The invention discloses a silicon surface coating and its preparation process and application. The process includes: (1) sensitizing the single crystal silicon sample in SnCl2/HCl solution; (2) activating the sensitized sample in PdCl2/HCl/HF solution; (3) immersing the activated sample in electroless nickel plating solution; (4) heat treating the nickel plated sample in H2/Ar environment to form nickel-silicon compound; (5) adhering the sample to copper. On the sheet, the copper sheet on the electroplated negative electrode joint sample is electroplated in Co-Ru solution, and the thickness of Co-Ru alloy coating is at least 0.090 um; (6) The copper sheet on the electroplated positive electrode joint sample is electroplated in the electroplating copper solution, and the sample is annealed in H2/Ar environment after the electroplating, and the annealing treatment is completed according to the control of the thickness of Co-Ru alloy coating in step (5). Layer preparation. The coating of the invention can replace the conductive adhesive in the solar cell and reduce the cost.
【技术实现步骤摘要】
一种硅表面镀层及其制备工艺和用途
本专利技术涉及一种硅表面镀层,具体涉及一种硅表面镀层及其制备工艺和用途。
技术介绍
工业的发展带来全球气候的恶化,使人类意识到环保的重要,世界各国开始寻找替代石油能源的再生能源,诸如:风力发电、地热能、生物质、氢能及太阳能都是具有很大潜力的替代能源,而其中太阳能电池具有诸多优点,它是一种将太阳光转换成电能的装置,可说是半永久性的发电设备。目前所研发的硅基太阳能电池种类繁多,太阳能电池种类繁多,有非晶硅、单晶硅、多晶硅、CdTe和CuInxGa(1-x)Se2等半导体,或三五族、二六族的元素链结的材料等。其中,单晶硅的光电转换效率最高,为25.0%。目前,工业硅太阳能电池的正面发射极的导电胶的制作工艺通常为:(1)在硅发射极上丝网印刷银胶;(2)后期银胶上涂覆一层(~80纳米)SiNx:H抗反射涂层(ARC,Anti-ReflectionCoating);(3)在空气气氛中在带式炉中煅烧,最高温度低于银硅共晶温度835℃。在制作中,用于发射极触点的Ag胶含有2-5wt%的玻璃料,通常是铅-硼硅酸盐玻璃。为提高导电率,也有人研究利用Ag/Al胶来替代Ag胶。但是,导电Ag胶或导电Ag/Al胶作为电极材料,价格昂贵,约占太阳能电池成本的15%,且容易随着贵金属价格变化而波动。而且,传统工艺中适合用作导电胶的金属有限,限制了太阳能电池技术的进一步发展。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种硅表面镀层及其制备工艺和用途,该镀层及其制备工艺解决了现有太阳能电池中导电胶受到限制的问题,能够替代太阳能电池中导电胶,降低成本。为了达到上述目 ...
【技术保护点】
1.一种硅表面镀层的制备工艺,其特征在于,该工艺包含:(1)将单晶硅试样放入SnCl2/HCl溶液中进行敏化反应,使硅表面吸附锡离子;(2)将步骤(1)得到的敏化试样浸泡在PdCl2/HCl/HF溶液中进行活化反应,使试样表面形成Pd金属;(3)将步骤(2)处理得到的活化试样浸泡在无电镀镍溶液中进行镀镍;(4)将镀镍后试样在H2/Ar环境中热处理,形成镍硅化合物,若存在未反应的镍,则将其去除;(5)将试样粘在铜片上,电镀负极接试样上的铜片,放入钴钌溶液中,将钴钌合金电镀在试样上,钴钌合金镀层的厚度至少为0.090μm;其中,所述钴钌溶液包含:CoSO4、RuCl3、H3NSO3和H2SO4,该溶液在60℃下pH值为1.7;(6)将电镀正极接试样上的铜片,将试样放入电镀铜溶液中电镀,该电镀铜溶液的pH值为8.5,待电镀结束后将试样放入H2/Ar环境中在进行退火处理,退火处理根据步骤(5)中钴钌合金镀层的厚度控制,以防止铜与硅生成化合物,完成镀层制备。
【技术特征摘要】
1.一种硅表面镀层的制备工艺,其特征在于,该工艺包含:(1)将单晶硅试样放入SnCl2/HCl溶液中进行敏化反应,使硅表面吸附锡离子;(2)将步骤(1)得到的敏化试样浸泡在PdCl2/HCl/HF溶液中进行活化反应,使试样表面形成Pd金属;(3)将步骤(2)处理得到的活化试样浸泡在无电镀镍溶液中进行镀镍;(4)将镀镍后试样在H2/Ar环境中热处理,形成镍硅化合物,若存在未反应的镍,则将其去除;(5)将试样粘在铜片上,电镀负极接试样上的铜片,放入钴钌溶液中,将钴钌合金电镀在试样上,钴钌合金镀层的厚度至少为0.090μm;其中,所述钴钌溶液包含:CoSO4、RuCl3、H3NSO3和H2SO4,该溶液在60℃下pH值为1.7;(6)将电镀正极接试样上的铜片,将试样放入电镀铜溶液中电镀,该电镀铜溶液的pH值为8.5,待电镀结束后将试样放入H2/Ar环境中在进行退火处理,退火处理根据步骤(5)中钴钌合金镀层的厚度控制,以防止铜与硅生成化合物,完成镀层制备。2.根据权利要求1所述的硅表面镀层的制备工艺,其特征在于,当步骤(5)中钴钌合金镀层的厚度为0.090~0.186μm时,退火处理温度小于或等于500℃;当步骤(5)中钴钌合金镀层的厚度为0.187~0.224μm时,退火处理温度小于或等于600℃,当步骤(5)中钴钌合金镀层的厚度为0.225~0.250μm时,退火处理温度小于或等于700℃。3.根据权利要求1所述的硅表面镀层的制备工艺,其特征在于,在步骤(1)中,所述SnCl2/HCl溶液中SnCl2的质量和HCl的体积比为0.5~2g:1mL;在步骤(2)中,所述PdCl2/HCl/HF溶液中PdCl2的质量、HCl的体积...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘守法,豆素勤,赵金国,
申请(专利权)人:西京学院,
类型:发明
国别省市:陕西,61
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