量测系统及其量测参数设置方法技术方案

本发明专利技术提供一种量测系统及其量测参数设置方法。本发明专利技术的量测系统中，参数设定模块输入与待量测产品对应的初始量测参数并上传至存储模块中，多个量测机台中的一个量测机台放入待量测产品，该放入待量测产品的量测机台从存储模块下载待量测产品对应的初始量测参数并在对其下载的初始量测参数进行调整产生与待量测产品对应的调整量测参数后将该待调整量测参数上传至存储模块中，多个量测机台中除了放入待量测产品的量测机台外的其他量测机台从存储模块下载待量测产品对应的调整量测参数，从而多个量测机台之间可以共享量测参数，节省量测参数设定时间，提升机台使用率。

【技术实现步骤摘要】
量测系统及其量测参数设置方法
本专利技术涉及显示制造
，尤其涉及一种量测系统及其量测参数设置方法。
技术介绍
在显示
，液晶显示装置(LiquidCrystalDisplay，LCD)、有机发光二极管显示装置(OrganicLightEmittingDisplay，OLED)等平板显示装置已经逐步取代阴极射线管(CathodeRayTube，CRT)显示装置。液晶显示装置具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示装置，其包括液晶显示面板及背光模组(backlightmodule)。通常液晶显示面板由彩膜(ColorFilter，CF)基板、薄膜晶体管(ThinFilmTransistor，TFT)阵列基板、夹于彩膜基板与薄膜晶体管阵列基板之间的液晶(LiquidCrystal，LC)及密封胶框(Sealant)组成。液晶显示面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子，两片玻璃基板中间有许多垂直和水平的细小电线，通过通电与否来控制液晶分子改变方向，将背光模组的光线折射出来产生画面。OLED显示装置的OLED器件通常包括：基板、设于基板上的阳极、设于阳极上的空穴注入层、设于空穴注入层上的空穴传输层、设于空穴传输层上的发光层、设于发光层上的电子传输层、设于电子传输层上的电子注入层及设于电子注入层上的阴极。OLED器件的发光原理为半导体材料和有机发光材料在电场驱动下，通过载流子注入和复合导致发光。具体的，OLED器件通常采用氧化铟锡(ITO)电极和金属电极分别作为器件的阳极和阴极，在一定电压驱动下，电子和空穴分别从阴极和阳极注入到电子传输层和空穴传输层，电子和空穴分别经过电子传输层和空穴传输层迁移到发光层，并在发光层中相遇，形成激子并使发光分子激发，后者经过辐射弛豫而发出可见光。显示装置在制作过程中，需要利用量测机台对包括显示装置的半成品及成品在内的待量测产品进行量测以获取关键参数，用于判定显示装置的品质。现有技术中在利用量测机台对产品进行量测时，需要在量测机台中设置与待量测产品对应的量测参数(Recipe)。请参阅图1，对多个量测机台中的量测参数进行设定的方法包括：步骤S1’、生成待量测产品对应的初始量测参数，步骤S2’、选取多个量测机台中的一个为待调整量测机台，将待量测产品放入该待调整机台中并将初始量测参数输入该待调整量测机台，对初始量测参数进行调整产生与待量测产品对应的调整量测参数，步骤S3’、重复步骤S2’，直至每一量测机台均执行步骤S2’。此量测参数的设置方法需要将多个量测机台进行停机后逐一对多个量测机台进行设置，导致全局设备效率(OEE)较低，同时有可能发生某些量测机台中有调整量测参数而另一些量测机台中无调整量测参数的情况发生，造成管理混乱。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种量测系统，多个量测机台之间可以共享量测参数，节省量测参数设定时间，提升机台使用率。本专利技术的另一目的在于提供一种量测系统的量测参数设置方法，多个量测机台之间可以共享量测参数，节省量测参数设定时间，提升机台使用率。为实现上述目的，本专利技术首先提供一种量测系统，包括参数设定模块、与参数设定模块连接的存储模块及与存储模块连接的多个量测机台；所述参数设定模块用于输入与待量测产品对应的初始量测参数并上传至存储模块；多个量测机台中的一个量测机台放入待量测产品，该放入待量测产品的量测机台从存储模块下载待量测产品对应的初始量测参数，在对该放入待量测产品的量测机台下载的初始量测参数进行调整产生与待量测产品对应的调整量测参数后该放入待量测产品的量测机台将该待调整量测参数上传至存储模块；多个量测机台中除了放入待量测产品的量测机台外的其他量测机台从存储模块下载待量测产品对应的调整量测参数。所述参数设定模块在接收到与调整量测参数对应的修改指令时，从存储模块中下载调整量测参数并依据该修改指令对调整量测参数进行修改，将修改后的调整量测参数上传至存储模块并经存储模块传输至多个量测机台中。所述初始量测参数包括初始机台对位参数、初始量测点位参数及初始分析检测参数，所述调整量测参数包括调整机台对位参数、调整量测点位参数及调整分析检测参数。所述存储模块为联网共享文件夹或FTP服务器。所述参数设定模块为虚拟计算机或模拟软件。本专利技术还提供一种量测系统的量测参数设置方法，包括如下步骤：步骤S1、提供待量测产品及量测系统；所述量测系统包括参数设定模块、与参数设定模块连接的存储模块及与存储模块连接的多个量测机台；步骤S2、生成待量测产品对应的初始量测参数；步骤S3、将待量测产品对应的初始量测参数输入参数设定模块；步骤S4、参数设定模块将与待量测产品对应的初始量测参数上传至存储模块；步骤S5、将待量测产品放入多个量测机台中的一个量测机台中，该放入待量测产品的量测机台从存储模块下载待量测产品对应的初始量测参数；对该放入待量测产品的量测机台下载的初始量测参数进行调整产生与待量测产品对应的调整量测参数，该放入待量测产品的量测机台将该待调整量测参数上传至存储模块；步骤S6、多个量测机台中除了放入待量测产品的量测机台外的其他量测机台从存储模块下载待量测产品对应的调整量测参数。所述量测系统的量测参数设置方法还包括：步骤S7、向所述参数设定模块输入与调整量测参数对应的修改指令；步骤S8、所述参数设定模块从存储模块中下载调整量测参数并依据该修改指令对调整量测参数进行修改；步骤S9、所述参数设定模块将修改后的调整量测参数上传至存储模块并经存储模块传输至多个量测机台中。所述初始量测参数包括初始机台对位参数、初始量测点位参数及初始分析检测参数，所述调整量测参数包括调整机台对位参数、调整量测点位参数及调整分析检测参数。所述存储模块为联网共享文件夹或FTP服务器。所述参数设定模块为虚拟计算机或模拟软件。本专利技术的有益效果：本专利技术的量测系统中，参数设定模块输入与待量测产品对应的初始量测参数并上传至存储模块中，多个量测机台中的一个量测机台放入待量测产品，该放入待量测产品的量测机台从存储模块下载待量测产品对应的初始量测参数并在对其下载的初始量测参数进行调整产生与待量测产品对应的调整量测参数后将该待调整量测参数上传至存储模块中，多个量测机台中除了放入待量测产品的量测机台外的其他量测机台从存储模块下载待量测产品对应的调整量测参数，从而多个量测机台之间可以共享量测参数，节省量测参数设定时间，提升机台使用率。本专利技术的量测系统的量测参数设置方法中，多个量测机台之间可以共享量测参数，节省量测参数设定时间，提升机台使用率。附图说明为了能更进一步了解本专利技术的特征以及
技术实现思路
，请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本专利技术加以限制。附图中，图1为现有的对多个量测机台中的量测参数进行设定的方法的流程图；图2为本专利技术的量测系统的结构示意图；图3为本专利技术的量测系统的量测参数设置方法的流程图。具体实施方式为更进一步阐述本专利技术所采取的技术手段及其效果，以下结合本专利技术的优选实施例及其附图进行详细描述。请参阅图2，本专利技术提供一种量测系统，包括参数设定模块10、与参数设定模块10连接的存储模块20及与存储模块20连接的多个本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种量测系统，其特征在于，包括参数设定模块(10)、与参数设定模块(10)连接的存储模块(20)及与存储模块(20)连接的多个量测机台(30)；所述参数设定模块(10)用于输入与待量测产品对应的初始量测参数并上传至存储模块(20)；多个量测机台(30)中的一个量测机台(30)放入待量测产品，该放入待量测产品的量测机台(30)从存储模块(20)下载待量测产品对应的初始量测参数，在对该放入待量测产品的量测机台(30)下载的初始量测参数进行调整产生与待量测产品对应的调整量测参数后该放入待量测产品的量测机台(30)将该待调整量测参数上传至存储模块(20)；多个量测机台(30)中除了放入待量测产品的量测机台(30)外的其他量测机台(30)从存储模块(20)下载待量测产品对应的调整量测参数。

