The sample observation device (1) has: an irradiation optical system (3), which irradiates the surface light (L2) on the sample (S); a scanning section (4), which scans the sample (S) relative to the irradiation surface (R) of the surface light (L2); an imaging optical system (5), which has an observation axis (P2) relative to the inclination of the irradiation surface (R), which will generate the observation light (L3) image through the irradiation of the surface light (L2); and an image acquisition section (6), which has many. A portion of image data corresponding to a portion of the image of the observation light (L3) imaged by the imaging optical system (5) is acquired, and an image generation unit (8) generates the observation image data of a sample (S) based on the image data of a plurality of parts generated by the image acquisition unit (6).
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】试样观察装置及试样观察方法
本专利技术涉及一种试样观察装置及试样观察方法。
技术介绍
已知有SPIM(SelectivePlaneIlluminationMicroscopy(选择性平面照明显微镜))作为观察细胞等具有三维立体结构的试样的内部的方法之一。例如,专利文献1中记载的断层像观察装置公开了SPIM的基本的原理,将面状光照射于试样,使在试样的内部产生的荧光或散射光在成像面成像并取得试样内部的观察图像数据。作为使用了面状光的其他的试样观察装置,例如可举出专利文献2中记载的SPIM显微镜。在该现有的SPIM显微镜中,对试样的配置面具有一定的倾斜角地照射面状光,通过具有相对于面状光的照射面正交的观察轴的观察光学系统对来自试样的观察光进行摄像。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开昭62-180241号公报专利文献2:日本特开2014-202967号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题在上述的专利文献2中记载的试样观察装置中,通过对观察光学系统的聚焦面的整个面照射面状光,可以通过1次的摄像取得观察轴方向的断层面的图像。因此,为了取得试样的三维信息,需要沿观察轴方向扫描试样,取得观察轴方向的多个断层面的图像。在这种现有的试样观察装置中,直到取得全部的断层面的图像为止,需要反复取得图像的断层面的选择(试样的扫描及停止)和图像取得。另外,在存在有观察对象的区域比摄像区域宽的情况下,除了取得观察轴方向的截面图像的动作以外,还需要向与观察轴方向不同的方向移动平台来选择摄像视野的动作等。因此,直到取得观察图像数据为止需要时间成为技术问题。实施方式的目的在于,提供一种 ...
【技术保护点】
1.一种试样观察装置,其中,具备:照射光学系统,其对试样照射面状光;扫描部,相对于所述面状光的照射面扫描所述试样;成像光学系统,其具有相对于所述照射面倾斜的观察轴,将通过所述面状光的照射而在所述试样产生的观察光成像;图像取得部,其多次取得与由所述成像光学系统成像的所述观察光的光像的一部分对应的部分图像数据;以及图像生成部,其基于由所述图像取得部生成的多个部分图像数据而生成所述试样的观察图像数据。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.10.11 JP 2016-2000751.一种试样观察装置,其中,具备:照射光学系统,其对试样照射面状光;扫描部,相对于所述面状光的照射面扫描所述试样;成像光学系统,其具有相对于所述照射面倾斜的观察轴,将通过所述面状光的照射而在所述试样产生的观察光成像;图像取得部,其多次取得与由所述成像光学系统成像的所述观察光的光像的一部分对应的部分图像数据;以及图像生成部,其基于由所述图像取得部生成的多个部分图像数据而生成所述试样的观察图像数据。2.根据权利要求1所述的试样观察装置,其中,所述试样由具有所述面状光的输入面的试样容器保持,所述照射光学系统的所述面状光的光轴以相对于所述试样容器的所述输入面正交的方式配置。3.根据权利要求1或2所述的试样观察装置,其中,所述扫描部沿着相对于所述照射光学系统的所述面状光的光轴正交的方向扫描所述试样。4.根据权利要求1~3中任一项所述的试样观察装置,其中,所述成像光学系统的所述观察轴相对于所述面状光的照射面的倾斜角度成为10°~80°。5.根据权利要求1~4中任一项所述的试样观察装置,其中,所述成像光学系统的所述观察轴相对于所述面状光的照射面的倾斜角度成为20°~70°。6.根据权利要求1~5中任一项所述的试样观察装置,其中,所述成像光学系统的所述观察轴相对于所述面状光的照射面的倾斜角度成为30°...
【专利技术属性】
技术研发人员:山本谕,松原正典,杉山范和,
申请(专利权)人:浜松光子学株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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