用于分析由活检取得的样本的设备制造技术

一种用于对由活检取得的样本进行分析的设备(1)和方法，其使得能够在患者仍处于取样位置的情况下对这些样本进行分析，从而使整个获取和分析样本的过程更快，减少对患者的不便和新检查的风险，并且还减少了患者暴露于X射线的大多数情况。

Equipment for analysing samples obtained by biopsy

A device (1) and method for the analysis of samples obtained from biopsy enables the analysis of these samples while the patient is still in the sampling position, thus speeding up the whole process of acquisition and analysis of the samples, reducing the inconvenience to the patient and the risk of new examination, and also reducing the majority of cases in which the patient is exposed to X-rays.

【技术实现步骤摘要】
用于分析由活检取得的样本的设备
本专利技术涉及一种用于对由活检取得的样本进行分析的设备和方法，其使得能够在患者仍处于取样位置的情况下对这些样本进行分析，从而使整个获取和分析样本的过程更快，减少对患者的不便和新检查的风险，并且还减少了患者暴露于X射线的大多数情况。
技术介绍
目前，为了对患者体内被识别为可疑病变进行活检取样，在病变是不透射线时的可能性之一是利用用于对患者身体的至少一部分进行X射线分析的设备，通过该设备对患者身体的该部分中的可疑病变进行研究。当已在X射线图像中发现可疑病变时，借助于进一步的X射线图像(指向)确定其位置，并且进行借助于活检取得一个或多个样本的步骤，以对部分或所有可疑病变进行取样，以便随后通过细胞学或组织学检查进行分析。在借助于活检取样的步骤期间或至少在患者离开之前，较佳的做法是通过X射线对已采集的样本进行检查，以确认样品含有与患者图像中被认为可疑的相同解剖学元素，并确认确定病变位置及其取样的程序已因此而成功完成。在无法预料事件的情况下，该检查允许立即重复指向，而不必为患者安排新的预约，并且减小了由于基于不正确的取样的样本的生物分析而导致误诊的风险。可以利用专门用于此目的的其它设备或者借助于相同类型的设备来执行X射线检查，其中，已识别出可疑病变，但总是与进行指向的设备分离。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种用于对由活检查取得的样本进行分析的设备和/或方法，其允许用同一设备进行分析，其中，当患者仍处于取样位置时，该设备进行指向和取样而不需要患者在分析步骤期间采取不舒服的位置或者必须抽出针以从患者取样。除了对患者的益处以外，对两个过程(对随后的取样指向的过程和对样本检查的过程)使用同一系统确保了相同质量的结果，由此确保了两种分析(识别取样目标的分析和检查取样样本中存在目标的分析)结果的一致性。本专利技术的另一目的在于提供一种用于对由活检取得的样本进行分析的设备和/或方法，其允许在患者仍处于取样和限制位置时进行这些分析，(例如，最小化或者完全避免)患者身体在借助于该设备进行样本分析的步骤期间不必要地暴露于X射线。通过一种设备或借助于一种方法来实现这些目的，该设备至少具有与该设备相关的根据所附权利要求1至10中任一项所述的特征，该方法至少具有根据所附权利要求11的方法的特征。根据本专利技术的设备和根据本专利技术的方法的特征将从以下涉及设备的可能实施例的详细描述、以及借助于所主张概念的非限制性示例给出的方法的可能实施例变得更清楚。附图说明以下详细描述参照了附图，其中：图1是根据本专利技术可能实施例的立体图；图2是图1所示设备的侧视图；图3至图5示出了图1-图2所示设备的主视图，其中，设备的稳定元件为第一类型且分别采用三个不同的位置；图6和图7示出了图1-图2所示设备的主视图，其中，该设备的活检探针分别采用两个不同的位置；图8示意地图示出了第一操作工况和第二操作工况，其可以采用使用图1-图2所示设备产生的X射线场；图9示意地图示出了X射线场所采用第三操作工况；图10是图1和图2所示设备的支承面的俯视图，以在支承面上分别示出采用第一操作工况和第二操作工况时场所撞击(strike)的表面部分；图11是相对于用于选择X射线场的操作工况的可能处理的流程图，其可以通过图1和图2所示设备自动进行。具体实施方式在附图中，标号1表示根据本专利技术的设备的可能实施例。设备1构造成用于对样本进行分析。这些样本应被认为是取自人体的一部分。设备包括用于这些样本的支承件11。支承件11限定支承面111。支承面111被设计成用于将样本定位在支承面111上。设备1包括用于产生X射线场的系统12。产生系统12构造成用于产生X射线场。产生系统12构造成使得X射线场可以采用多种不同的操作工况。设备包括X射线探测器13。探测器13限定探测面131。探测器13构造成探测入射在探测面131上的X射线图像。设备1构造成当X射线场采用任意操作工况时，X射线场的X射线在撞击支承面111之后撞击探测面131。以此方式，并借助于支承件11的构造，设备1构造成当X射线场采用任意操作工况并且任意物体位于X射线场内和支承面111上时，设备1可以借助于产生系统12和探测系统13执行对任意物体的至少一幅X射线图像的获取。