The invention discloses a high-precision fast measurement algorithm for three-dimensional topography of short coherent light. Firstly, piezoelectric ceramics are driven to scan vertically in a certain scanning length according to the phase step of pi/2, and one interferogram is stored for each step; the calculation and processing of the interferogram are integrated into the process of storing the interferogram in the time-series vertical scanning to realize fast measurement; secondly, the time-series vertical scanning is realized. At the same time, the precise phase of each pixel in the spatial domain and the contrast of multiple interferograms are solved. The contrast of multiple interferograms is processed to obtain the vertical scanning coarse phase, and then the precise phase of phase shift scanning and the coarse phase of vertical scanning are fused to obtain the three-dimensional morphology measurement results. Finally, the bat wing error generated at the edge of step morphology in the sample to be measured is judged and eliminated by two-dimensional discrete difference algorithm, and high-precision three-dimensional morphology measurement results are obtained. The invention has the advantages of simple algorithm, fast speed, high accuracy and reliability, and strong anti-environmental noise ability.
【技术实现步骤摘要】
高精度短相干光三维形貌快速测量算法
本专利技术涉及精密光学测量工程
,更具体地,涉及一种高精度短相干光三维形貌快速测量算法。
技术介绍
随着加工工艺的逐步提高,精密元件的使用日益广泛,在航空航天、车载系统、成像照明等领域中有着不可替代的作用,通过测量元件的形貌特征可以定量地评估元件的质量,评价其在系统中的功能是否受到影响,对于元件的质量监测有着重要意义。短相干光干涉测量技术是一种适用性强、精度高、时效性优良的非接触式表面微观形貌光学测量技术,不仅可以在不损伤待测元件的基础上进行大范围测量,还可以得到直观的元件表面轮廓三维形貌。单色光干涉测量虽然可以实现高精度测量,但是在测量被测表面存在高度跃变超过四分之一波长的情况下会出现相位模糊问题导致不能准确的复原出待测形貌,而短相干光干涉测量技术由于可以精确判断待测视场内每一点的零光程差位置从而可以实现对存在阶跃形貌的待测元件进行高精度的测量。传统的短相干光干涉测量技术依靠压电陶瓷等扫描器件,按照预先设定的扫描步长在一定深度的范围内对待测元件进行扫描,扫描的过程中记录每个步长下待测视场内所有点的干涉光强值,待扫描结束后计算视场内每个点在整个扫描过程中对比度的变化情况,将对比度为最大情况下对应的扫描步数定位为零光程差位置,之后与预先设定的步长值相乘得到视场内每个点对应的高度值,最终得到待测元件的三维形貌。在此过程中从对比度变化曲线中提取零光程差位置时常采用极值法、重心法、最小二乘法拟合等算法,但在对扫描采集的干涉图处理的过程中,由于对比度信号的提取以及对比度最大位置的确定都存在算法原理性的误差,导致传统的短相干光 ...
【技术保护点】
1.一种高精度短相干光三维形貌快速测量算法,其特征在于,方法步骤如下:步骤1、在干涉图像采集的过程中,在指定总行程内进行相位步进量为π/2的时序垂直扫描,且每进行一次扫描由CCD记录一幅干涉图像;转入步骤2和步骤3;步骤2、在时序垂直扫描记录干涉图像的同时对采集得到的干涉图像进行对比度的计算,得到视场中每一个像素点关于所有干涉图像的对比度变化信号;再对所有像素点的对比度变化信号进行重心法处理,得到视场中所有像素点对比度最大位置,即对应扫描步数的垂直扫描粗相位fv(x,y),转入步骤4;步骤3、在时序垂直扫描记录干涉图的同时对采集得到的干涉图像进行正交解调算法处理,得到视场中所有像素点的相位信号;接下来将相位信号除以相位步进量得到视场中所有像素点的高精度零光程差位置即对应扫描步数的移相扫描精相位fp(x,y),转入步骤4;步骤4、将对应扫描步数的垂直扫描粗相位与对应扫描步数的移相扫描精相位做差,即fv(x,y)‑fp(x,y),得到中间变量,对其进行4的倍数取整计算得到形貌中间变量fr(x,y),将形貌中间变量与对应扫描步数的移相扫描精相位fp(x,y)相加得到对应扫描步数的三维形貌fh ...
