不透明材料高温多区域光谱发射率测量系统技术方案

本发明专利技术公开一种不透明材料高温多区域光谱发射率测量系统，包括傅里叶红外光谱仪(1)、标准黑体辐射源(2)、数字式PID控制器(3)、转换光路(4)、数据采集器(8)、电脑终端(9、10)；所述标准黑体辐射源(2)的控制端与数字式PID控制器(3)相连，所述标准黑体辐射源(2)与被测不透明材料分别位于转换光路(4)的两侧，傅里叶红外光谱仪(1)通过转换光路(4)与被测不透明材料或标准黑体辐射源(2)通过光信号相连，所述被测不透明材料置于一高度和水平位置均可调的加热台(6)上。本发明专利技术的光谱发射率测量系统，能准确测量高温条件下大表面尺寸不透明材料样品不同位置的光谱发射率，结构简单，测量精度高。

【技术实现步骤摘要】
不透明材料高温多区域光谱发射率测量系统
本专利技术属于不透明材料热物性测量设备
，特别是一种结构简单、测量精度高的不透明材料高温多区域光谱发射率测量系统。
技术介绍
实际物体光谱发射率的定义是热辐射体的光谱辐射强度与处于相同温度的黑体的光谱辐射强度之比。材料表面的光谱发射率是表征材料表面辐射本领的物理量，是一项极其重要的热物性参数。不透明材料在日常中较为常见，如石墨及一些金属材料，研究其表面在不同温度条件下的光谱发射率，为其在实际应用中的热辐射耗散、表面结构的研究、复合材料的组成等方面提供参考。目前有很多方法测量发射率，如量热法、反射法、能量法等。在测量材料光谱发射率的方法中，姜广明等人(姜广明，郭晶，马海旭，等.《使用便携式辐射率仪测定接近室温的材料的发射率的标准试验方法》的介绍[J].工程质量,2015,33(10):83-88.)通过差热电堆辐射率测量仪测定了接近室温材料的半球光谱发射率，通过测量值与参比标准板比较从而得出数值，且测温头的测量面积只有0.25mm，测温精确度高；张荣实等人(张荣实,甘硕文,廉伟艳,等.红外窗口材料高温辐射率测量[C]，中国光学学会2010年光学大会.2010.)利用能量辐射比值法运用红外辐射计、加热炉、平行光管等系统测量了高温条件半透明材料在不同温度下的发射率。而在运用傅里叶红外光谱仪的试验研究中，王海燕等人(王海燕,吴坚业,朱国荣.红外发射材料光谱发射率的测量法[J].红外技术,2003,25(6):61-63.)利用傅里叶红外光谱仪以及微型球腔热管炉测量了200℃以下材料的光谱发射率，并得出若不对仪器背景函数与响应函数进行确定，则随温度变化测量误差增大；舒银银(舒银银.半透明固体材料高温光谱辐射特性测量方法研究[D].南京理工大学,2015.)利用傅里叶红外光谱仪的右侧光源入口，通过设计一种板式加热器，运用双基底法，测量了半透明固体材料在高温下的光谱发射率，得到了材料在高温下的吸收，散射系数。张术坤等人(张术坤,张岚,蔡静.材料红外光谱发射率特性研究[J].计测技术,2016(s1):50-52.)通过在傅里叶红外光谱仪右侧设置转换光路与样品加热炉，利用能量法测量了不同温度下高温合金钢、导热硅胶片等材料的光谱发射率。在以前试验研究中，利用了傅里叶红外光谱仪的积分球附件，测量室温下的不透明材料表面法向光谱反射率与法向光谱透射率，依据基尔霍夫定律，得到室温下不透明材料表面的法向光谱发射率；同时，应用傅里叶红外光谱仪中的发射率测量附件，使用陶瓷加热体对不透明材料进行加热，从而得到其表面在不同温度时的辐射强度，并通过能量法计算得到光谱发射率。对于可通电直接加热的大尺寸导电材料样品，在同一加热条件时，由于不同的材料属性，样品表面会形成不同的温度区域。由于现有装置在测量时样品无法移动，不能得到在同一加热条件下精确探测不同区域的光谱发射率。