一种屏体伽马调试方法及显示模组技术

本发明专利技术提供了一种屏体伽马调试方法及显示模组，解决了伽马调试时间过长，影响生产效率的问题。包括：步骤一，获得对应于第i个绑点的光学参数目标值的第一值组，并且对所述第i个绑点赋予对应于相邻绑点的光学参数目标值的第二值组，i≥2且为正整数，不同绑点的灰阶不同；步骤二，将所述第二值组调节为与所述第一值组相同等的第三值组；步骤三，将所述第三值组赋予所述第i个绑点，并作为所述第i个绑点的标准值。

【技术实现步骤摘要】
一种屏体伽马调试方法及显示模组
本专利技术涉及像是装置色彩调试
，具体涉及一种屏体伽马调试方法及显示模组。
技术介绍
有机发光二极管(OrganicLight-EmittingDiode,OLED)由于其自身工作耗电小，发光亮度高，对人体辐射小和寿命长等特点在显示和通信领域被广泛的应用。OLED模组在调试时，特别是在产线的伽马调试过程中，为了保证所有的灰阶满足所要求的伽马曲线，通常需要将所有的伽马绑点从默认值朝着目标值调试，而伽马绑点又特别多，这就导致单独调试完一片模组的时间通常需要约两分钟。而成本与生产效率是一个公司赖以生存的重要的因素，而如何降低成本以及提升生产效率在当今已经变得非常重要。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种屏体伽马调试方法及显示模组，解决了伽马调试时间过长，影响生产效率的问题。本专利技术一实施例提供的一种屏体伽马调试方法及显示模组包括：步骤一，获得对应于第i个绑点的光学参数目标值的第一值组，并且对所述第i个绑点赋予对应于相邻绑点的光学参数目标值的第二值组，i≥2且为正整数，不同绑点的灰阶不同；步骤二，将所述第二值组中每一个调节为与所述第一值组中的每一个都相同的第三值组；步骤三，将所述第三值组赋予所述第i个绑点，并作为所述第i个绑点的标准值。在一种实施方式中，第i个绑点的灰阶大于第i+1个绑点的灰阶。在一种实施方式中，绑点的个数小于灰阶数。在一种实施方式中，灰阶较小的绑点数大于灰阶较大的绑点数。在一种实施方式中，所述第一值组与所述第二值组不同。在一种实施方式中，在所述步骤一中，第1个绑点的灰阶大于第i个绑点的灰阶，且第1个绑点的光学参数目标值为给定值，第i个绑点的光学参数目标值为根据目标伽马曲线结合第1个或第i-1个绑点的光学参数目标值而得到的获得值。在一种实施方式中，在所述步骤一中，所述第i个绑点被预赋有对应于虚拟光学参数值的第四值组，对所述第i个绑点赋予对应于相邻绑点的光学参数目标值的第二值组的操作包括使用所述第二值组替代所述第四值组。在一种实施方式中，所述光学参数包括屏体的色坐标和亮度。在一种实施方式中，所述屏体的色坐标和亮度由所述屏体的n种颜色的子像素的发光组合呈现出来，n≥3且为正整数，所述第一值组、第二值组、第三值组和第四值组中的任一个包括分别对应于所述n种颜色的子像素的n个电压。一种显示模组，包括屏体和IC，所述IC被通过根据任一项所述的屏体伽马调试方法进行了调节。本专利技术实施例提供的一种屏体伽马调试方法及显示模组，对第i个绑点赋予对应于相邻绑点的光学参数目标值的第二值组，且通过获取对应于第i个绑点的光学参数目标值的第一值组，继而将第二值组调节成与第一值组中的每一个相等的第三值组，将第三值组赋予第i个绑点，并且作为第i个绑点的标准值。由于第i个绑点是在第二值组的基础上调试成第三值组，第二值组对应光学参数值相比较第i个绑点的虚拟光学参数值更接近第三值组对应的光学参数值，因此将第二值组调节成第三值组的时间更短，可以解决第i个绑点的调试时间，进而加快了整个屏体的伽马调试时间。附图说明图1所示为本专利技术第一实施例提供的一种伽马调试方法的流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。图1所示为本专利技术第一实施例提供的一种伽马调试方法的流程图。如图1所示，本申请中的屏体伽马调试方法包括：步骤1：获得对应于第i个绑点的光学参数目标值的第一值组，并且对第i个绑点赋予对应于相邻绑点的光学参数目标值的第二值组，i≥2且为正整数，不同绑点的灰阶不同。光学参数目标值为第i个绑点经伽马调试后的光学参数值，先获得对应该光学参数目标值的第一值组，该第一值组为电压值。与第i个绑点相邻的绑点的光学数目标值对应第二值组，第二值组为与第i个绑点相邻的绑点具有光学参数目标值时屏体IC中所对应的电压值，将第二值组赋予第i个绑点可以为将第二值组存储在屏体IC中，使第i个绑点具有第二值组对应的光学参数。本伽马调试需对多个绑点进行调试，第i个绑点为除去第一个绑点外的任一绑点，不同的绑点具有不同的灰阶。