一种X射线的检测系统技术方案

本实用新型专利技术实施例公开了一种X射线的检测系统，检测系统包括：光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直器和处理器；第一探测器和第二探测器在待探测物体的传动方向上交替排布；光源发生器，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号；第一探测器，用于接收透过待探测物体后的多列透射光束信号；准直器，用于对透过待探测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择；第二探测器，用于接收经准直设备选择后的散射光束信号；处理器，用于依据多列透射光束信号和选择后的散射光束信号，确定待探测物体的检测结果。

【技术实现步骤摘要】
一种X射线的检测系统
本技术涉及X射线检测领域，尤其涉及一种X射线的检测系统。
技术介绍
准确检出违禁品是公共安检的重点和难点，传统透射成像技术不能提供分子结构信息，存在局限性。X射线衍射(X-raydiffraction，XRD)技术可提供物质分子层面的结构信息，具有很强的特异性，因此通过检测物质的衍射光谱可以识别物质。目前的XRD检测系统一般包括：光源、探测器与准直系统，利用该XRD技术检测违禁品，可弥补其他传统技术的不足，有助于提高识别准确率。但是，目前的检测系统存在对散射光束信号的收集效率低等问题。
技术实现思路
本技术实施例提供一种X射线的检测系统，可以提高对散射光束信号的收集效率，进而提高检测系统的检测效率。根据本技术实施例的第一方面，提供一种X射线的检测系统，该检测系统包括：光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直设备和处理器；所述第一探测器和所述第二探测器在待检测物体的传动方向上交替排布；所述光源发生器，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号；所述第一探测器，用于接收透过所述待检测物体后的多列透射光束信号；所述准直设备，用于对透过所述待检测物体后的多列散射光束本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种X射线的检测系统，其特征在于，所述检测系统包括：光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直设备和处理器；所述第一探测器和所述第二探测器在待探测物体的传动方向上交替排布；所述光源发生器，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号；所述第一探测器，用于接收透过所述待探测物体后的多列透射光束信号；所述准直设备，用于对透过所述待探测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择；所述第二探测器，用于接收经所述准直设备选择后的散射光束信号；所述处理器，用于依据所述多列透射光束信号和选择后的所述散射光束信号，确定所述待探测物体的检测结果。

【技术特征摘要】
1.一种X射线的检测系统，其特征在于，所述检测系统包括：光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直设备和处理器；所述第一探测器和所述第二探测器在待探测物体的传动方向上交替排布；所述光源发生器，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号；所述第一探测器，用于接收透过所述待探测物体后的多列透射光束信号；所述准直设备，用于对透过所述待探测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择；所述第二探测器，用于接收经所述准直设备选择后的散射光束信号；所述处理器，用于依据所述多列透射光束信号和选择后的所述散射光束信号，确定所述待探测物体的检测结果。2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述光源发生器的光束信号发射方向为三维笛卡尔坐标系的X轴的正方向，待检测物体的传动方向为三维笛卡尔坐标系的Y轴。3.根据权利要求2所述的检测系统，其特征在于，所述多列光束信号的入射平面是YOZ平面，且在所述YOZ平面上的入射点呈二维离散分布。4.根据权利要求3所述的检测系...

【专利技术属性】
技术研发人员：张丽，陈志强，孙运达，金鑫，常铭，许晓飞，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11