一种辐照后板型元件厚度测量专用夹具制造技术

本发明专利技术公开了一种辐照后板型元件厚度测量专用夹具，解决了现有技术中的采用单测头测量不平整的板型元件时会产生较大的厚度测量误差，进而影响测量结果准确性的问题。本发明专利技术包括测量架，设置在测量架上用于放置辐照后板型元件的测量台面；所述测量台面上设置有测量通槽，所述测量台面下方设置有第一电感测头夹头，该第一电感测头夹头的测尖穿过测量通槽与测量台面的上平面位于同一平面内；所述测量台面上方还设置有第二电感测头夹头，以及用于将第二电感测头夹头下降到辐照后板型元件上表面的高度调节装置。本发明专利技术可以提高测量准确性，并确保测量时两个测头之间夹持力的一致性，使测量结果具有较高的重复性。

【技术实现步骤摘要】
一种辐照后板型元件厚度测量专用夹具
本专利技术涉及核辐照检验领域，具体涉及一种辐照后板型元件厚度测量专用夹具。
技术介绍
辐照后的板型燃料元件由于具有较强的放射性，需要在热室(专用进行高放射性试验和操作的屏蔽试验室)内利用机械手远距离操作进行相关的辐照后检验。板型燃料元件辐照前后的厚度变化值对于分析燃料元件的辐照肿胀及失效行为非常重要。电感测微仪作为热室内比较常用的接触式尺寸测量方法之一，测量精度很高。采用电感测微仪测量厚度时，需要保证两个电感测头接触板型元件表面，并且两个电感测头的测尖在同一竖直位置。现有技术中为了达到采用电感测微仪进行厚度测量的目的，在进行辐照后板型元件厚度测量时，通常使板型元件保持竖直状态，然后借助特殊的工装夹具将电感测头接触板型元件表面，这种测量方法往往采用单测头，而辐照后的板型元件表面并不十分平整，因此采用单测头测量时会产生较大的厚度测量误差。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：现有技术中的采用单测头测量不平整的板型元件时会产生较大的厚度测量误差，进而影响测量结果准确性的问题，本专利技术的目的在于提供一种辐照后板型元件厚度测量专用夹具，其可以方便地在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种辐照后板型元件厚度测量专用夹具，包括测量架，设置在测量架上用于放置辐照后板型元件的测量台面(5)；其特征在于，所述测量台面(5)上设置有测量通槽(8)，所述测量台面(5)下方设置有第一电感测头夹头(4)，该第一电感测头夹头(4)的测尖刚好穿过测量通槽(8)与测量台面(5)的上平面位于同一平面内；所述测量台面(5)上方还设置有第二电感测头夹头(9)，以及用于将第二电感测头夹头(9)下降到辐照后板型元件上表面的高度调节装置。

【技术特征摘要】
1.一种辐照后板型元件厚度测量专用夹具，包括测量架，设置在测量架上用于放置辐照后板型元件的测量台面(5)；其特征在于，所述测量台面(5)上设置有测量通槽(8)，所述测量台面(5)下方设置有第一电感测头夹头(4)，该第一电感测头夹头(4)的测尖刚好穿过测量通槽(8)与测量台面(5)的上平面位于同一平面内；所述测量台面(5)上方还设置有第二电感测头夹头(9)，以及用于将第二电感测头夹头(9)下降到辐照后板型元件上表面的高度调节装置。2.根据权利要求1所述的一种辐照后板型元件厚度测量专用夹具，其特征在于，所述高度调节装置包括竖直设置在测量架上的螺纹杆(1)，套接在螺纹杆(1)上的外套筒(10)，安装在螺纹杆(1)上用于限制外套筒(10)在螺纹杆(1)上高度的可调节螺母(2)；所述第二电感测头夹头(9)通过测头支杆(3)固定在外套筒(10)上。3.根据权利要求2所述的一种辐照后板型元件厚度测量专用夹具，其特征在于，所述螺纹杆(...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈哲，熊源源，余飞杨，傅源杰，江林志，尹春艳，高艮涛，
申请(专利权)人：中国核动力研究设计院，
类型：发明
国别省市：四川,51