号，这些列光束信号会透过待检测物体160，然后透射光束信号会被第一探测器120接收，而散射光束信号会先经过准直设备140进行特异性选择，选择后的散射光束信号会被第二探测器130接收。通过处理器150处理透射光束信号和散射光束信号，确定待检测物体的检测结果。通过本技术实施例，由于使用了多列光束信号，以及第一探测器120和第二探测器130在待检测物体160的传动方向上交替排布，使得在单位时间内收集到的散射光束信号中的光子数大大提高，即提高了对散射光束信号的收集效率。图2是示出本技术实施例光源发生器的光束信号入射点平面的示意图。在一实施例中，多列光束信号的入射平面是YOZ平面，且在YOZ平面上的入射点呈二维离散分布。具体的，多列光束信号的入射点在三维笛卡尔坐标系的Z轴上是等间距排布，且在Y轴上是等间距分布或者不等间距分布。具体的，列光束信号的入射点形成的直线与Z轴平行。需要理解的是，如图2所示，光束信号沿X轴入射，在YOZ平面内，入射点是二维离散分布。列光束信号的入射点形成的直线与Z轴平行，在Z轴方向入射点都是等间距排布的，在Y轴方向入射点可以等间距分布，也可以不等间距分布。若是在Y方向等间距分本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种X射线的检测系统，其特征在于，所述检测系统包括：光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直设备和处理器；所述第一探测器和所述第二探测器在待探测物体的传动方向上交替排布；所述光源发生器，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号；所述第一探测器，用于接收透过所述待探测物体后的多列透射光束信号；所述准直设备，用于对透过所述待探测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择；所述第二探测器，用于接收经所述准直设备选择后的散射光束信号；所述处理器，用于依据所述多列透射光束信号和选择后的所述散射光束信号，确定所述待探测物体的检测结果。

【技术特征摘要】
1.一种X射线的检测系统，其特征在于，所述检测系统包括：光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直设备和处理器；所述第一探测器和所述第二探测器在待探测物体的传动方向上交替排布；所述光源发生器，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号；所述第一探测器，用于接收透过所述待探测物体后的多列透射光束信号；所述准直设备，用于对透过所述待探测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择；所述第二探测器，用于接收经所述准直设备选择后的散射光束信号；所述处理器，用于依据所述多列透射光束信号和选择后的所述散射光束信号，确定所述待探测物体的检测结果。2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述光源发生器的光束信号发射方向为三维笛卡尔坐标系的X轴的正方向，待检测物体的传动方向为三维笛卡尔坐标系的Y轴。3.根据权利要求2所述的检测系统，其特征在于，所述多列光束信号的入射平面是YOZ平面，且在所述YOZ平面上的入射点呈二维离散分布。4.根据权利要求3所述的检测系...

【专利技术属性】
技术研发人员：张丽，陈志强，孙运达，金鑫，常铭，许晓飞，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11