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种不透明材料高温多区域光谱发射率测量系统，能准确测量高温条件下大表面尺寸不透明材料样品不同位置的光谱发射率，结构简单，测量精度高。实现本专利技术目的的技术解决方案为：一种不透明材料高温多区域光谱发射率测量系统，包括傅里叶红外光谱仪1、标准黑体辐射源2、数字式PID控制器3、转换光路4、数据采集器8、第一电脑终端9、第二电脑终端10；所述傅里叶红外光谱仪1的输出端与第二电脑终端10相连，所述标准黑体辐射源2的控制端与数字式PID控制器3相连，所述标准黑体辐射源2位于转换光路4的一侧，被测不透明材料位于转换光路4的另一侧，傅里叶红外光谱仪1通过转换光路4与被测不透明材料或标准黑体辐射源2通过光信号相连，所述被测不透明材料置于一高度和水平位置均可调的加热台6上；所述加热台6与一直流稳压电源5电连接，所述数据采集器8的输入端通过热电偶组11与加热台6信号相连，其输出端与第一电脑终端9信号相连。优选地，所述加热台6包括载物夹紧部601、测量样品部602、紧固螺栓603、支撑螺杆604、基座605、滑块606和导轨7，所述导轨台7固定于一高度可调的光学平台16上，所述滑块606与导轨7配合，可沿导轨7作水平移动，所述基座605与滑块606可拆式固定连接，所述支撑螺杆604下端与基座605固定连接，其上部与载物夹紧部601螺纹连接，使载物夹紧部601可沿支撑螺杆604上下移动，所述载物夹紧部601通过紧固螺栓603夹持测量样品部602。本专利技术与现有技术相比，其显著优点为：1、能准确测量高温条件下大表面尺寸不透明材料样品不同位置的光谱发射率：通过载物夹紧部601将测量样品与热电偶组11压紧，减小测温点处空气热阻，使测温点与样品表面贴合，增加测量准确性；测量时的热电偶为极细热电偶，且与样品表面贴合紧密。载物夹紧部601后端“L”型支撑板上下端部呈肋片状对称设计，样品在被加热时表面温度均匀，不会由外部构造问题而导致样品散热不均，提高了准确性。在测量过程中，先通过对测量位置预调节，准确标记测量区域中心的位置，再通过改变支撑部高度，使得测量时不因位置偏差造成测量结果不准确。2、结构简单：加热测量部分由载物夹紧部601，紧固螺栓602、支撑螺杆603、基座603、滑块606、导轨7以及导轨左右两端支撑部，与系统中其他仪器相连接，方便拆卸与安装。3、测量精度高：测量系统先进，信噪比高，试验过程将傅里叶红外光谱仪抽真空，去除水汽影响，测量结果精度高。4、测量范围广：可以在载物夹紧部601中加热不同厚度的导电与不导电样品。如可采用陶瓷加热板对不导电不透明材料间接加热；也可将在导电材料两端布电极，进行焦耳加热。同时，载物夹紧部601大小不固定，可根据样品大小进行同种样式载物夹紧部的加工。本专利技术解决了大表面尺寸的不透明样品在高温下不同区域光谱发射率测量的问题。其中加热台对称设计，增加了加热时样品表面温度的均匀性，使样品散热均匀，且便于对不同对称位置的测量结果进行比较；整体结构设计简单、测量方法简单且测量精度高，为以后不同尺寸样品高温光谱发射率的测量提供了新的思路与新的方法。下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步的详细描述。附图说明图1是本专利技术不透明材料高温多区域光谱发射率测量系统的结构示意图。图2是图1中样品加热装置正视图。图3是图1中样品加热装置左视图。图4是利用本专利技术系统测得的25μm厚石墨烯薄膜在不同加热温度下的光谱发射率。