The optical axis adjustment method of the integrated optical module includes: changing the wavelength of the incident light imported into the package, measuring the output current by detecting the light divided by the first and second filters by the first and second light-receiving elements respectively; detecting the central wavelength of the first and second light according to the change of the output current relative to the wavelength of the incident light; and detecting the central wavelength of the first and second light according to the change of the output current relative to the wavelength of the incident light; Comparing the central wavelength of light with the designed transmission wavelength of the first and second filters, setting the difference between them as the first and second wavelength offset, and adjusting the position of the optical splitter to reduce the sum of the first and second wavelength offset.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】集成型光模块的光轴调整方法、制造方法以及光轴调整装置
本专利技术涉及集成型光模块的光轴调整方法、制造方法以及光轴调整装置,特别是涉及用于将入射光分波为波长不同的多个光的光分波器的光轴调整方法、具备该光分波器的集成型光模块的制造方法以及光轴调整装置。
技术介绍
近年来,光通信的通信速度增大,要求具有高通信速度、更小型且功耗低的光通信模块。因此,正在开发如下的小型且具有高通信速度的集成型光通信模块(以下,称为“集成型光模块”。):在一个光通信模块内安装多个受光元件,为了使这些受光元件受光,将从一个光纤输出的波分复用的光分波为不同波长的多个光,通过各受光元件将光信号转换为电信号。在以往的光通信模块中,相对于一个光通信模块,受光元件也是一个,相对于该一个受光元件进行来自光纤的输出光的光轴调整,在由受光元件从光信号转换得到的电信号的电流值达到最佳的位置固定光通信模块和光纤。与此相对,在集成型光模块中,在一个集成型光模块内安装多个受光元件,需要进行用于使从光纤输出的波分复用光分波为波长不同的多个光而使各受光元件受光的光轴调整。因此,需要进行与安装在集成型光模块内的受光元件的数量相应的次数的光轴调整。与此相对,在专利文献1所记载的方法中,准备光分波器,该光分波器具备多个波长滤波器并将入射的光信号分波为不同波长的多个信号光,以与光轴调整用的外部光源的光轴垂直的角度为基准,按照基准角度与设计角度的差值决定了光分波器的位置之后,测定各受光元件的受光信号,对光分波器的位置进行微调。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2016-18016号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课 ...
【技术保护点】
1.一种光轴调整方法,是在封装内具备光分波器和至少第1受光元件及第2受光元件的集成型光模块的光轴调整方法,所述光分波器将入射光分波为波长不同的至少第1光和第2光,所述第1光适合于第1受光元件的受光波长波段,所述第2光适合于第2受光元件的受光波长波段,所述第1受光元件及第2受光元件分别接收第1光及第2光,其特征在于,所述光轴调整方法包括:使导入到封装内的入射光的波长变化,通过第1受光元件及第2受光元件分别检测由第1滤波器及第2滤波器分波的光来测定输出电流的测定工序;根据相对于入射光的波长变化的输出电流的变化来检测第1光及第2光的中心波长的检测工序;将第1光及第2光的中心波长和第1滤波器及第2滤波器的设计透过波长进行比较,将各自的差值设为第1波长偏移及第2波长偏移的工序;以及调整光分波器的位置以使第1波长偏移及第2波长偏移的总和变小的调整工序。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.11.10 JP 2016-2198821.一种光轴调整方法,是在封装内具备光分波器和至少第1受光元件及第2受光元件的集成型光模块的光轴调整方法,所述光分波器将入射光分波为波长不同的至少第1光和第2光,所述第1光适合于第1受光元件的受光波长波段,所述第2光适合于第2受光元件的受光波长波段,所述第1受光元件及第2受光元件分别接收第1光及第2光,其特征在于,所述光轴调整方法包括:使导入到封装内的入射光的波长变化,通过第1受光元件及第2受光元件分别检测由第1滤波器及第2滤波器分波的光来测定输出电流的测定工序;根据相对于入射光的波长变化的输出电流的变化来检测第1光及第2光的中心波长的检测工序;将第1光及第2光的中心波长和第1滤波器及第2滤波器的设计透过波长进行比较,将各自的差值设为第1波长偏移及第2波长偏移的工序;以及调整光分波器的位置以使第1波长偏移及第2波长偏移的总和变小的调整工序。2.根据权利要求1所述的光轴调整方法,其特征在于,所述入射光由能够使波长变化的单一波长的光构成,所述测定工序是在包含第1波长及第2波长的波长区域中使入射光的波长变化的工序。3.根据权利要求1所述的光轴调整方法,其特征在于,所述入射光包含第1波长及第2波长的光,所述测定工序是在包含第1波长的波长区域和包含第2波长的波长区域中分别使入射光的波长变化的工序。4.根据权利要求1至3中任一项所述的光轴调整方法,其特征在于,所述入射光由能够使波长变化到第1波长波段以外的波长波段的光构成,所述测定工序是检测从光分波器的第1滤波器反射的光、并以与入射光垂直的角度为基准将光分波器调整到设计角度的工序。5.根据权利要求3所述的光轴调整方法,其特征在于,使所述第1波长的光在包含第1波长的波长区域中变化的工序和使所述第2波长的光在包含第2...
【专利技术属性】
技术研发人员:神山大知,小寺秀和,佐藤义也,畑端佳,下野真也,
申请(专利权)人:三菱电机株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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