步骤2：将第二值组中的每一个调节与第一值组中的每一个都相等的第三值组。由于第i个绑点IC中存储的为第二值组，第i个绑点的光学参数目标值所对应的为第一值组，第三值组中的每一个与第一值组中的每一个相等，第三值组也为电压值，所以与第三值组对应的光学参数也为第i个绑点的光学参数目标值，因此将第二值组中的每一个调节为第三值组中的每一个，可使第i个绑点具有光学参数目标值。步骤3：将第三值组赋予第i个绑点，作为第i个绑点的标准值组。第三值组作为第i个绑点经伽马调试后的标准值存储到IC中，使第i个绑点发出具有光学参数目标值的光。完成第i个绑点的调试过程。本伽马调试方法通过对多个绑点进行调试，且每个绑点是在IC为第二值组的基础上，将其调节成第三值组并赋予IC，与对每个绑点进行直接调试相比，缩短了调试时间。本专利技术一实施例中，第i个绑点的灰阶大于第i+1个绑点的灰阶。所有绑点的灰阶可以从0-255之间设定，调试时可从灰阶高的绑点开始逐渐向灰阶低的绑点调试，例如第一绑点的灰阶可以为255，第二个绑点的灰阶可以为248，第三个绑点的灰阶可以为240等。按照一定的灰阶顺序设定绑点，可以将第i-1个绑点的第二值组先赋予第i个绑点，然后再对第i个绑点进行调试，相比对第i个绑点直接进行调试相比，缩短了调试时间，提高了效率。可以理解，可以按照绑点的灰阶由高到低的顺序进行调试，还可以按照绑点的灰阶由低到高的顺序进行调试，绑点的灰阶顺序可以根据实际的需求和用户需求进行调整，本专利技术对绑点的灰阶是由低到高还是由高到低，不作限定。还可以理解，第一个绑点的灰阶可以为255，第一个绑点的灰阶还可以为0，或第一个绑点的灰阶可以为其他数值，第一个绑点的灰阶的具体数值可根据实际的情况进行调整，本专利技术对第一个绑点的灰阶不作限定。本专利技术一实施例中，绑点的个数小于灰阶数。例如，灰阶可以为0-255，共计有256个灰阶，可以从256个灰阶内选取30个灰阶作为绑点进行调试。绑点的选取应在所有的灰阶范围内进行选取，例如灰阶范围为0-255，绑点灰阶的最小值应接近0，绑点灰阶的最大值应接近255，如果灰阶范围为0-255，绑点灰阶范围为100-200，就会出现灰阶在0-100和200-255之间内没有绑点，因此会导致伽马调试过后显示效果仍然不能达到预期的问题。将绑点的灰阶数尽可能的覆盖整个灰阶范围，能够提高伽马调试后的显示效果的均一性，设定绑点的个数小于灰阶数，防止绑点过多，用时过长的问题。可以理解，绑点可以为30个、40个或50个等，本专利技术对绑点的具体个数不作限定。本专利技术一实施例中，灰阶较小的绑点数大于灰阶较大的绑点数。例如：灰阶范围在0-255，在灰阶为0-100的范围内可设定20个绑点，在灰阶范围为100-200的范围内可设定15个绑点，200-255可设定3个绑点。由于灰阶较小的范围的调试难度大于灰阶较大范围内的调试难度，设置灰阶较小的绑点数大本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种屏体伽马调试方法，其特征在于，包括：步骤一，获得对应于第i个绑点的光学参数目标值的第一值组，并且对所述第i个绑点赋予对应于相邻绑点的光学参数目标值的第二值组，i≥2且为正整数，不同绑点的灰阶不同；步骤二，将所述第二值组中每一个调节为与所述第一值组中的每一个都相同的第三值组；步骤三，将所述第三值组赋予所述第i个绑点，并作为所述第i个绑点的标准值组。

【技术特征摘要】
1.一种屏体伽马调试方法，其特征在于，包括：步骤一，获得对应于第i个绑点的光学参数目标值的第一值组，并且对所述第i个绑点赋予对应于相邻绑点的光学参数目标值的第二值组，i≥2且为正整数，不同绑点的灰阶不同；步骤二，将所述第二值组中每一个调节为与所述第一值组中的每一个都相同的第三值组；步骤三，将所述第三值组赋予所述第i个绑点，并作为所述第i个绑点的标准值组。2.根据权利要求1所述的屏体伽马调试方法，其特征在于，第i个绑点的灰阶大于第i+1个绑点的灰阶。3.根据权利要求2所述的屏体伽马调试方法，其特征在于，绑点的个数小于灰阶数。4.根据权利要求3所述的屏体伽马调试方法，其特征在于，灰阶较小的绑点数大于灰阶较大的绑点数。5.根据权利要求1到4中任一项所述的屏体伽马调试方法，其特征在于，所述第一值组与所述第二值组不同。6.根据权利要求1到5中任一项所述的屏体伽马调试方法，其特征在于，在所述步骤一中，第1个绑点的灰阶大于第i个绑...

【专利技术属性】
技术研发人员：李勇，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32