具体实施方式如图1所示，本专利技术不透明材料高温多区域光谱发射率测量系统，包括傅里叶红外光谱仪1、标准黑体辐射源2、数字式PID控制器3、转换光路4、数据采集器8、第一电脑终端9、第二电脑终端10；所述傅里叶红外光谱仪1的输出端与第二电脑终端10相连，所述标准黑体辐射源2的控制端与数字式PID控制器3相连，所述标准黑体辐射源2位于转换光路4的一侧，被测不透明材料位于转换光路4的另一侧，傅里叶红外光谱仪1通过转换光路4与被测不透明材料或标准黑体辐射源2通过光信号相连，所述被测不透明材料置于一高度和水平位置均可调的加热台6上。所述加热台6与一直流稳压电源5电连接，所述数据采集器8的输入端通过热电偶组11与加热台6信号相连，其输出端与第一电脑终端9信号相连。优选地，如图2所示，所述加热台6包括载物夹紧部601本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种不透明材料高温多区域光谱发射率测量系统，其特征在于：包括傅里叶红外光谱仪(1)、标准黑体辐射源(2)、数字式PID控制器(3)、转换光路(4)、数据采集器(8)、第一电脑终端(9)、第二电脑终端(10)；所述傅里叶红外光谱仪(1)的输出端与第二电脑终端(10)相连，所述标准黑体辐射源(2)的控制端与数字式PID控制器(3)相连，所述标准黑体辐射源(2)位于转换光路(4)的一侧，被测不透明材料位于转换光路(4)的另一侧，傅里叶红外光谱仪(1)通过转换光路(4)与被测不透明材料或标准黑体辐射源(2)通过光信号相连，所述被测不透明材料置于一高度和水平位置均可调的加热台(6)上；所述加热台(6)与一直流稳压电源(5)电连接，所述数据采集器(8)的输入端通过热电偶组(11)与加热台(6)信号相连，其输出端与第一电脑终端(9)信号相连。

【技术特征摘要】
1.一种不透明材料高温多区域光谱发射率测量系统，其特征在于：包括傅里叶红外光谱仪(1)、标准黑体辐射源(2)、数字式PID控制器(3)、转换光路(4)、数据采集器(8)、第一电脑终端(9)、第二电脑终端(10)；所述傅里叶红外光谱仪(1)的输出端与第二电脑终端(10)相连，所述标准黑体辐射源(2)的控制端与数字式PID控制器(3)相连，所述标准黑体辐射源(2)位于转换光路(4)的一侧，被测不透明材料位于转换光路(4)的另一侧，傅里叶红外光谱仪(1)通过转换光路(4)与被测不透明材料或标准黑体辐射源(2)通过光信号相连，所述被测不透明材料置于一高度和水平位置均可调的加热台(6)上；所述加热台(6)与一直流稳压电源(5)电连接，所述数据采集器(8)的输入端通过热电偶组(11)与加热台(6)信号相连，其输出端与第一电脑终端(9)信号相连。2.根据权利要求1所述的光谱发射率测量系统，其特征在于：所述加热台(6)包括载物夹紧部(601)、测量样品部(602)、紧固螺栓(603)、支撑螺杆(604)、基座(605)、滑块(606)和导轨(7)，所述导轨台(7)固定于一高度可调的支撑平台(16)上，所述滑块(606)与导轨(7)配合，可沿导轨(7)作水平移动，所述基座(605)与滑块(606)可拆式固定连接，所述支撑螺杆(604)下端与基座(605)固定连接，其上部与载物夹紧部(601)螺纹连接，使载物夹紧部(601)可沿支撑螺杆(604)上下移动，所述载物夹紧部(601)通过紧固螺栓(603)夹持测量样品部(602)。3.根据权利要求1所述的光谱发射率测量系统，其特征在于：所述转换光路(4)包括90°第一离轴抛物面镜(12)、可旋转90°第二离轴抛物面镜(14)和长方形平面镜(13)，所述长方形平面镜(13...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭洪，冀晨曦，
申请(专利权)人：南京理工大学，
类型：发明
国别省市：江苏,32