【技术特征摘要】
1.一种量测系统，其特征在于，包括参数设定模块(10)、与参数设定模块(10)连接的存储模块(20)及与存储模块(20)连接的多个量测机台(30)；所述参数设定模块(10)用于输入与待量测产品对应的初始量测参数并上传至存储模块(20)；多个量测机台(30)中的一个量测机台(30)放入待量测产品，该放入待量测产品的量测机台(30)从存储模块(20)下载待量测产品对应的初始量测参数，在对该放入待量测产品的量测机台(30)下载的初始量测参数进行调整产生与待量测产品对应的调整量测参数后该放入待量测产品的量测机台(30)将该待调整量测参数上传至存储模块(20)；多个量测机台(30)中除了放入待量测产品的量测机台(30)外的其他量测机台(30)从存储模块(20)下载待量测产品对应的调整量测参数。2.如权利要求1所述的量测系统，其特征在于，所述参数设定模块(10)在接收到与调整量测参数对应的修改指令时，从存储模块(20)中下载该调整量测参数并依据该修改指令对调整量测参数进行修改，将修改后的调整量测参数上传至存储模块(20)并经存储模块(20)传输至多个量测机台(30)中。3.如权利要求1所述的量测系统，其特征在于，所述初始量测参数包括初始机台对位参数、初始量测点位参数及初始分析检测参数，所述调整量测参数包括调整机台对位参数、调整量测点位参数及调整分析检测参数。4.如权利要求1所述的量测系统，其特征在于，所述存储模块(20)为联网共享文件夹或FTP服务器。5.如权利要求1所述的量测系统，其特征在于，所述参数设定模块(10)为虚拟计算机或模拟软件。6.一种量测系统的量测参数设置方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1、提供待量测产品及量测系统；所述量测系统包括参数设定模块(10)、与参数设定模块(10)连接的存储模块(20)及...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙晓辉，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44