【技术实现步骤摘要】
一种高精度雷达物位计
本专利技术涉及仪器仪表领域，尤其涉及一种可自动清理天线表面灰尘的雷达物位计。
技术介绍
雷达物位计是采用微波脉冲的测量方法对料仓内物料进行物位测量的仪器，可安装于各种金属、非金属容器或管道内，对液体、浆料及颗粒料的物位进行非接触式连续测量。适用于粉尘、温度、压力变化大，有惰性气体及蒸汽存在的场合。雷达物位计具有对人体及环境均无伤害，不受介质比重的影响，不受介电常数变化的影响，不需要现场校调等优点，不论是对工业需要，还是对顾客经济实惠的考虑，都是不错的选择。但是被测介质的产生的灰尘会在天线上聚集，此时会影响雷达波的发射，严重时雷达波甚至不能发出，从而影响正常的生产工作。
技术实现思路
为了克服雷达物位计在工作过程中，测量介质产生的灰尘会在天线上聚集，影响测量精度的问题，本专利技术提供一种高精度雷达物位计，该种高精度雷达物位计在表面灰尘过多时，可自动清理灰尘，从而保证测量工作准确的进行。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种高精度雷达物位计，包括雷达物位计本体、控制器和空压机，所述控制器设于料仓顶部，所述雷达物位计本体与料仓连接处设有高精度...
【技术保护点】
1.一种高精度雷达物位计，包括雷达物位计本体、控制器和空压机，其特征是：所述控制器设于料仓顶部，所述雷达物位计本体与料仓连接处设有高精度质量传感器，所述高精度质量传感器与控制器相连，所述控制器包括储存芯片，所述雷达物位计本体上部的料仓上固定有外喷气环，所述外喷气环为中空结构，所述外喷气环上设有若干喷嘴，所述外喷气环通过气管与空压机相连，所述雷达物位计本体上设有天线罩，所述天线罩内设有雷达波发射器，所述天线罩内壁上设有内喷气环支架，所述内喷气环支架上设有内喷气环，所述内喷气环为中空结构，所述雷达波发射器位于内喷气环上方，所述内喷气环上设有若干喷气孔，所述内喷气环支架为中空结构...
【技术特征摘要】
1.一种高精度雷达物位计，包括雷达物位计本体、控制器和空压机，其特征是：所述控制器设于料仓顶部，所述雷达物位计本体与料仓连接处设有高精度质量传感器，所述高精度质量传感器与控制器相连，所述控制器包括储存芯片，所述雷达物位计本体上部的料仓上固定有外喷气环，所述外喷气环为中空结构，所述外喷气环上设有若干喷嘴，所述外喷气环通过气管与空压机相连，所述雷达物位计本体上设有天线罩，所述天线...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈雪中，陈光远，
申请(专利权)人：江苏华尔威科技集团有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。