【技术特征摘要】
1.一种高精度短相干光三维形貌快速测量算法,其特征在于,方法步骤如下:步骤1、在干涉图像采集的过程中,在指定总行程内进行相位步进量为π/2的时序垂直扫描,且每进行一次扫描由CCD记录一幅干涉图像;转入步骤2和步骤3;步骤2、在时序垂直扫描记录干涉图像的同时对采集得到的干涉图像进行对比度的计算,得到视场中每一个像素点关于所有干涉图像的对比度变化信号;再对所有像素点的对比度变化信号进行重心法处理,得到视场中所有像素点对比度最大位置,即对应扫描步数的垂直扫描粗相位fv(x,y),转入步骤4;步骤3、在时序垂直扫描记录干涉图的同时对采集得到的干涉图像进行正交解调算法处理,得到视场中所有像素点的相位信号;接下来将相位信号除以相位步进量得到视场中所有像素点的高精度零光程差位置即对应扫描步数的移相扫描精相位fp(x,y),转入步骤4;步骤4、将对应扫描步数的垂直扫描粗相位与对应扫描步数的移相扫描精相位做差,即fv(x,y)-fp(x,y),得到中间变量,对其进行4的倍数取整计算得到形貌中间变量fr(x,y),将形貌中间变量与对应扫描步数的移相扫描精相位fp(x,y)相加得到对应扫描步数的三维形貌fh(x,y),转入步骤5;步骤5、将对应扫描步数的三维形貌fh(x,y)进行阶跃形貌处蝙蝠翼效应存在与否的判断,若判断存在蝙蝠翼效应则采用蝙蝠翼校正算法进行阶跃形貌处蝙蝠翼效应的校正,得到去除蝙蝠翼效应的对应扫描步数的三维形貌,转入步骤6;若判断不存在蝙蝠翼效应,对应扫描步数的三维形貌fh(x,y)即为高精度大量程三维形貌;步骤6、将去除蝙蝠翼效应的对应扫描步数的三维形貌乘以对应相位步进量的步长距离得到高精度大量程三维形貌。2.根据权利要求1所述的高精度短相干光三维形貌快速测量算法,其特征在于:所述步骤1中,指定总行程根据所需干涉图像的数量与相位步进量为π/2时对应的步长距离的乘积进行设定。3.根据权利要求1所述的高精度短相干光三维形貌快速测量算法,其特征在于:所述步骤2中,在时序垂直扫描并记录干涉图的过程中,当存储至第7幅图干涉图时,由第1幅图至第7幅图形成7幅干涉图序列,利用对比度算法计算第4幅干涉图的对比度,当存储至第8幅图干涉图时,由第2幅图至第8幅图形成7幅干涉图序列,利用对比度算法计算第5幅干涉图的对比度,以后每多存储一幅干涉图,即形成新的一组7幅干涉图序列,据此计算对应的该幅干涉图的对比度,在时序垂直扫描的过程中以此类推计算所有干涉图的对比度;视场中某像素点对应一幅干涉图的对比度M(i)计算表达式如下:其中,i为干涉图像的序号,Ii为该像素点在第i幅干涉图像的光强,算法共选取视场中某一像素点对应第i幅干涉图像及其前后对称的共计7幅干涉图像进行该像素点在第i幅干涉图像中对比度的计算,接下来根据同样的方法对视场中所有像素点进行对比度的计算;由于在采集干涉图并进行计算的过程中,前三幅和后三幅干涉图的对比度未进行计算,所以对这些图像中所有像素点的对比度全部置为0,对所有干涉图像采集完成的同时可以得到视场中每个像素点的对比度变化信号。4.根据权利要求1所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:袁群,孙一峰,高志山,于颢彪,黄旭,胡乔伟,徐伟,施帅飞,
申请(专利权)人:南京理工大学,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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