一种测试导线排版结构、显示面板和显示装置制造方法及图纸

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试导线排版结构、显示面板和显示装置，用以缓解现有技术中激光切割导线导致相邻导线熔断搭接形成短路的问题。该测试导线排版结构包括至少一层布线层、排布在至少一层布线层中的若干条内部连接导线，以及与若干条内部连接导线一一对应导通的若干条外延测试导线，若干条内部连接导线相互绝缘间隔设置，其中至少一条内部连接导线与其他内部连接导线位于不同层，若干条外延测试导线的固定端位于同一层。本申请方案中的内部连接导线位于不同平面上能增加相邻导线之间的距离。由于相邻导线间距较大，所以切割时相邻导线熔化变形并搭接短路的可能性较小，能提高激光切割后显示面板的良率。

A Test Wire Layout Structure, Display Panel and Display Device

The application relates to the display technology field, in particular to a test wire layout structure, a display panel and a display device, which can alleviate the short circuit problem caused by laser cutting a wire and fusing and overlapping adjacent wires in the prior art. The test wire layout structure includes at least one layer of wiring layer, several internal connecting wires arranged in at least one layer of wiring layer, and several epitaxy test wires corresponding to several internal connecting wires. Several internal connecting wires are insulated from each other, and at least one internal connecting wire is located in different layers with other internal connecting wires. The fixed end of the test wire for dry bar epitaxy is located in the same layer. The internal connecting wires in this application scheme are located on different planes, which can increase the distance between adjacent wires. Because of the large distance between adjacent wires, the possibility of melting deformation and overlapping short circuit of adjacent wires during cutting is small, which can improve the yield of display panel after laser cutting.

