【技术实现步骤摘要】
用于显示面板的检测设备
本揭示涉及显示
，特别涉及一种用于显示面板的检测设备。
技术介绍
现有测试器件群(testelementgroup,TEG)可以用来测量显示面板的电阻、电容及薄膜晶体管(thinfilmtransistor,TFT)的电流-电压特性，但是现有测试器件群的测量误差大，导致难以通过现有测试器件群的测量结果来分辨所述显示面板的异常。故，有需要提供一种用于显示面板的检测设备，以解决现有技术存在的问题。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本揭示的一目的在于提供用于显示面板的检测设备，其可以提升用于显示面板的检测精度和检测功能。为达成上述目的，本揭示提供一用于显示面板的检测设备。所述用于显示面板的检测设备包括测试器件群、示波器、点灯机以及镭射机。所述示波器连接所述测试器件群。所述点灯机配置成用于连接显示面板。所述镭射机设置在所述测试器件群的一侧。于本揭示其中的一实施例中，所述点灯机配置成用于连接所述显示面板的电路板接口。于本揭示其中的一实施例中，所述测试器件群包括至少一底座及设置在所述底座上的探针。于本揭示其中的一实施例中，所述探针配置成...
【技术保护点】
1.一种用于显示面板的检测设备，其特征在于，包括:测试器件群；示波器，连接所述测试器件群；点灯机，配置成用于连接显示面板；以及镭射机，设置在所述测试器件群的一侧。
【技术特征摘要】
1.一种用于显示面板的检测设备，其特征在于，包括:测试器件群；示波器，连接所述测试器件群；点灯机，配置成用于连接显示面板；以及镭射机，设置在所述测试器件群的一侧。2.如权利要求1所述的用于显示面板的检测设备，其特征在于，所述点灯机配置成用于连接所述显示面板的电路板接口。3.如权利要求1所述的用于显示面板的检测设备，其特征在于，所述测试器件群包括至少一底座及设置在所述底座上的探针。4.如权利要求3所述的用于显示面板的检测设备，其特征在于，所述探针配置成用于连接所述显示面板。5.如权利要求3所述的用于显示面板的检测设备，其特征在于，还包括转接线，所述示波器通过所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘军正，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
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