由于任意物体都可以被认为是对应于上述样本，因而这意味着设备1允许在样本位于支承面111上且位于X射线场内的情况下获取样本的至少一幅X射线图像。产生系统12构造成：对于X射线场相对于探测面131的取向和/或位置和/或至少X射线场的尺寸值，操作工况互不相同。在设备1的示例性使用中，X射线场可以被认为是锥形(cone)X射线。图8中的C1表示采用第一示例性操作工况时的X射线场，并且C2表示采用第二示例性操作工况时的X射线场。图9中的C3则表示采用第三示例性操作工况时的X射线场。在图8和图9中，根据设备1的主视图示出了支承面111和探测面131的轮廓。应当注意的是，尽管从图3到图9的所有图都是设备1的主视图，但图8和图9仅示出了设备1的一些部件。另外，设备1的部件在图8和图9中示意地示出，以便对这些部件的相互位置的可能差异进行说明。能够定义与探测面131一体的参照系。该参照系由一组三轴限定，其中第一轴线Z和第二轴线Y定位和/或位于探测面131上。第一轴线Z和第二轴线Y借助于图10中的相应部分示出。第一轴线Z的点也在图4中示出。与探测面131一体的参照系的原点在图10和图4中标记为“o”。未在图中示出的参照系的第三轴线与第一轴线Z及第二轴线Y成直角。为产生X射线场，产生系统12包括X射线源121。该X射线源121在图8和图9中示意地表示为点。X射线源121可以产生X射线，该X射线被设计成引起X射线场。为确保X射线场可以采用多个操作工况中的一个或其它操作工况，并由此确保其可以采用这些操作工况，产生系统12包括准直器和运动系统。运动系统在图1至图7中标记为23。参照与探测面131一体的上述参照系，X射线源121的位置可以被认为是“X射线源121相对于探测面131的位置”。产生系统12构造成使得运动系统23可以引起X射线源121运动，使得该X射线源121可以相对于探测面131采用多个不同的位置。在图8中，在标记为C1的场的顶点处表示的X射线源121相对于探测面131位于第一位置。在图8中，在标记为C2的场的顶点处表示的X射线源121相对于探测面131位于第二位置。在图9中，即使X射线场采用标记为C3的第三操作工况，并且操作工况不同于图8的操作工况C1，X射线源121也位于上述第一位置。X射线源121的该运动例如可以沿着弯曲轨迹进行。产生系统12构造成使得准直器可以采用分别与多种准直模式相关联的多个操作构造。相应的多种准直模式中的每种模式与准直器的操作构造中的相应一种构造相关联，并且从准直器采用相应操作构造的实践中导出。产生系统12构造成使得准直器可以跟随X射线源121的运动。产生系统12构造成：当准直器采用这些操作构造中的任一构造时，并且当X射线源121采用该X射线源12相对于探测面131的这些位置中的任一位置时，根据与准直器所采用的操作构造相关联的准直模式，准直器被调节成允许由X射线源121发射的X射线通过，从而限定X射线场所采用的操作工况。结果，X射线场本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于对从人体的一部分提取的样本进行分析的设备(1)，包括：支承件(11)，所述支承件(11)限定支承面(111)，所述支承面(111)用于所述样本在所述支承面(111)上的定位；用于产生X射线场的产生系统(12)，所述产生系统(12)构造成产生X射线场，所述产生系统(12)构造成使得所述X射线场能够采用多个不同的操作工况；X射线探测器(13)，所述X射线探测器(13)限定探测面(131)并构造成探测撞击所述探测面(131)的X射线的图像，所述设备构造成当所述X射线场采用任意操作工况时，所述X射线场的X射线在撞击所述支承面(111)之后撞击所述探测面(131)，使得当所述X射线场采用任意操作工况并且所述样本位于所述X射线场内和所述支承面(111)上时，所述设备能够借助于所述产生系统(12)和探测系统(13)执行对样本的至少一幅X射线图像的获取；支承件(14)，所述支承件(14)限定支承面(141)，所述支承面(141)用于将人体的一部分搁置在所述支承面(141)上；稳定元件(15)，所述稳定元件(15)沿着延伸面(151)延伸以使元件稳定，所述设备(1)构造成使得所述稳定元件(15)能够使人体的一部分在上述支承面(141)上的定位稳定，以便执行所述样本的取样；活检探针(16)，所述探针(16)执行取样；以及自动选择系统(17)；其中：所述产生系统(12)构造成：对于所述X射线场相对于所述探测面(131)的取向和/或位置和/或至少所述X射线场的尺寸值，所述操作工况互不相同；所述设备(1)构造成使得所述选择系统(17)能够自动获取以下参数中的至少一个参数：所述稳定元件(15)相对于所述探测面(131)的当前位置、所述探针(16)相对于所述探测面(131)的当前位置、所述稳定元件(15)的尺寸、所述探针(16)的尺寸；所述选择系统(17)构造成根据所述至少一个参数自动执行对所述X射线场的操作工况之一的选择，选定操作工况与所述支承面(111)的选定表面部分相关联，所述选定表面部分是当采用所述选定操作工况时供所述X射线场撞击的表面部分；所述选择系统构造成用于执行选择以对如下影响加以限制：当所述X射线场采用所述选定操作工况并且样本位于所述X射线场内和所述支承面(111)上时，所述至少一个参数对借助于所述产生系统(12)和探测系统(13)获取所述样本的至少一幅X射线图像的准确度的影响。...