【技术实现步骤摘要】
一种测试导线排版结构、显示面板和显示装置
本申请涉及显示
，尤其涉及一种测试导线排版结构、显示面板和显示装置。
技术介绍
在现有的生产显示面板的过程中，往往需要对生产出的显示面板进行测试。电流型ArrayTest(AT)是一种现有的外接型测试电路，在测试过程中，该AT电路往往设置在显示区的一侧，AT电路与显示区通过切割区的一排金属线连通，测试完毕后，往往需要利用激光对切割区的金属线进行切割，将AT电路切割下来，并对连通于显示区的金属线被切割的一端涂封装胶。在激光切割的过程中，高温使金属线熔断，现有技术中相邻金属线间距较小，熔断的金属线末端往往会出现相互搭接的情况，造成导线区中相邻金属线短路。随后在显示面板通电运行时，短路的金属线有可能烧毁显示器件或芯片，造成显示不良甚至显示面板报废的问题。
技术实现思路
本申请实施例提供一种测试导线排版结构、显示面板和显示装置，用以缓解现有技术中激光切割导线导致相邻导线熔断搭接形成短路的问题。本申请实施例采用下述技术方案：一种测试导线排版结构，包括至少一层布线层、排布在所述至少一层布线层中的若干条内部连接导线，以及与所述若干条内部连接导线一一对应导通的若干条外延测试导线，所述若干条内部连接导线相互绝缘间隔设置，其中至少一条所述内部连接导线与其他所述内部连接导线位于不同层，所述若干条外延测试导线的固定端位于同一层。较优地，当所述布线层的数量为多层时，所述若干条外延测试导线的所述固定端夹设在相邻两层布线层之间，且具有导通关系的所述内部连接导线与所述外延测试导线在所述布线层的正投影存在交叠。较优地，所述至少一层布线层至少包括层叠设置的第一布线层、第二布线层，所述若干条内部连接导线分布在所述第一布线层和所述第二布线层中；其中，位于同一布线层中的所述内部连接导线等间距分布。较优地，位于所述第一布线层中的所述内部连接导线与位于所述第二布线层中的所述内部连接导线交替排布。较优地，在相邻两层布线层之间设置有绝缘层。较优地，位于所述第一布线层中的所述内部连接导线的间距大于或等于与所述第二布线层中的所述内部连接导线的线宽。较优地，所述内部连接线的线宽大于与所述内部连接线具有导通关系的所述外延测试导线的线宽。较优地，所述内部连接导线包括远离所述外延测试导线的第一线端和靠近所述外延测试导线的第二线端，所述第一线端的阻抗高于所述第二线端的阻抗。较优地，所述第一线端材质为P型掺杂多晶硅，第二线端的材质为金属。一种显示面板，包括上述任一种所述的测试导线排版结构。本申请实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果：本申请提供的测试导线排版结构包括至少一层布线层、排布在至少一层布线层中的若干条内部连接导线，以及与若干条内部连接导线一一对应导通的若干条外延测试导线，若干条内部连接导线相互绝缘间隔设置，其中至少一条内部连接导线与其他内部连接导线位于不同层，若干条外延测试导线的固定端位于同一层。与现有技术相比，本申请通过将内部连接导线设置在至少一层布线层中，且内部连接导线之间相互绝缘间隔设置，能增大内部连接导线之间的间距，在激光切割熔断导线时，由于内部测试导线间距较大，所以相邻内部连接导线熔断变形并搭接短路的可能性较小，能减少由于相邻内部连接导线熔断搭接导致短路的情况，进而提高激光切割后显示面板的良率。附图说明此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：图1为本申请提供的一种测试导线排版结构示意图之一；图2为本申请提供的一种测试导线排版结构示意图之二；图3为现有技术中显示面板结构示意图；图4为现有技术中激光切割面结构示意图；图5为本申请提供的一种测试导线排版结构示意图之三；图6为本申请提供的一种测试导线排版结构示意图之四；图7为本申请提供的一种测试导线排版结构示意图之五；图8为本申请提供的一种测试导线排版结构示意图之六；图9为本申请提供的一种测试导线排版结构示意图之七；图10为本申请提供的一种测试导线排版结构示意图之八；图11为本申请提供的一种测试导线排版结构示意图之九；图12为本申请提供的一种测试导线排版结构示意图之十；图13为本申请提供的一种测试导线排版结构示意图之十一；图14为本申请提供的一种测试导线排版结构示意图之十二；图15为本申请提供的一种测试导线排版结构示意图之十三；图16为本申请提供的一种测试导线排版结构示意图之十四。具体实施方式为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。以下结合附图，详细说明本申请各实施例提供的技术方案。本申请实施例提供一种测试导线排版结构，测试导线排版结构所在的区域可以是矩形，激光线切割方向垂直于导线延伸方向，经过切割后，切割区熔断成两个部分，一部分切割区与显示区连通，另一部分切割区与AT电路连通。本申请提供的测试导线排版结构，包括至少一层布线层、排布在所述至少一层布线层中的若干条内部连接导线，以及与所述若干条内部连接导线一一对应导通的若干条外延测试导线，所述若干条内部连接导线相互绝缘间隔设置，其中至少一条所述内部连接导线与其他所述内部连接导线位于不同层，所述若干条外延测试导线的固定端位于同一层。如图1所示，图中示出的测试导线排版结构包括4层布线层11，可选地，相邻布线层11之间设置有绝缘层12。其中，每层布线层11中包括至少一条内部连接导线13。为了便于描述，以下将内部连接导线中的第二线端所在区域称为切割区。可选的，相邻布线层11中的内部连接导线13交错设置，将图1中示出的内部连接导线13投影在图1中虚线所示的平面上，可以得到如图2所示的结构图，多条内部连接导线的投影13a不重叠。设置在相邻布线层11之间的绝缘层12可以采用绝缘胶、绝缘漆等材料。在实际生产的显示面板中，在同一布线层中相邻内部连接导线的缝隙处也可以设置有绝缘胶，该绝缘胶可以与绝缘层的材质相同。在测试导线排版结构中，不同布线层中的内部连接导线的材质可以相同也可以不相同，内部连接导线可以采用纯金属材质，也可以采用合金、半导体等具有一定导电性能的材料。本申请中的布线层和绝缘层可以设置在基板上，基板可以具有一定柔性，另外，也可以在生产过程中将基板剥离，在最外侧的布线层表面涂覆封装胶，使布线层整体与空气隔离，避免空气中的水和氧腐蚀线路或器件。封装胶可以选用以下中的一种或多种：环氧类封装胶、有机硅类封装胶、聚氨酯封装胶、紫外线光固化封装胶等。在现有技术中，测试导线排版结构中的内部连接导线位于同一布线层，相邻的内部连接导线如图3所示。图3中示出的相邻的两条内部连接导线的间距为x，在AT测试之后，通过激光对内部连接导线所在区域进行切割，内部连接导线的切割面会出现不同程度的熔化变形，有可能出现如图4所示的情况。在高温下，相邻的两条内部连接导线变为不规则的形态，由于两条导线间距较小，所以往往会出现虚线框中所示的熔化搭接的情况。当显示面板中包括图4所示本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试导线排版结构，其特征在于，包括至少一层布线层、排布在所述至少一层布线层中的若干条内部连接导线，以及与所述若干条内部连接导线一一对应导通的若干条外延测试导线，所述若干条内部连接导线相互绝缘间隔设置，其中至少一条所述内部连接导线与其他所述内部连接导线位于不同层，所述若干条外延测试导线的固定端位于同一层。

【技术特征摘要】
1.一种测试导线排版结构，其特征在于，包括至少一层布线层、排布在所述至少一层布线层中的若干条内部连接导线，以及与所述若干条内部连接导线一一对应导通的若干条外延测试导线，所述若干条内部连接导线相互绝缘间隔设置，其中至少一条所述内部连接导线与其他所述内部连接导线位于不同层，所述若干条外延测试导线的固定端位于同一层。2.如权利要求1所述的测试导线排版结构，其特征在于，当所述布线层的数量为多层时，所述若干条外延测试导线的所述固定端夹设在相邻两层布线层之间，且具有导通关系的所述内部连接导线与所述外延测试导线在所述布线层的正投影存在交叠。3.如权利要求1所述的测试导线排版结构，其特征在于，所述至少一层布线层至少包括层叠设置的第一布线层、第二布线层，所述若干条内部连接导线分布在所述第一布线层和所述第二布线层中；其中，位于同一布线层中的所述内部连接导线等间距分布。4.如权利要求3所述的测试导线排版结构，其特征在于，位于...

【专利技术属性】
技术研发人员：常苗，李威龙，胡思明，韩珍珍，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32