The invention discloses a nondestructive testing probe, which comprises a probe body, a joint, a piezoelectric wafer and a line focusing lens. Its characteristics are that the probe body is a cuboid wedge, and the lower end face of the probe body is a circular arc with a radian of In the positioning chuck, the material is also used for sliding relative to the surface of the object to be detected, and the tearing part and the protective layer are arranged as a forming structure.
【技术实现步骤摘要】
一种无损检测探头
本专利技术属于一种无损检测探头。
技术介绍
目前随着橇装增压集成装置设备在油田上不断推广,在进行工艺管线的安装的过程中,要求对焊缝进行X射线检测,但部分焊缝因结构的原因,无法进行射线检测,为了确保质量,需要进行超声波检测。超声波检测对大管径厚壁管和平板探伤无多大区别,相对比较容易。由于集成装置管线规格为φ89×5㎜,存在管径小、管壁薄、曲率较大等问题,进行超声波探伤有很大的困难,因受到接触面的几何散射的影响,探头边缘声束散射的影响,几何反射波的影响,造成杂波太多和缺陷波就难以区别,缺陷难以定位,易造成缺陷漏检,无法完成超声检测的目的。为解决以上问题,通过提高探头的频率和适当增大晶片尺寸,修磨探头接触面,优化选用探头角度等办法,研制出专利技术的集成装置管线超声检测专用探头,解决了存在的难点,确保了集成装置的质量。
技术实现思路
本专利技术的目的是:提供一种无损检测探头,实现对集成装置小口径管线焊接工艺的超声波检测。本专利技术的技术方案是:一种无损检测探头,它包括探头主体、接头、压电晶片和线聚焦透镜,其特征是:探头主体是呈长方体结构的楔块,探头主体下端面是弧度为φ70-φ89mm的圆弧面,探头主体后端面与接头固定连接;探头主体内部固定有压电晶片和线聚焦透镜,压电晶片与探头主体前端面相距4mm至5mm,压电晶片与水平方向的折射角度为68°至72°;线聚焦透镜与压电晶片声匹配耦合。所述的压电晶片与水平方向折射角度最佳值为70°,k=2.75。所述的压电晶片尺寸为6×6mm,压电晶片距探头主体前端面5mm。所述的探头频率选用5MHZ。本专利技术的特点是 ...
【技术保护点】
1.一种无损检测探头,它包括探头主体、接头、压电晶片和线聚焦透镜,其特征在于,探头主体是呈长方体结构的楔块,探头主体下端面是弧度为φ70‑φ89mm的圆弧面,所述R角探头模块还包括定位夹头,所述用于超声波检测的探头支出长度可调节地安装在所述定位夹头内,所述外料还用于相对待检测对象表面滑动。
【技术特征摘要】
1.一种无损检测探头,它包括探头主体、接头、压电晶片和线聚焦透镜,其特征在于,探头主体是呈长方体结构的楔块,探头主体下端面是弧度为φ70-φ89mm的圆弧面,所述R角探头模块还包括定位夹头,所述用于超声波检测的探头支出长度可调节地安装在所述定位夹头内,所述外料还用于相对待检测对象表面滑动。2.根据权利要求1所述的一种无损检测探头,其特征在于...
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