一种非接触式验电装置制造方法及图纸

技术编号:21317744 阅读:43 留言:0更新日期:2019-06-12 15:50
本实用新型专利技术公开了一种非接触式验电装置,包括感应探头、屏蔽线和控制电路,所述探头通过屏蔽线和所述控制电路连接,所述控制电路设于控制箱体内,所述控制箱体内设有气泵和热交换器,所述感应探头底部设有底座,所述底座设有空腔和与空腔连通的出气孔,所述空腔通过管道依次与所述热交换器、气泵连通,所述热交换器包括筒体和设于筒体外壁的半导体制冷片,所述半导体制冷片、气泵分别与控制开关连通。在感应探头的底部设有底座,通过底座的空腔向上吹气体,吹出的气体经过加热后在吹出,能够调节感应探头的温度,避免感应探头的温度过低,提高感应探头检测的准确性能。

A Non-contact Electrical Inspection Device

The utility model discloses a non-contact electrometric device, which comprises an induction probe, a shielding line and a control circuit. The probe is connected with the control circuit through a shielding line. The control circuit is arranged in the control box. The control box is provided with an air pump and a heat exchanger. The bottom of the induction probe is provided with a base, which is provided with a cavity and an air outlet connected with the cavity. The cavity is connected with the heat exchanger and the gas pump in turn through a pipeline. The heat exchanger comprises a cylinder and a semiconductor refrigeration sheet arranged on the outer wall of the cylinder. The semiconductor refrigeration sheet and the gas pump are respectively connected with the control switch. A base is arranged at the bottom of the induction probe, and the gas is blown up through the cavity of the base. The blown gas is blown out after being heated, which can adjust the temperature of the induction probe, avoid the temperature of the induction probe being too low, and improve the accuracy of the detection of the induction probe.

