一种用氧化法测定弹簧钢盘条奥氏体晶粒度的方法技术

本发明专利技术公开一种氧化法测定弹簧钢盘条奥氏体晶粒度的方法，包括如下步骤：a将盘条切割成横向金相样；b对金相样进行打磨、抛光；c热处理：炉温升至850℃～950℃后，将试样放入炉中开始计时，保温2～3min，从炉中迅速取出试样淬水冷却；d对抛光面表面生成的灰黑色氧化层进行再次抛光并腐蚀；e依据GB/T 6394金属平均晶粒度测定方法中的评级图谱对奥氏体晶粒进行评级。

【技术实现步骤摘要】
一种用氧化法测定弹簧钢盘条奥氏体晶粒度的方法
本专利技术属于金属材料领域，涉及一种用氧化法测定55SiCr弹簧钢盘条奥氏体晶粒度的方法。
技术介绍
目前尚无一种显示和测定55SiCr弹簧钢热轧盘条奥氏体晶粒度的方法。用“GB/T6394金属平均晶粒度测定方法”中用氧化法(C.2.1.5)给出的方法不适用于高硅易脱碳的55SiCr弹簧钢盘条。原因为热处理(860℃±10，保温1h)保温时间较长，表面产生较深的全脱碳层，放入冷水或盐水淬不上火，对预拋磨表面进行轻抛后显示的是铁素体晶粒，将铁素体全脱碳层全部磨掉后也显示不出奥氏体晶粒。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提出了一种氧化法测定55SiCr弹簧钢盘条奥氏体晶粒度的方法。为了达到上述目的，本专利技术采用以下技术方案实现：一种氧化法测定弹簧钢盘条奥氏体晶粒度的方法，其特征在于包括如下步骤：a将盘条切割成横向金相样；b对金相样进行打磨、抛光；c热处理：炉温升至850℃～950℃后，将试样放入炉中开始计时，保温2～3min，从炉中取出试样淬水冷却；d对抛光面表面生成的灰黑色氧化层进行再次抛光并腐蚀；e依据GB/T6394金属平均晶粒度测定方法中的评级图谱对奥氏体晶粒进行评级。所述的腐蚀采用浓度4％的硝酸酒精溶液进行腐蚀。技术方案设计的原理：由于55SiCr容易脱碳，可以降低保温时间，采用较短的保温时间使钢奥氏体化后在奥氏体晶界上产生氧化和脱碳。这样就可以显示奥氏体晶界了，然后根据GB/T6394金属平均晶粒度测定方法中的评级图谱进行奥氏体晶粒的评级。采用本专利技术测定55SiCr弹簧钢盘条奥氏体晶粒度，不仅可清楚的显示出奥氏体晶粒还可以准确的测量出了奥氏体晶粒度。附图说明图1为900℃保温3min的显微组织；图2为950℃保温3min的显微组织；图3为850℃保温3min的显微组织。具体实施方式下面结合具体实施例进行说明：一种氧化法测定55SiCr弹簧钢盘条奥氏体晶粒度的方法，包括如下步骤：a将55SiCr盘条切割成横向金相样；b对金相样进行打磨、抛光；c热处理：炉温升至850℃～950℃后，将试样放入炉中(抛光面朝上)开始计时，保温2～3min，从炉中迅速取出试样淬水冷却；d对抛光面表面生成的灰黑色氧化层进行再次抛光，然后用4％的硝酸酒精溶液进行腐蚀；e依据“GB/T6394金属平均晶粒度测定方法”对奥氏体晶粒进行评级。图1为900℃保温3min的显微组织，可以清楚的看出奥氏体晶粒(奥氏体晶界内部为淬水后形成的马氏体)，奥氏体晶粒度8级。图2为950℃保温3min的显微组织，可以清楚的看出奥氏体晶粒(奥氏体晶界内部为淬水后形成的马氏体)，奥氏体晶粒度8级。图3为850℃保温3min的显微组织，可以清楚的看出奥氏体晶粒(奥氏体晶界内部为淬水后形成的马氏体)，奥氏体晶粒度8级。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种氧化法测定弹簧钢盘条奥氏体晶粒度的方法，其特征在于包括如下步骤：a将盘条切割成横向金相样；b对金相样进行打磨、抛光；c热处理：炉温升至850℃～950℃后，将试样放入炉中开始计时，保温2～3min，从炉中迅速取出试样淬水冷却；d对抛光面表面生成的灰黑色氧化层进行再次抛光并腐蚀；e依据GB/T 6394金属平均晶粒度测定方法中的评级图谱对奥氏体晶粒进行评级。

【技术特征摘要】
1.一种氧化法测定弹簧钢盘条奥氏体晶粒度的方法，其特征在于包括如下步骤：a将盘条切割成横向金相样；b对金相样进行打磨、抛光；c热处理：炉温升至850℃～950℃后，将试样放入炉中开始计时，保温2～3min，从炉中迅速取出试样淬水冷却；d对抛光...

【专利技术属性】
技术研发人员：张博，高航，郭大勇，车安，王宏亮，马立国，王秉喜，
申请(专利权)人：鞍钢股份有限公司，
类型：发明
国别省市：辽宁,21