【技术特征摘要】
2017.10.27 IT 1020170001225881.一种用于对从人体的一部分提取的样本进行分析的设备(1)，包括：支承件(11)，所述支承件(11)限定支承面(111)，所述支承面(111)用于所述样本在所述支承面(111)上的定位；用于产生X射线场的产生系统(12)，所述产生系统(12)构造成产生X射线场，所述产生系统(12)构造成使得所述X射线场能够采用多个不同的操作工况；X射线探测器(13)，所述X射线探测器(13)限定探测面(131)并构造成探测撞击所述探测面(131)的X射线的图像，所述设备构造成当所述X射线场采用任意操作工况时，所述X射线场的X射线在撞击所述支承面(111)之后撞击所述探测面(131)，使得当所述X射线场采用任意操作工况并且所述样本位于所述X射线场内和所述支承面(111)上时，所述设备能够借助于所述产生系统(12)和探测系统(13)执行对样本的至少一幅X射线图像的获取；支承件(14)，所述支承件(14)限定支承面(141)，所述支承面(141)用于将人体的一部分搁置在所述支承面(141)上；稳定元件(15)，所述稳定元件(15)沿着延伸面(151)延伸以使元件稳定，所述设备(1)构造成使得所述稳定元件(15)能够使人体的一部分在上述支承面(141)上的定位稳定，以便执行所述样本的取样；活检探针(16)，所述探针(16)执行取样；以及自动选择系统(17)；其中：所述产生系统(12)构造成：对于所述X射线场相对于所述探测面(131)的取向和/或位置和/或至少所述X射线场的尺寸值，所述操作工况互不相同；所述设备(1)构造成使得所述选择系统(17)能够自动获取以下参数中的至少一个参数：所述稳定元件(15)相对于所述探测面(131)的当前位置、所述探针(16)相对于所述探测面(131)的当前位置、所述稳定元件(15)的尺寸、所述探针(16)的尺寸；所述选择系统(17)构造成根据所述至少一个参数自动执行对所述X射线场的操作工况之一的选择，选定操作工况与所述支承面(111)的选定表面部分相关联，所述选定表面部分是当采用所述选定操作工况时供所述X射线场撞击的表面部分；所述选择系统构造成用于执行选择以对如下影响加以限制：当所述X射线场采用所述选定操作工况并且样本位于所述X射线场内和所述支承面(111)上时，所述至少一个参数对借助于所述产生系统(12)和探测系统(13)获取所述样本的至少一幅X射线图像的准确度的影响。2.如权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，所述选择系统(17)构造成通过使所述选定表面部分高亮来产生信号，所述信号被设计成将所述选定操作工况发信号给用户。3.如权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，所述选择系统(17)构造成控制所述产生系统(12)，以使所述X射线场采用所述选定操作工况。4.如权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，所述支承面(111)与所述支承面(141)重合。5.如权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，所述设备(1)构造成使得所述选择系统(17)能够获取所述稳定元件(15)的尺寸和所述稳定元件(15)的当前位置；其中，所述选择系统(17)构造成使得以下实践取决于所述稳定元件(15)的尺寸：至少根据所述稳定元件(15)的所述当前位置执行所述选择的实践；或者根据所述稳定元件的所述当前位置不执行所述选择的实践。6.如权利要求5所述的设备(1)，其特征在于，所述设备包括识别系统，通过所述识别系统，所述选择系统(17)能够知晓所述稳定元件(15)的类型，并因此获取所述稳定元件(15)的尺寸。7.如权利要求5或6所述的设备(1)，其特征在于，所述设备(1)构造成使得所述稳定元件(15)能够相对于所述探测...

【专利技术属性】
技术研发人员：S·维奇奥，P·维格诺里，
申请(专利权)人：IMS吉奥托股份公司，
类型：发明
国别省市：意大利,IT