【技术实现步骤摘要】
一种非接触式验电装置
本技术涉及验电装置
,特别涉及一种非接触式验电装置。
技术介绍
现有的高压带电监控装置通常采用非接触式的验电装置,该装置不与高压带电体直接连接,能感应电场信号,准确反映高压带电体的情况。感应探头对温度较为敏感,其运行温度在-15℃~-55℃,在我国北方地区,冬季气温达到-30℃~-40℃。温度过低时,感应探头出现信号漂移,甚至失灵,不能准确检测出高压带电体的带电情况。
技术实现思路
针对上述现有技术,本技术在于提供一种非接触式验电装置,能够在温度低时对感应探头进行升温,提高感应探头检测的准确性。本专利技术的技术方案是这样实现的:一种非接触式验电装置,包括感应探头、屏蔽线和控制电路,所述探头通过屏蔽线和所述控制电路连接,所述控制电路设于控制箱体内,所述控制箱体内设有气泵和热交换器,所述感应探头底部设有底座,所述底座设有空腔和与空腔连通的出气孔,所述空腔通过管道依次与所述热交换器、气泵连通,所述热交换器包括筒体和设于筒体外壁的半导体制冷片,所述半导体制冷片、气泵分别与控制开关连通。进一步的,所述控制开关为正反开关。进一步的,所述底座为圆柱形,所述底座内的空腔为圆柱形,所述出气孔位于所述空腔的顶部,所述出气孔为环形。进一步的,所述出气孔包括第一出气孔和第二出气孔,所述第一出气孔朝向所述感应探头的下部,所述第二出气孔朝向所述感应探头的上部。进一步的,所述底座的底部设有螺杆。进一步的,所述筒体内设有交错分布的散热片。进一步的,所述筒体外套有外壳体,所述外壳体和所述筒体之间留有空隙,所述空隙连通进气孔和排气孔,所述进气孔和所述气泵连通,所述排气孔与外界连通。本技术的有益效果在于:(1)在感应探头的底部设有底座,通过底座空腔上的出气孔向上吹气体,吹出的气体经过加热后再吹出,能够调节感应探头的温度,避免感应探头的温度过低,提高感应探头检测的准确性能。(2)换热器采用外表面粘接有半导体制冷片的筒体进行换热,体积小,重量轻,方便控制箱体的搬运和安装。通过正反开关切换接入半导体制冷片的电流方向,能够实现控制升温和降温,温度过高时也能够降低感应探头的温度,降低感应探头的检测误差。(3)在筒体外套有外壳体,通过气泵吹气将筒体外部的空气带走,降温时提高降温效果,升温时提高升温效果。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的优选实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术一种非接触式验电装置结构示意图;图2为图1中A区域的放大图;图中,1感应探头,2屏蔽线,3控制电路,4控制箱体,5热交换器,6气泵,7底座,8空腔,9半导体制冷片,10控制开关,11第一出气孔,12第二出气孔,13螺杆,14外壳体,15进气孔,16排气孔,17散热片,18筒体。具体实施方式为了更好理解本技术
技术实现思路
,下面提供具体实施例,并结合附图对本技术做进一步的说明。实施例1参见图1至2,一种非接触式验电装置,包括感应探头1、屏蔽线2和控制电路3,所述探头通过屏蔽线2和所述控制电路3连接,所述控制电路3设于控制箱体4内,所述控制箱体4内设有气泵6和热交换器5,所述感应探头1底部设有底座7,所述底座7设有空腔8和与空腔8连通的出气孔,所述空腔8通过管道依次与所述热交换器5、气泵6连通,所述热交换器5包括筒体18和设于筒体18外壁的半导体制冷片9,所述半导体制冷片9、气泵6分别与控制开关10连通。将感应探头1安装在对应高压线支柱绝缘子的底部。感应探头1将检测到的信号通过屏蔽线2传输至控制电路3,控制电路3和显示器或者声光报警装置连接,将检测到的电压结果通过显示的方式或者声光警示的方式发出。当环境温度过低时,工作人员通过控制开关10控制半导体制冷片9和气泵6工作,半导体制冷片9工作,对筒体18的外壁进行加热,同时气泵6工作,将流经过的气体加热,热空气吹向感应探头1,提高感应探头1的温度,提高感应探头1检测的准确度。半导体制冷片9和气泵6远离感应探头1,避免对感应探头1产生干扰。底座7设于感应探头1的底部,避免遮挡感应探头1,避免造成干扰。通过气体对感应探头1进行温度调节,还能将感应探头1上的灰尘进行清除,提高感应探头1检测准确度,提高感应探头1的使用寿命。具体的,所述控制开关10为正反开关。半导体制冷片9是一个热传递的工具。当一块N型半导体材料和一块P型半导体材料联结成的热电偶对中有电流通过时,两端之间就会产生热量转移,热量就会从一端转移到另一端,从而产生温差形成冷热端。在这个电路中接通直流电流后,就能产生能量的转移,电流由N型元件流向P型元件的接头吸收热量,成为冷端;由P型元件流向N型元件的接头释放热量,成为热端。通过正反开关改变流经半导体制冷片9的电流方向,能够对筒体18进行升温,也能够对筒体18进行降温。温度过低时也能够升高感应探头1的温度,温度过高时也能够降低感应探头1的温度,降低感应探头1的检测误差。实施例2参见图1至2,本实施例与实施例1区别在于,所述底座7为圆柱形,所述底座7内的空腔8为圆柱形,所述出气孔位于所述空腔8的顶部,所述出气孔为环形。空气从上端吹出,吹出的空气与感应探头1接触进行热交换,保持感应探头1的温度处于合适的范围内。出气孔为圆环形,能够从四周与感应探头1接触,提高热交换效果。具体的,所述出气孔包括第一出气孔11和第二出气孔12,所述第一出气孔11朝向所述感应探头1的下部,所述第二出气孔12朝向所述感应探头1的上部。吹出来的气体分别与感应探头1的上部或者下部接触,使感应探头1的热交换更均匀。具体的,所述底座7的底部设有螺杆13。通过螺杆13将感应探头1安装在对应高压线支柱绝缘子的底部,方便用螺母固定。具体的,所述筒体18外套有外壳体14,所述外壳体14和所述筒体18之间留有空隙,所述空隙连通进气孔15和排气孔16,所述进气孔15和所述气泵6连通,所述排气孔16与外界连通。气泵6工作时候,吹出的气体通过分为两路,一部分从筒体18内部吹向底座7,最后从出气孔吹向感应探头1;另一部分进入筒体18与外壳体14之间的空隙,最后从排气孔16排出。在降温时,半导体制冷片9与筒体18外表面接触的一端为冷端,进入筒体18与外壳体14之间空隙的空气带走半导体制冷片9的热端的热量,提高降温效果。在升温时,半导体制冷片9与筒体18外表面接触的一端为热端,进入筒体18与外壳体14之间空隙的空气为半导体制冷片9的冷端的提供热量,提高升温效果。具体的,所述筒体18内设有交错分布的散热片17。提高换热效果。以上所述仅为本技术的较佳实施例而已,并不用以限制本技术,凡在本技术的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种非接触式验电装置,包括感应探头、屏蔽线和控制电路,所述探头通过屏蔽线和所述控制电路连接,其特征在于,所述控制电路设于控制箱体内,所述控制箱体内设有气泵和热交换器,所述感应探头底部设有底座,所述底座设有空腔和与空腔连通的出气孔,所述空腔通过管道依次与所述热交换器、气泵连通,所述热交换器包括筒体和设于筒体外壁的半导体制冷片,所述半导体制冷片、气泵分别与控制开关连通。

【技术特征摘要】
1.一种非接触式验电装置,包括感应探头、屏蔽线和控制电路,所述探头通过屏蔽线和所述控制电路连接,其特征在于,所述控制电路设于控制箱体内,所述控制箱体内设有气泵和热交换器,所述感应探头底部设有底座,所述底座设有空腔和与空腔连通的出气孔,所述空腔通过管道依次与所述热交换器、气泵连通,所述热交换器包括筒体和设于筒体外壁的半导体制冷片,所述半导体制冷片、气泵分别与控制开关连通。2.根据权利要求1所述的一种非接触式验电装置,其特征在于,所述控制开关为正反开关。3.根据权利要求1所述的一种非接触式验电装置,其特征在于,所述底座为圆柱形,所述底座内的空腔为圆柱形,所述出气孔位...

【专利技术属性】
技术研发人员:庞恒谢建鲁洪云海黄培林
申请(专利权)人:海南电网有限责任公司临高供电局
类型:新型
国别省市:海南,46

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